电子天平内校机构的制作方法
【专利摘要】一种可以靠人工操作完成内校的电子天平内校机构。其特点是，包括：具有斜面的水平移动件，设置成在水平方向移动；包括至少一个内校砝码的砝码组件；传感器，通过传感器托架来承载砝码组件；导向组件；以及上下移动件，与导向组件通过柱销与柱孔的配合能上下移动，具有与所述斜面配合的凸出结构；其中，内校砝码压在传感器托架，以使传感器受力，从而该内校机构处于内校验状态；水平移动件的移动能使水平移动件的对应的斜面与上下移动件上的凸出结构相接触，进而使所述凸出结构沿着水平移动件的斜面移动，并且上下移动件能移动至砝码组件，把砝码组件带动，进而使砝码组件从传感器托架上脱开，进而使该内校机构处于非内校状态。
【专利说明】电子天平内校机构
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电子天平内校机构。
【背景技术】
[0002]以前电子天平在校验时一般都是采用标准砝码在外部对电子天平进行校验，每次校验时都需拿相应的标准砝码来校验，对用户而言比较繁琐，且砝码也易丢失，基于此情况，后续便出现了内部校验机构，即把内校砝码放在电子天平内部来进行校验，这样用户就可以自己来校验天平，而不再需要送实验室或其他校验机构来进行校验。
[0003]公布号为“CN102879073A”的中国专利文献记载了一种带内校砝码结构的电子天平，其中通过设置内校砝码、能够沿竖直方向向上顶起所述内校砝码的顶起机构、能够驱动所述顶起机构沿竖直方向升降的顶起驱动装置，同时在传感器的上支架上设置能够沿竖直方向支撑内校砝码的支杆，电子天平使用前需要校正时，顶起驱动装置驱动顶起机构下行，内校砝码降下直至支撑在上支架的支杆上，顶起机构与内校砝码沿竖直方向保持一定的间隙；待校正完成后，由顶起驱动装置驱动顶起机构上行，顶起机构将内校砝码向上顶起使其脱离支杆，内校砝码与支杆沿竖直方向保持一定的间隙，这时即可使用电子天平进行称量。其中的顶起驱动装置包括转轴支架、能够转动地设置在转轴支架上的转轴、能够驱动转轴旋转的电机、转轴上套设凸轮。
[0004]实用新型人发现目前具有内校机构的电子天平大多使用电机驱动内校机构，来实现电子天平的校验，电机驱动内校机构的制造加工精度高，工艺控制过程复杂，对传感器的选用要求高，对后续组装工艺和标定要求高，成本高，且占用电子天平很多内部空间进而使电子天平的尺寸变大。
实用新型内容
[0005]本实用新型的目的在于提供一种可以靠人工操作完成内校的电子天平内校机构。
[0006]为实现所述目的的电子天平内校机构，其特点是，包括:
[0007]具有斜面的水平移动件，设置成在水平方向移动；
[0008]包括至少一个内校砝码的砝码组件；
[0009]传感器，通过传感器托架来承载砝码组件；
[0010]导向组件；以及
[0011]上下移动件，与导向组件通过柱销与柱孔的配合能上下移动，具有与所述斜面配合的凸出结构；
[0012]其中，内校砝码压在传感器托架，以使传感器受力，从而该内校机构处于内校验状态；水平移动件的移动能使水平移动件的对应的斜面与上下移动件上的凸出结构相接触，进而使所述凸出结构沿着水平移动件的斜面移动，并且上下移动件能移动至砝码组件，把砝码组件带动，进而使砝码组件从传感器托架上脱开，进而使该内校机构处于非内校状态。
[0013]所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是导向组件包括底板以及在底板上直立的柱销；传感器安装在该底板上，传感器托架位于传感器上方，水平移动件具有位于传感器第一侧和第二侧的叉臂，两叉臂在一端汇集并连接一推拉部，以便于手工推拉该水平移动件，在两叉臂上分别提供所述斜面；砝码组件包括在传感器第一侧、第二侧分别设置的砝码以及在传感器顶部的砝码，顶部的砝码与两侧的砝码分别连接，顶部的砝码坐落在传感器托架上；上下移动件具有柱孔，在传感器两侧的柱销上分别设置有该上下移动件，上下移动件位于水平移动件上方，位于传感器第一侧、第二侧的内校砝码位于对应的上下移动件上方。
[0014]所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是水平移动件的所述斜面由所述水平移动件上的梯形楔块的腰部提供，于所述非内校状态，所述凸出结构稳稳地坐落在该梯形楔块的顶端。
[0015]所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是所述水平移动件还具有复位凸块，所述复位凸块提供与水平面呈小于90度夹角的回程斜面，于所述非内校状态切换到所述内校状态的过程中，上下移动件的凸出结构能沿着水平移动件的所述斜面向下滑动的同时，上下移动件的复位结构也能沿着所述回程斜面滑动，以防止上下移动件卡在柱销上。
