技术领域本发明涉及天线相位测试技术领域，尤其是涉及一种天线相位的双轴向全自动测试设备。
背景技术：
目前，国内一些天线厂家对天线进行相位测试时，多数还是依靠传统的手工移动探头来测试，这种人工测试方式不仅测试速度慢、效率低、质量差，且操作人员易于疲劳。为了提高测试效率，市场上也出现了一些自动相位测试设备，但大多结构较复杂，自动化程度低，实用性不高。
技术实现要素：
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种结构简单、定位精度高的双轴向、全自动天线相位的测试设备。为实现上述目的，本发明提出如下技术方案：一种天线相位的双轴向全自动测试设备，包括驱动控制器、X轴驱动机构、Y轴驱动机构、探头、滑轨架和相位分析仪，所述驱动控制器与所述X轴驱动机构和Y轴驱动机构相连，控制两者分别沿X轴和Y轴方向运行；所述探头安装在所述滑轨架上，所述滑轨架与所述X轴驱动机构、Y轴驱动机构均相连，且在两者的驱动下带动所述探头沿X轴和Y轴方向接收位于探头下方天线测试点发送出的信号；所述相位分析仪与所述天线和探头均连接，用于根据所述探头获取的信号分析得到所述天线多个测试点的相位。优选地，所述设备还包括用于承载天线的测试框架。优选地，所述驱动控制器包括用于分别控制所述X轴驱动机构和Y轴驱动机构运行的X轴控制卡和Y轴控制卡。优选地，所述X轴、Y轴驱动机构均包括驱动器、齿轮和与所述齿轮相啮合的齿条，所述驱动器与所述驱动控制器相连，所述X轴方向的齿条和Y轴方向的齿条通过各自的导轨架与所述测试框架相连，所述齿轮在所述驱动器驱动下沿相应的齿条滚动。优选地，在所述测试框架的X轴和Y轴方向上各设置一位置传感器，所述位置传感器与所述探头信号连接，用于将测试点的位置信息反馈给所述探头。优选地，所述测试框架的X轴和Y轴方向上均设置有滑轨，所述滑轨架通过滑块与各轴方向上的所述滑轨相滑动连接。优选地，所述驱动器为步进电机或伺服电机。优选地，所述测试框架为铝质框架。优选地，所述滑轨为直线导轨。本发明的有益效果是：本发明通过X轴、Y轴驱动机构驱动探头，实现了对天线上全部测试点的自动测试，结构简单，且具有定位精度高，速度快，测试效率高，方便操作者使用等优点。附图说明图1是本发明天线相位的双轴向全自动测试设备的立体结构示意图；图2是图1的侧视结构示意图；图3是图1的主视结构示意图。附图标记：10、测试设备，20、测试框架，21、位置传感器，30、探头，40、滑轨架，50、X轴驱动机构，51、第一驱动器，52、第一齿轮，53、第一齿条，54、X轴滑轨，55、X轴滑块，60、Y轴驱动机构，61、第二驱动器，62、第二齿轮，63、第二齿条，64、Y轴滑轨，65、Y轴滑块，70、驱动控制器，80、相位分析仪，90、天线。具体实施方式下面将结合本发明的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。结合图1、图2和图3所示，本发明所揭示的一种天线相位的双轴向全自动测试设备10，包括测试框架20、探头30、滑轨架40、X轴驱动机构50、Y轴驱动机构60、驱动控制器70和相位分析仪80，测试框架20上端用于承载天线90，整个框架20可由40*40mm和40*80mm铝型材制作而成。探头30安装在滑轨架40上，且位于测试框架20上的天线90上方，用于获得天线90发送出的信号。滑轨架40与X轴驱动机构50和Y轴驱动机构60均相连，且在两者的驱动下带动探头30沿X轴和Y轴运行，以使探头30能够获取到天线90上全部测试点发出的信号。X轴驱动机构50包括第一驱动器51、第一齿轮52和第一齿条53，第一齿轮52与第一驱动器51相连，第一齿条53通过导轨架(图未示)固定在测试框架20的X轴方向上，且与第一齿轮52相啮合，第一齿轮52在第一驱动器51的驱动下在第一齿条53上沿X轴方向移动，继而带动滑轨架40沿X轴方向移动。测试框架20的X轴方向上还固定安装有滑轨54，滑轨架40通过滑块55沿X轴方向的滑轨54滑行。Y轴驱动机构60同样包括第二驱动器61、第二齿轮62和第二齿条63，第二齿轮62与第二驱动器61相连，第二齿条63通过导轨架(图未示)设置在测试框架20的Y轴方向上，且与第二齿轮62相啮合，第二齿轮62在第二驱动器61的驱动下在第二齿条63上沿Y轴方向移动，继而带动滑轨架40沿Y轴方向移动。测试框架20的Y轴方向上同样设置有与滑轨架40沿X轴同步移动的滑轨64，滑轨架40通过滑块65沿Y轴方向的滑轨滑行，X轴方向和Y轴方向上的滑轨54，64均可采用直线导轨。第一和第二驱动器51，61可选用步进电机或者伺服电机，优选步进电机，因为伺服电机的价格远远大于步进电机，而且当前的步进电机可以满足我们的使用要求。驱动控制器70与第一驱动器51和第二驱动器61相连，用于控制X轴驱动机构50和Y轴驱动机构60驱动滑轨架40在测试框架20上分别沿X轴和Y轴运行。驱动控制器70包括分别控制X轴驱动机构50和Y轴驱动机构60运行的X轴控制卡和Y轴控制卡。各控制卡还可控制对应轴的运动速度和加速度等。测试框架20的X轴和Y轴方向上还各设置有一位置传感器21，位置传感器21与探头30信号连接，用于将探头30所在测试点的位置信息通过探头反馈给驱动控制器70。相位分析仪80与天线90和探头30均相连，用于首先向天线90发射第一信号，天线90根据该信号发出第二信号，探头30获取天线90发出的第二信号，相位分析仪80根据自身发出的第一信号和从探头30获取的第二信号，分析得到天线90多个测试点的相位。本发明的工作原理为：操作员将被测天线90置于测试框架20上，且将滑轨架40初始调整到测试起点；将相位分析仪80接口接入被测天线90上，点击开始测试按钮，滑轨架40会在X轴、Y轴步进电51，61驱动下，按照驱动控制器70设定好的程序，延着各自的滑轨54，64自动运行到下一个目标测试点，等待设备自动抓取数据后，会继续移动到下一个目标测试点。直到整个测试点被测完，滑轨架40会自动回归到测试起点，等待下一个天线测试。本发明的技术内容及技术特征已揭示如上，然而熟悉本领域的技术人员仍可能基于本发明的教示及揭示而作种种不背离本发明精神的替换及修饰，因此，本发明保护范围应不限于实施例所揭示的内容，而应包括各种不背离本发明的替换及修饰，并为本专利申请权利要求所涵盖。