技术总结
本发明涉及微波技术领域，具体涉及一种微波探测系统。一种微波探测系统，包括控制系统、同轴谐振腔和距离调整装置，同轴谐振腔包括腔体和伸出腔体的探针，探针在同轴谐振腔腔体外形成电磁场,同轴谐振腔对在电磁场内样品进行探测并产生微波输出信号；控制系统能提供同轴谐振腔的微波输入信号并接收以及分析同轴谐振腔的微波输出信号，距离调整装置用于控制待测样品移动至电磁场内，待测样品对该电磁场形成干扰从而改变同轴谐振腔的微波输出信号；控制系统通过对放置待测样品前后的同轴谐振腔的微波输出信号进行分析完成待测样品的探测。通过设置距离调整装置能保证待测样品对电磁场形成有效干扰，提高该微波探测系统的探测准确度。
技术研发人员：向勇;王聪;冯雪松;刘芬芬
受保护的技术使用者：电子科技大学
文档号码：201610573613
技术研发日：2016.07.19
技术公布日：2016.12.21