一种电压模式的thz单元测试电路的制作方法

文档序号:6241374阅读:223来源:国知局
一种电压模式的thz单元测试电路的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种电压模式的THZ单元测试电路,属于THZ单元测试电路【技术领域】,包括:第一级放大电路和后级的电压跟随电路,以及第二级运放电路。通过该电路将数据放大之后,便于测试。第二级起隔离作用,防止第一级和第二级调节电压时的相互干扰。
【专利说明】—种电压模式的THZ单元测试电路

【技术领域】
[0001]本发明主要用于THZ单元测试电路,能够将THZ单元电压放大,便于提取放大。

【背景技术】
[0002]在很多场合人们往往需要了解THZ源辐射强弱,以及便于调节THZ功率源的大小。这种电路基于热释电的原理将THZ光源转换成便于测量的皮安级的电流经过多级运放转换成便于测量的电压,原理图如图1所示。


【发明内容】

[0003]本发明的目的在于提供一种电压模式的THZ单元测试电路,以解决上述问题。
[0004]为实现本发明目的,采用的技术方案为:一种电压模式的THZ单元测试电路,包括:第一级放大电路和后级的电压跟随电路,以及第二级运放电路。
[0005]进一步地,在第一级放大电路中加参考电压。
[0006]进一步地,在第二级运放电路前设置数字滤波器。
[0007]本发明的有益效果是,通过该电路将数据放大之后,便于测试。第二级起隔离作用,防止第一级和第二级调节电压时的相互干扰。

【专利附图】

【附图说明】
[0008]图1是现有技术中的原理图;
图2是本发明提供的电压模式的THZ单元测试电路的原理图。

【具体实施方式】
[0009]下面通过具体的实施例子并结合附图对本发明做进一步的详细描述。
[0010]图1、图2示出了本发明提供的电压模式的THZ单元测试电路,包括:第一级放大电路和后级的电压跟随电路,以及第二级运放电路。
[0011]可优选在第一级放大电路中加参考电压。在第二级运放电路前设置数字滤波器。
[0012]OUTA为第一级放大电路,0UTA-0UTAI为电压跟随电路,OUTA1-OUTB为第二级运放电路。所有的放大电路可以根据芯片说明选择是否加参考电压。第二级起隔离作用,防止第一级和第二级调节电压时的相互干扰。
[0013]芯片选择后,选择电路的电容电阻时要根据f=l/(RC)并串联构造通频带。防止50HZ的干扰时可以在第二级级加上数字滤波器。
[0014]经过THZ标准源校正后能够准确的测定THZ源的大小。
[0015]以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种电压模式的THZ单元测试电路,其特征在于,包括:第一级放大电路和后级的电压跟随电路,以及第二级运放电路。
2.根据权利要求1所述的电压模式的THZ单元测试电路,其特征在于,在第一级放大电路中加参考电压。
3.根据权利要求1所述的电压模式的THZ单元测试电路,其特征在于,在第二级运放电路前设置数字滤波器。
【文档编号】G01J1/44GK104296865SQ201410482068
【公开日】2015年1月21日 申请日期:2014年9月19日 优先权日:2014年9月19日
【发明者】黎威志, 李宁亮, 杨光金, 樊霖 申请人:电子科技大学
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