技术总结
基于光耦探测器X射线三维显微镜系统参数标定方法。本发明涉及X射线CT技术领域，为提供高分辨率显微CT系统,本发明采取的技术方案是，基于光耦探测器X射线三维显微镜系统参数的标定方法，首先利用标准栅格板进行高分辨率显微CT的光学放大倍数标定，并将探测器像素信息转化到闪烁片位置的像素信息，然后获取特定模体的二维透视图像，通过计算模体透视图像中的相关参数，标定获得系统的相关参数。本发明主要应用于X射线CT设备的设计制造。
技术研发人员：邹晶
受保护的技术使用者：天津大学
文档号码：201610300241
技术研发日：2016.05.07
技术公布日：2017.02.15