[0016]所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是位于内校砝码具有柱孔，所述柱销穿过内校砝码的柱孔，也能沿着柱销随着上下移动件缓缓下降，以便于平稳地落在传感器托架上。
[0017]所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是所述凸出结构为圆柱结构，通过圆柱面与所述斜面滑动配合。
[0018]所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是所述柱销的顶部固定有卡帽，以限制内校砝码脱离所述柱销。
[0019]所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是传感器托架提供导向柱，砝码组件提供有导向框，导向框和导向柱滑动配合，以使砝码组件能位置准确地坐落在传感器托架上。
[0020]所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是还包括天平基座，所述底板固定在天平基座上，所述推拉部外露于所述天平基座，所述推拉部向外拉出的状态对应于所述内校状态，所述推拉部向内止动于天平基座的状态对应与所述非内校状态。
[0021]所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是所述底板提供有滑槽，所述叉臂提供有导向脚，所述导向脚插入所述滑槽以使所述水平移动件能方向准确地水平移动。
[0022]本实用新型为非电机驱动，去除电机实现内校砝码的加载和卸载，在其实施例中，通过人工操作实现内校砝码的加载和卸载，靠人工操作完成内校的机械内校机构运动，因此低成本，内校机构简单精准，内校砝码的重量可以更换，砝码可拆卸，占用空间小，零件制造加工精度低，工艺控制过程简单。
【专利附图】
【附图说明】
[0023]本实用新型的上述的以及其他的特征、性质和优势将通过下面结合附图和实施例的描述而变得更加明显，其中:
[0024]图1为电子天平内校机构固定于天平基座的立体图。
[0025]图2为图1中电子天平内校机构的立体图。
[0026]图3为图1所示状态的分解视图。
[0027]图4为图1中传感器托架的立体图。
[0028]图5为图1中导向组件的立体图。
[0029]图6为图1中水平移动件的立体图。
[0030]图7为图8所示机构的分解视图。
[0031]图8为图1中传动机构的立体图。
[0032]图9为图10所示砝码组件的分解视图。
[0033]图10为图1中砝码组件的立体图。
[0034]图11为图1所示电子天平内校机构的半剖视图。
[0035]图12为图1所示电子天平内校机构的剖视图，剖面切线经过其中的导向用柱销。
[0036]图13为图1所示电子天平内校机构的剖视图，剖面切线经过其中的水平移动件的梯形楔块。
[0037]图14为图11所示电子天平内校机构的处于非内校状态的示意图。
[0038]图15为图12所示电子天平内校机构的处于非内校状态的示意图。
[0039]图16为图13所示电子天平内校机构的处于非内校状态的示意图。
【具体实施方式】
[0040]下面结合具体实施例和附图对本实用新型作进一步说明，在以下的描述中阐述了更多的细节以便于充分理解本实用新型，但是本实用新型显然能够以多种不同于此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下根据实际应用情况作类似推广、演绎，因此不应以此具体实施例的内容限制本实用新型的保护范围。
[0041]需要注意的是，图1至图16均仅作为示例，其并非是按照等比例的条件绘制的，并且不应该以此作为对本实用新型实际要求的保护范围构成限制。
[0042]如图1所示，电子天平内校机构I固定安装在电子天平的天平基座2内。在此将内校机构I和天平基座2分开来说，但在一些场合下，天平基座2也可以视为内校机构I的一部分。
[0043]如图2所示，内校机构I包括水平移动件3、砝码组件2以及导向组件4。
[0044]如图3所示，内校机构I还包括传感器托架5、上下移动件6和传感器7。
[0045]如图4所示，传感器托架5的本体大致为槽形，其上侧有凸出的导向柱51。
[0046]如图5所示，导向组件4包括底板41，底板41上设置有滑槽410。
