一种绝压传感器批量调试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种绝压传感器批量调试装置，由压力罐提供一个恒压的调试环境，将至少一个承载多个被测试绝压传感芯片的芯片测试板和/或至少一个承载多个被校准绝压传感器模块的模块校准板通过接口插接的方式与放置于压力罐容纳腔内的调试板座连接，最大限度的扩展了被调试的绝压传感芯片和/或绝压传感器模块的个数，实现了批量调试。
【专利说明】一种绝压传感器批量调试装置
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及压力传感器领域，尤其涉及一种绝压传感器批量调试装置。
【背景技术】
[0002] 压力传感器是工业实践中最为常用的一种传感器，其广泛应用于各种工业自控环 境，涉及水利水电、铁路交通、智能建筑、生产自控、航空航天、军工、石化、油井、电力、船舶、 机床、管道等领域。
[0003] 现有的压力传感器核心是用于感应压力的压力传感芯片，在压力传感芯片的基础 上还需要将压力传感芯片封装形成压力传感器模块，压力传感器模块除包括压力传感芯片 夕卜，还包括对压力传感芯片输出的压力信号进行处理的信号处理电路。在生产压力传感器 的过程中，需要对压力传感器进行调试，调试包括对已生产的压力传感芯片进行测试，并对 封装的压力传感器模块进行校准。现有的压力传感器调试装置均是对单个传感芯片或对单 个传感模块进行调试，调试效率很低，进而影响产品产能。 实用新型内容
[0004] 有鉴于此，本实用新型提供了一种绝压传感器批量调试装置，以实现绝压传感器 芯片和/或绝压传感器模块的批量调试。
[0005] 本实用新型采用的技术手段如下：一种绝压传感器批量调试装置，包括调试终端、 压力罐、调试板座、温度传感器、气源、芯片测试板和/或模块校准板；
[0006] 所述压力罐包括罐体和盖体，并由罐体和盖体定义一个容纳腔；所述罐体开设有 进气口和出气口；
[0007] 所述气源通过所述进气口与压力罐连接；
[0008] 所述压力罐的容纳腔内设置有调试板座、芯片测试板和/或模块校准板，以及温 度传感器；
[0009] 其中，所述调试板座承载有调试电路，并包括至少一个芯片测试板接口和/或至 少一个模块校准板接口，所述调试电路与所述芯片测试板接口和/或模块校准板接口电连 接，并与所述调试终端电连接；
[0010] 所述芯片测试板承载有芯片测试板电路，并包括至少一个芯片座；被测试绝压传 感器芯片设置于所述芯片座，并与所述芯片测试板电路电连接；所述芯片测试板通过所述 芯片测试板接口插接于所述调试板座，且所述芯片测试板电路与所述调试电路电连接； [0011] 所述模块校准板承载有模块校准板电路，并包括至少一个模块座；被校准模块设 置于所述模块座，并与所述模块校准板电路连接；所述模块校准板通过所述模块校准板接 口插接于所述调试板座，且所述模块校准板电路与所述调试电路电连接；
[0012] 所述温度传感器与所述调试终端电连接。
[0013] 进一步，所述压力罐还包括设置于所述罐体的减压阀。
[0014] 进一步，所述盖体与所述开口之间设置有第一密封圈。
[0015] 进一步，所述压力罐的罐体设置有密封连接器，所述密封连接器包括设置于所述 容纳腔的第一引线接口和第二引线接口，以及设置于压力罐的罐体外的第三引线接口和第 四引线接口；所述温度传感器通过第一引线连接密封连接器的第一引线接口，第二引线一 端通过第三引线接口电连接第一引线，第二引线的另一端电连接所述调试终端。
[0016] 进一步，所述调试电路通过第三引线连接所述第二引线接口，第四引线一端通过 第四引线接口电连接所述第三引线，第四引线的另一端电连接所述调试终端。
[0017] 进一步，所述芯片测试板包括与所述芯片测试板接口匹配的第一插接端，所述第 一插接端包括与所述芯片测试板电路电连接的第一焊盘，所述芯片测试板接口包括与所述 第一焊盘对应的第二焊盘，所述第二焊盘与所述调试电路电连接。
[0018] 进一步，所述芯片测试板包括与每个所述芯片座对应的芯片引脚接口，所述被测 试绝压传感器芯片的引脚与所述芯片引脚接口电连接，每个所述芯片引脚接口与芯片测试 板电路电连接。
[0019] 进一步，所述模块校准板包括与所述模块校准板接口匹配的第二插接端，所述第 二插接端包括与所述模块校准板电路电连接的第三焊盘，所述模块校准板接口包括与所述 第三焊盘对应的第四焊盘，所述第四焊盘与所述调试电路电连接。
