技术总结
本发明公开了一种纳米线压电系数d33的测量装置及测量方法，所述测量装置与水平放置的纳米线(1)连接，所述测量装置包括：电极单元(2)，用于连接所述纳米线(1)的两个接触点，使所述纳米线的两个接触点处的电势相同；位移检测单元(3)，用于接触所述纳米线的两接触点之间的任意位置，在位移检测单元(3)与电极单元(2)之间存在电压差时，检测所述纳米线(1)的横向位移；以及信号处理单元(4)，分别连接所述电极单元(2)和位移检测单元(3)，用于根据所述电极单元与位移检测单元之间的电压差以及所述横向位移，得到所述纳米线的压电系数。本发明纳米线压电系数d33的测量装置可避免纳米线两端引线电极的束缚，提高测量的准确度。
技术研发人员：秦勇;刘书海;
受保护的技术使用者：北京纳米能源与系统研究所;
技术研发日：2014.12.17
技术公布日：2016.07.13