[0047]如图6所示，水平移动件3包括两叉臂32，以及两叉臂32在一端汇集后连接的推拉部31。叉臂32在两侧边具有梯形楔块33，梯形楔块33的腰部为斜边，其提供斜面330。另外，叉臂32在中间还凸出有凸块34，凸块34如后所述还提供有回程斜面。
[0048]如图7所示，上下移动件6大致为长条形板，其底部具有圆柱状的凸出结构61。
[0049]如图7和图8所示，导向组件4还包括四根柱销42。四根柱销42对应两叉臂32分别设置。即在一侧边的叉臂32对应两根柱销42，另一侧边的叉臂32对应另两根柱销42。上下移动件6具有销孔60，上下移动件6通过其销孔60套在一侧边的两根柱销42上，能沿柱销42上下移动。两上下移动件6对应两叉臂32—一对应地设置。上下移动件6底部的凸出结构61对应叉臂32上的梯形楔块33提供的斜面330，与斜面330滑动配合。梯形楔块33的顶部还能供凸出结构61稳稳地坐落在梯形楔块33上。由于上下移动件6受到柱销42的限制不能水平移动，只能上下移动，因此水平移动件3水平移动时，上下移动件6不会水平移动，但上下移动件6的凸出结构61会沿着斜面330移动，因此上下移动件6会向上移动或者向下移动。
[0050]如图9和图10所示，砝码组件2包括两砝码21、22以及连接两砝码21、22的顶部的砝码23，其连接通过螺栓104穿入各砝码的螺纹孔来实现。各砝码21、22、23还提供有与柱销42配合的销孔210、220、230。
[0051]同时结合图1至图13，底板41通过螺栓101固定在天平基座2中，柱销42通过螺栓105固定在底板41上。传感器7通过螺栓固定在底板41的中间，在传感器7上通过螺栓103固定传感器托架5，在传感器7的两侧分别布置有两柱销42，水平移动件3的两叉臂32位于传感器7的两侧，水平移动件3上有对应柱销42的两长形孔36，水平移动件3通过长形孔36套在柱销42上，长形孔36的目的是为了避免柱销42与水平移动件3相干涉，同时获得一个紧凑的结构。长形孔36的长度限定了水平移动件3的行程长度。在叉臂32的上方是通过其自身的销孔60套在柱销42上的上下移动件6，在上下移动件6的上方是通过其自身的销孔210、220、230套在柱销42上的砝码组件2。因此在图2所示的状态，通过操作水平移动件3的操作部31，向内推动水平移动件3，水平移动件3通过其上的梯形楔块33的腰部的斜面330推动上下移动件6的凸出结构61，这样凸出结构61沿着斜面330移动，上下移动件6在柱销42的导向作用下，向上移动，上下移动件6向上移动到砝码组件2处，就将砝码组件2抬起，这样砝码组件2就脱离了传感器7的托架5，传感器7检测不到砝码组件2的重量，机构处于非内校状态。由于在柱销42的顶部固定有卡帽102，因此砝码组件2不会脱离柱销42。
[0052]电子天平内校机构I的动作在结合图11至图16后会更为清楚，图11至图13显示了电子天平内校机构I处于内校状态的情况，图14至图16显示了内校机构I处于非内校状态的情况，即水平移动件3的操作部31收纳于天平基座2时，内校机构处于非内校状态，此时天平可以称重。
[0053]如图11所示，在内校状态下，砝码组件2通过其顶部的砝码23压在传感器托架5上，向传感器7传递重量，可以校对电子电平的显示数据进行校对。此时如图13所示，上下移动件6的凸出结构61大致位于水平移动件3的梯形楔块33的斜面的底部。按照图11至图13所示的力F推动水平移动件3，水平移动件3向左移动，上下移动件6的凸出结构61沿着梯形楔块33上的斜面向上移动，上下移动件6受制于柱销42，只能沿着柱销42向上移动，当上下移动件6的凸出结构61沿着梯形楔块33的斜面上升时，会同时把砝码组件2沿着柱销42缓缓抬起，从而使砝码组件从传感器托架5脱开。
[0054]图16显示了水平移动件3向左移动到极限情况下的状态，即水平移动件3的推拉部处于向内止动于天平基座的状态，即不能再向左推动。此时，凸出结构61 “爬”至梯形楔块33的顶部，稳稳地坐落在梯形楔块33的顶部，此时电子电平处于非内校状态，可以开始称重。
[0055]如图14至图16所示，如果此时沿力F的方向即向右拉水平移动件3，水平移动件3向右移动，上下移动件6上的凸出结构61会沿着水平移动件3上的梯形楔块33的斜面330缓缓向下移动，同时水平移动件3的凸块34，其提供有回程斜面341 (如图15所示)，回程斜面341与水平方向的夹角小于90度，回程斜面341压在复位结构62上，施加一个下压力，会把上下移动件6上的复位结构62缓缓带动下来，以防止上下移动件6卡在柱销42上，此时砝码组件2也会沿着柱销42随着上下移动件6缓缓下降，直至平稳地落在传感器托架5上。