[0020] 进一步，所述模块校准板包括与每个所述模块座对应的模块引脚接口，所述被校 准模块的引脚与所述模块引脚接口电连接，每个所述模块引脚接口与模块校准板电路电连 接。
[0021] 采用本实用新型所提供的绝压传感器批量调试装置，由压力罐提供一个恒压的调 试环境，将至少一个承载多个被测试绝压传感芯片的芯片测试板和/或至少一个承载多个 被校准绝压传感器模块的模块校准板通过接口插接的方式与放置于压力罐容纳腔内的调 试板座连接，最大限度的扩展了被调试的绝压传感芯片和/或绝压传感器模块的个数，实 现了批量调试。
【专利附图】
【附图说明】
[0022] 图1为本实用新型一种绝压传感器批量调试装置的结构示意图；
[0023] 图2为本实用新型中芯片测试板的结构示意图；
[0024] 图3为本实用新型中模块校准板的结构示意图。
【具体实施方式】
[0025] 以下结合附图对本实用新型的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本实用 新型，并非用于限定本实用新型的范围。
[0026] 作为本实用新型的典型实施例，如图1-3所示，绝压传感器批量调试装置包括调 试终端1、压力罐2、调试板座3、温度传感器4、气源5、芯片测试板6和/或模块校准板7 ;
[0027] 压力罐2包括罐体（未标记）和盖体（未标记），并由罐体和盖体定义一个容纳 腔A ;罐体开设有进气口 8和出气口 9 ;进一步，在本实施例中，压力罐2还包括设置于罐体 的减压阀10,为了保证良好的密封性和提供稳定的压力，在盖体与罐体之间设置有密封圈 (未示出）；
[0028] 气源5通过进气口 8与压力罐2连接；
[0029] 压力罐2的容纳腔A内设置有调试板座3、芯片测试板6和/或模块校准板7,以 及温度传感器4 ;
[0030] 其中，调试板座3承载有调试电路（未示出），并包括至少一个芯片测试板接口 (未示出）和/或至少一个模块校准板接口（未示出），调试电路与芯片测试板接口和/或 模块校准板接口电连接，并与调试终端1电连接。
[0031] 芯片测试板6如图2所示，承载有芯片测试板电路（未示出），并包括至少一个芯 片座61 ;被测试绝压传感器芯片（未示出）设置于芯片座61，并与芯片测试板电路电连接； 芯片测试板6通过芯片测试板接口插接于调试板座3,且芯片测试板电路与调试电路电连 接；
[0032] 在本实施例中，芯片测试板包括与芯片测试板接口匹配的第一插接端62,第一插 接端62包括与芯片测试板电路电连接的第一焊盘63,对应的，在芯片测试板接口设置与第 一焊盘63对应的第二焊盘（未示出），第二焊盘与调试电路电连接，由此完成芯片测试板电 路与调试电路之间的电连接；
[0033] 进一步，芯片测试板6包括与每个所述芯片座61对应的芯片引脚接口（未示出）， 被测试绝压传感器芯片的引脚与芯片引脚接口电连接，每个芯片引脚接口与芯片测试板电 路电连接，由此实现了被测试绝压传感器芯片与芯片测试板电路，以及调试电路之间的电 连接。
[0034] 模块校准板7承载有模块校准板电路（未不出），并包括至少一个模块座71 ;被校 准模块设置于模块座71，并与模块校准板电路连接；模块校准板7通过模块校准板接口插 接于调试板座3,且模块校准板电路与调试电路电连接；
[0035] 在本实施例中，模块校准板7包括与模块校准板接口匹配的第二插接端72,第二 插接端72包括与模块校准板电路电连接的第三焊盘73,相应的，在模块校准板接口设置与 第三焊盘73对应的第四焊盘（未示出），第四焊盘与调试电路电连接，由此实现了模块校准 板与调试电路之间的电连接；
[0036] 进一步，模块校准板7包括与每个模块座71对应的模块引脚接口（未示出），被校 准模块的引脚与模块引脚接口电连接，每个模块引脚接口与模块校准板电路电连接，由此 实现了被校准模块与模块校准板电路，以及调试电路之间的电连接。
[0037] 承载于调试板座3的调试电路和温度传感器4分别和调试终端1电连接；在本实 施例中，为了实现上述电连接，于压力罐2的罐体设置有密封连接器11，密封连接器11包括 设置于容纳腔A的第一引线接口（未示出）和第二引线接口（未示出），以及设置于压力罐 2的罐体外的第三引线接口（未示出）和第四引线接口（未示出）；温度传感器4通过第一 引线13连接密封连接器11的第一引线接口，第二引线14 一端通过第三引线接口电连接第 一引线13,第二引线14的另一端电连接所述调试终端；进一步，调试电路通过第三引线12 连接第二引线接口，第四引线15-端通过第四引线接口电连接第三引线12,第四引线15的 另一端电连接调试终端1。
