基于磁光调制的光谱测量装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种基于磁光调制的光谱测量装置，属于光学测量【技术领域】。本实用新型光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、磁光调制器件、第二偏振片、光探测器。本实用新型还公开了一种使用上述装置的光谱测量方法，首先测量在不同磁场强度下进行磁光调制时光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合光谱测量装置在不同磁场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合、光谱定标，得到待测入射光的光谱。本实用新型具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
【专利说明】基于磁光调制的光谱测量装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种光谱测量装置，属于光学测量【技术领域】。
【背景技术】
[0002]光谱仪是一种重要的光学仪器。它是将光学方法与现代电子数据处理系统相结合，通过获取所研究物质的光谱信息来精确分析物质的结构、成分和含量的基本设备。光谱仪具有分析精度高、测量范围大、速度快等优点，广泛应用于冶金、地质、石油化工、医药卫生、环境保护等领域，也是军事侦察、宇宙探索、资源和水文探测等必不可少的遥感设备(参见文献[李全臣，蒋月娟。光谱仪器原理[M]，北京；北京理工大学出版社，1999])。光谱技术的应用几乎覆盖了所有的科学领域，包括医药、化学、地质学、物理及天文学等，从海洋的底部到遥远的宇宙，光谱仪为我们收集周围世界的信息。
[0003]然而，随着科学技术的迅猛发展，对光谱仪提出了更高的要求。特别是在如地质矿产勘探、微流控和星载分析等一些特殊场合，需要光谱仪能抗振动干扰能力强、光谱测量分辨率高、测量的波长范围大、功耗小和能够快速、实时、直观地获取光谱信号，显然，传统的光谱仪器很难同时达到上述要求。譬如目前商用傅里叶变换光谱仪不仅体积较大、对振动敏感、测量范围主要在红外波段，而且其分辨率受动镜移动范围影响，因此不适于野外等特殊环境测量；而光栅光谱仪分辨率不高，价格也不菲(参见文献[Yang Jae-chang,et al.Micro-electro- mechanical—systems—based infrared spectrometercomposed of mult1-slit grating and bolometer array, Jap.J.0f App1.Phys.47 (8) ,6943-6948 (2008) ])o
[0004]因此，对于光谱仪来说，要求其在具有抗振动的同时能够降低成本，性能上能够达到较高的光谱分辨率，结构简单并且易于制作，用现有的技术很难实现。
实用新型内容
[0005]本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术所存在的成本较高、制作困难、对振动敏感、分辨率不高、波长测量范围较窄等技术问题，提供一种基于磁光调制的光谱测量装置。
[0006]本实用新型的基于磁光调制的光谱测量装置，包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、磁光调制器件、第二偏振片、光探测器。
[0007]进一步地，所述基于磁光调制的光谱测量装置还包括设置于第一偏振片之前的光学准直装置。
[0008]进一步地，所述基于磁光调制的光谱测量装置还包括与所述光探测器信号连接的
计算处理单元。
[0009]更进一步地，所述计算处理单元与所述磁光调制器件的控制端连接，可对磁光调制器件的磁场强度进行控制。
[0010]本实用新型基于磁光调制的光谱测量方法，使用以上任一技术方案所述基于磁光调制的光谱测量装置，包括以下步骤:
[0011]步骤1、将所述光探测器所能探测的频率范围等分为个频宽为Λ/.的频率段，η为大于10的整数，各频率段的中心频率为f” f2, "'fn ；
[0012]步骤2、令待测入射光依次通过第一偏振片、磁光调制器件、第二偏振片，并通过所述磁光调制器件进行/7个不同磁场强度的磁光调制，用这个磁场强度下所述光探测器所探测到的值分别减去环境噪声后，得到一组数值，记为巧，P2,...Pn ；
[0013]步骤3、通过求解以下方程组得到待测入射光中各频率分量/7，f2,...fn的大小产(Z7)，P (/p，…，P ifn):
[0014]
【权利要求】
1.一种基于磁光调制的光谱测量装置，其特征在于，包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、磁光调制器件、第二偏振片、光探测器。
2.如权利要求1所述基于磁光调制的光谱测量装置，其特征在于，还包括设置于第一偏振片之前的光学准直装置。
3.如权利要求2所述基于磁光调制的光谱测量装置，其特征在于，所述光学准直装置包括两个共焦的透镜，以及设置于所述两个透镜之间共同焦点处的小孔光阑。
4.如权利要求1所述基于磁光调制的光谱测量装置，其特征在于，还包括与所述光探测器信号连接的计算处理单元。
5.如权利要求4所述基于磁光调制的光谱测量装置，其特征在于，所述计算处理单元与所述磁光调制器件的控制端连接，可对磁光调制器件的磁场强度进行控制。
【文档编号】G01J3/447GK203719770SQ201420001022
【公开日】2014年7月16日 申请日期:2014年1月2日 优先权日:2014年1月2日
【发明者】杨涛, 许超, 周馨慧, 黄维, 仪明东, 李兴鳌, 何浩培, 刘辉 申请人:南京邮电大学