[0056]本实用新型虽然以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本实用新型，任何本领域技术人员在不脱离本实用新型的精神和范围内，都可以做出可能的变动和修改，例如柱销42也可以固定在上下移动件6上，而柱销42与底座40上的孔配合。另外传感器托架5上也可以选择性地设置导向柱51，其与砝码23上的框232配合，以使砝码组件2能位置准确地坐落在传感器托架5上。再如，在叉臂32上还可以选择性地设置导向脚35，其与底板41上的滑槽410配合，以使水平移动件3能方向准确地水平移动。再如，左右移动件3上的斜面方向反向，从而改为向外拉水平移动件3使内校机构运动至非内校状态，向内推左右移动件使内校机构运动至内校状态，这在一些场合也可以的。再如，柱销42的数量也可以减少或增加。砝码组件2的数量也可以减少或增加，例如直接在砝码23上再叠放一个标准$去码。
[0057]因此凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何修改、等同变化及修饰，均落入本实用新型权利要求所界定的保护范围之内。
【权利要求】
1.电子天平内校机构，其特征在于，包括 具有斜面的水平移动件，设置成在水平方向移动； 包括至少一个内校破码的破码组件； 传感器，通过传感器托架来承载砝码组件； 导向组件；以及 上下移动件，与导向组件通过柱销与柱孔的配合能上下移动，具有与所述斜面配合的凸出结构； 其中，内校砝码压在传感器托架，以使传感器受力，从而该内校机构处于内校验状态；水平移动件的移动能使水平移动件的对应的斜面与上下移动件上的凸出结构相接触，进而使所述凸出结构沿着水平移动件的斜面移动，并且上下移动件能移动至砝码组件，把砝码组件带动，进而使砝码组件从传感器托架上脱开，进而使该内校机构处于非内校状态。
2.如权利要求1所述的电子天平内校机构，其特征在于导向组件包括底板以及在底板上直立的柱销；传感器安装在该底板上，传感器托架位于传感器上方，水平移动件具有位于传感器第一侧和第二侧的叉臂，两叉臂在一端汇集并连接一推拉部，以便于手工推拉该水平移动件，在两叉臂上分别提供所述斜面；砝码组件包括在传感器第一侧、第二侧分别设置的砝码以及在传感器顶部的砝码，顶部的砝码与两侧的砝码分别连接，顶部的砝码坐落在传感器托架上；上下移动件具有柱孔，在传感器两侧的柱销上分别设置有该上下移动件，上下移动件位于水平移动件上方，位于传感器第一侧、第二侧的内校砝码位于对应的上下移动件上方。
3.如权利要求2所述的电子天平内校机构，其特征在于水平移动件的所述斜面由所述水平移动件上的梯形楔块的腰部提供，于所述非内校状态，所述凸出结构稳稳地坐落在该梯形楔块的顶端。
4.如权利要求2所述的电子天平内校机构，其特征在于所述水平移动件还具有复位凸块，所述复位凸块提供与水平面呈小于90度夹角的回程斜面，于所述非内校状态切换到所述内校状态的过程中，上下移动件的凸出结构能沿着水平移动件的所述斜面向下滑动的同时，上下移动件的复位结构也能沿着所述回程斜面滑动，以防止上下移动件卡在柱销上。
5.如权利要求2所述的电子天平内校机构，其特征在于位于内校砝码具有柱孔，所述柱销穿过内校砝码的柱孔，也能沿着柱销随着上下移动件缓缓下降，以便于平稳地落在传感器托架上。
6.如权利要求1所述的电子天平内校机构，其特征在于所述凸出结构为圆柱结构，通过圆柱面与所述斜面滑动配合。
7.如权利要求5所述的电子天平内校机构，其特征在于所述柱销的顶部固定有卡帽，以限制内校砝码脱离所述柱销。
8.如权利要求1所述的电子天平内校机构，其特征在于传感器托架提供导向柱，砝码组件提供有导向框，导向框和导向柱滑动配合，以使砝码组件能位置准确地坐落在传感器托架上。
9.如权利要求2所述的电子天平内校机构，其特征在于还包括天平基座，所述底板固定在天平基座上，所述推拉部外露于所述天平基座，所述推拉部向外拉出的状态对应于所述内校状态，所述推拉部向内止动于天平基座的状态对应与所述非内校状态。
10.如权利要求2所述的电子天平内校机构，其特征在于所述底板提供有滑槽，所述叉臂提供有导向脚，所述导向脚插入所述滑槽以使所述水平移动件能方向准确地水平移动。
【文档编号】G01G23/01GK204115853SQ201420618908
【公开日】2015年1月21日 申请日期:2014年10月23日 优先权日:2014年10月23日
【发明者】潘健, 胡多传, 叶忠伟 申请人:奥豪斯仪器（常州）有限公司