技术总结
本发明涉及半导体设备。提供了一种测试容易化和调试容易化用的电路规模小且在所需要工作的初始设定中不需要时间的半导体设备。半导体设备当从测试使能端子指定测试使能时，将既定的多个状态信息依照既定的顺序周期地从测试输出端子依次输出，当指定测试禁用时，继续输出与在其定时从测试输出端子输出的状态信息相同的信息。不需要初始设定，只要操作测试使能端子，就周期地输出多个状态信息，此外，继续输出仅期望的状态信息。
技术研发人员：熊本明仁;西前和生;
受保护的技术使用者：辛纳普蒂克斯显像装置合同会社;
文档号码：201510983011
技术研发日：2015.12.24
技术公布日：2016.07.06