天线测量空间扫描平面误差补偿方法

文档序号:6215297阅读:232来源:国知局
天线测量空间扫描平面误差补偿方法
【专利摘要】本发明提出了在天线平面近场测试中,使用微动补偿平台系统,解决扫描平面误差补偿的方法及实例。由微驱动台、导轨、滑块以及固定件,加上驱动器,PC机构成了微动补偿平台系统,实现在几十微米范围内,以nm精度的分辨率进行步进,实现开闭环控制,可以很好地解决,因机械精度的局限性,而导致的难以满足在毫米波、亚毫米波天线平面近场测试系统中,对于扫描空间平面度更高要求的问题。此外,提出了实现误差补偿的软件控制方法,即Zi=f(x+Δx,y+Δy,v)。
【专利说明】天线测量空间扫描平面误差补偿方法
【技术领域】[0001]本发明涉及天线近场测试领域,尤其在毫米波天线平面近场测试中,对于扫描仪引起的平面误差进行补偿,采用微动补偿平台系统,实现直至纳米级分辨率精度的补偿。
【背景技术】
[0002]在毫米波天线平面近场测试中,由扫描平面误差引起的相位变化,会对天线测试的远场特性,带来很大的影响。为了解决这一问题,通常要求扫描的空间平面误差^ λ/100mmη
[0003]当进入毫米波、亚毫米波频段时,仅凭扫描仪X、y轴水平直线度的精度,以及X,y轴垂直度的精度,来进一步提高空间扫描的平面度精度,是不可能的。因为机械加工及安装调试精度存在局限性,所以难以达到,因此需要通过增加Z轴补偿的方法加以解决。

【发明内容】

[0004]本发明以微驱动台为核心,由导轨、滑块等机构附件,驱动器及PC机,组成微动补偿平台系统,作为实现z轴补偿的硬件基础,通过软件控制,使在整个探头负载,沿x,y方向移动时,能随动地在几十微米范围内,以纳米级的分辨率进行步进,及时响应z轴误差补偿的要求。
[0005]本发明的特点:在于通过加装在z轴上的微动补偿平台系统,产生的微动位移量,实现z轴补偿,从而获得更高精度空间平面度的结果。此外,在补偿响应上,可以达到kHz水平,因此,在需要获得高速扫描时,优势明显。
[0006]本发明控制精度高、重量轻、结构简单、响应速度快、承载力大。
【专利附图】

【附图说明】
[0007]下面结合附图和实例对本发明设计作进一步说明。
[0008]图1是微动补偿平台系统总体结构图。其中:1、上托板,与微驱动平台固定,承托着需要微动的整体构件用于补偿,比如极化台、鼠龙、探头等;2、滑块,与1固定,同其他三个一道,支撑整个微动构件,起着分摊重量及润滑移动的作用;3、挡板;4,微驱动台,可以作一维方向的前后移动,实现纳米级分辨率精度的控制;5、导轨,与滑块共同构成滑动支撑机构;6、连接托架,与扫描运动机构固定,形成整个系统的基础支撑。
[0009]图2是微动补偿平台系统总体结构剖面图。
[0010]图3是微驱动台结构图。A、台面,B、底座
[0011]图4是微动补偿平台控制系统图。
【具体实施方式】
[0012]在图1中,本发明使用的微驱动台,即图中4所示,由台面,即图3中A所示,和底座,g卩图3中B所示,及控制电路所组成。平台承载最大100N,移动方向最大推力/拉力600/200N,开环/闭环控制时,行程范围30微米,使用专有驱动器,开环控制时的分辨率为
0.6纳米,闭环控制时的分辨率为2纳米,空载响应频率为3.3kHz。
[0013]微驱动台的台面,即图3中A所示,与上托板,即图1中1所示,通过4-M3的螺钉实现固定,形成整体,使得当微驱动台微动时,上托板随之而动。
[0014]因考虑在上托板上需要承载其他机构,比如,测试转换机构等,利用导轨、滑块,即图1中5和2所示,可将过多的承重负载分摊掉。使用四个滑块与上托板通过螺钉固定,这样,既可以保证微驱动台有效的工作,又能获得良好的机械响应。
[0015]在进行误差补偿时,根据平面度误差精度要求,通过微动补偿平台系统的控制,实现误差补偿的目的。
[0016]下面举例介绍误差补偿的方法:
[0017]比如,在一个3X3的扫描空间中,总共有9个点位,坐标分别为(x0, yO, zO)、(xl,yO, zl)、(x2, yO, z2)、(xO, yl, z3)、(xl, yl, z4)、(x2, yl, z5)、(xO, y2, z6)、(xl, y2, z7)、(x2, y2, z8),如果以水平方式,即按(xO, yO, z0)、(xl, yO, zl)、(x2, yO, z2)、(x2, yl, z5)、(xl, yl, z4)、(xO, yl, z3)、(xO, y2, z6)、(xl, y2, z7)、(x2, y2, z8)顺序扫描,假设所有 x、y方向上的位置误差为零,而z向上的误差集合为(z0, zl, z2, z3, z4, z5, z6, z7, z8),则可以通过建立数学模型或列表方式,确定微驱动台的控制量,使得与X、y形成随动关系,即有关系式Zi = f (xi, yi, v)其中v是扫描速度,用于确定从第i个点到第i+Ι个点进行补偿时的响应时间,也就是说,要保证从第1个点补偿完之后,到达第2个点时,正好能补偿到位,以此类推,i = 0-8。
[0018]但是,当X、y方向上存在位置误差,并且进行了补偿时,则上述关系式变为Zi =f(x+Ax,y+Ay,v),其中,Δχ和Δ y分别为x、y方向上的位置补偿值。
【权利要求】
1.使用微驱动台或者类似机构,用于天线近场测试扫描平面度误差补偿。
2.根据权利要求1所述方法,其结构特征是,由微驱动台作为驱动源,导轨及滑块构成承载支撑,带动天线探头以及相关附件,比如转换器、鼠龙、极化台、直线平台等,沿z轴方向或扫描平面法线方向位移,控制范围在几十微米以内,以纳米分辨率精度进行步进,用于误差补偿。
3.根据权利要求1所述方法,其特征是,利用微动补偿平台系统实现开环/闭环控制,实现平面度误差补偿。
【文档编号】G01R15/00GK103698617SQ201410004002
【公开日】2014年4月2日 申请日期:2014年1月6日 优先权日:2014年1月6日
【发明者】姚跃吾, 孙跃东, 张迎庆 申请人:南京顺仕祥电子有限公司
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1