[0038] 采用本实用新型所提供的绝压传感器批量调试装置，由压力罐提供一个恒压的调 试环境，将至少一个承载多个被测试绝压传感芯片的芯片测试板和/或至少一个承载多个 被校准绝压传感器模块的模块校准板通过接口插接的方式与放置于压力罐容纳腔内的调 试板座连接，最大限度的扩展了被调试的绝压传感芯片和/或绝压传感器模块的个数，实 现了批量调试。
[0039] 以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本 实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型 保护的范围之内。
【权利要求】
1. 一种绝压传感器批量调试装置，其特征在于，包括调试终端、压力罐、调试板座、温度 传感器、气源、芯片测试板和/或模块校准板； 所述压力罐包括罐体和盖体，并由罐体和盖体定义一个容纳腔；所述罐体开设有进气 口和出气口； 所述气源通过所述进气口与压力罐连接； 所述压力罐的容纳腔内设置有调试板座、芯片测试板和/或模块校准板，以及温度传 感器； 其中，所述调试板座承载有调试电路，并包括至少一个芯片测试板接口和/或至少一 个模块校准板接口，所述调试电路与所述芯片测试板接口和/或模块校准板接口电连接， 并与所述调试终端电连接； 所述芯片测试板承载有芯片测试板电路，并包括至少一个芯片座；被测试绝压传感器 芯片设置于所述芯片座，并与所述芯片测试板电路电连接；所述芯片测试板通过所述芯片 测试板接口插接于所述调试板座，且所述芯片测试板电路与所述调试电路电连接； 所述模块校准板承载有模块校准板电路，并包括至少一个模块座；被校准模块设置于 所述模块座，并与所述模块校准板电路连接；所述模块校准板通过所述模块校准板接口插 接于所述调试板座，且所述模块校准板电路与所述调试电路电连接； 所述温度传感器与所述调试终端电连接。
2. 根据权利要求1所述的绝压传感器批量调试装置，其特征在于，所述压力罐还包括 设置于所述罐体的减压阀。
3. 根据权利要求2所述的绝压传感器批量调试装置，其特征在于，所述盖体与罐体之 间设置有密封圈。
4. 根据权利要求3所述的绝压传感器批量调试装置，其特征在于，所述压力罐的罐体 设置有密封连接器，所述密封连接器包括设置于所述容纳腔的第一引线接口和第二引线接 口，以及设置于压力罐的罐体外的第三引线接口和第四引线接口；所述温度传感器通过第 一引线连接密封连接器的第一引线接口，第二引线一端通过第三引线接口电连接第一引 线，第二引线的另一端电连接所述调试终端。
5. 根据权利要求4所述的绝压传感器批量调试装置，其特征在于，所述调试电路通过 第三引线连接所述第二引线接口，第四引线一端通过第四引线接口电连接所述第三引线， 第四引线的另一端电连接所述调试终端。
6. 根据权利要求5所述的绝压传感器批量调试装置，其特征在于，所述芯片测试板包 括与所述芯片测试板接口匹配的第一插接端，所述第一插接端包括与所述芯片测试板电路 电连接的第一焊盘，所述芯片测试板接口包括与所述第一焊盘对应的第二焊盘，所述第二 焊盘与所述调试电路电连接。
7. 根据权利要求6所述的绝压传感器批量调试装置，其特征在于，所述芯片测试板包 括与每个所述芯片座对应的芯片引脚接口，所述被测试绝压传感器芯片的引脚与所述芯片 引脚接口电连接，每个所述芯片引脚接口与芯片测试板电路电连接。
8. 根据权利要求7所述的绝压传感器批量调试装置，其特征在于，所述模块校准板包 括与所述模块校准板接口匹配的第二插接端，所述第二插接端包括与所述模块校准板电路 电连接的第三焊盘，所述模块校准板接口包括与所述第三焊盘对应的第四焊盘，所述第四 焊盘与所述调试电路电连接。
9.根据权利要求8所述的绝压传感器批量调试装置，其特征在于，所述模块校准板包 括与每个所述模块座对应的模块引脚接口，所述被校准模块的引脚与所述模块引脚接口电 连接，每个所述模块引脚接口与模块校准板电路电连接。
【文档编号】G01L27/00GK203837873SQ201420254818
【公开日】2014年9月17日 申请日期:2014年5月19日 优先权日:2014年5月19日
【发明者】蔡红萍, 沈唯真 申请人:北京必创科技有限公司