技术总结
一种控制片上系统的老化的方法，片上系统包括一个或多个包含半导体电路部件的器件以及至少一个老化控制器，其监控片上系统内循环的电子信号。该方法包括以下步骤：通过改变与其运行模式相关的硬件参数来对片上系统的至少一个器件施加应力，将与由所述至少一个器件产生的电信号相关联的至少一个参数与参考参数进行比较来确定对应于所述至少一个器件的运行寿命值的差值，如果所述运行寿命值等于或超过阈值寿命值，确定应力状态值，以及根据所述应力状态值修改所述至少一个器件的运行模式。还公开了执行该方法的片上系统。
技术研发人员：克劳迪奥·法维;马尔科·马凯蒂;卡尔·奥森
受保护的技术使用者：耐瑞唯信有限公司
文档号码：201580044505
技术研发日：2015.08.18
技术公布日：2017.05.31