金属检测器的制作方法

文档序号:12269187阅读:226来源:国知局
金属检测器的制作方法与工艺

本发明涉及一种能够检测被检查体是否混入或附着有金属片的金属检测器。



背景技术:

作为以往公知的金属检测器,例如公知有专利文献1、专利文献2所示的结构的金属检测器。

专利文献1、专利文献2所公开的金属检测器使被检查体在形成为环状的探察线圈内通过。由此,当被检查体混入或附着有金属片时,探察线圈中的磁场发生变化。因此,通过检测出磁场的紊乱,能够检测出在被检查体混入或附着有金属片。

此外,即使不像上述那样设置环状的探察线圈,而如专利文献3所示构成为使被检查体通过线圈的上表面,也能够检测出在被检查体混入或附着有金属片。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开平9-80162号公报

专利文献2:日本特开2005-292095号公报

专利文献3:日本特开2009-92599号公报



技术实现要素:

发明要解决的问题

在采用上述那样的探察线圈的金属检测器中,有时也会产生误动作的问题。

至于误动作的原因,能够推断是各种电磁波的影响,但例如存在电源装置的变换器、移动电话等大量作为电磁波的产生源的设备,无法相对于所有这些电磁波的产生源封锁电磁波的放射。

因此,本发明为了解决上述课题,其目的在于提供一种减少周围的电磁波的影响而不发生误动作的金属检测器。

用于解决问题的方案

采用本发明的金属检测器,其特征在于,包括:探察线圈,其在长方体状的主体的内部收纳有金属检测用的线圈,主体的表面被设为检测面;以及屏蔽构件,其包围探察线圈的周围地配置。

通过采用该结构,由于屏蔽构件屏蔽周围的电磁波,因此能够不发生由电磁波的影响引起的误动作。

也可以是,其特征在于,所述屏蔽构件具有在大致中央部分别绝缘地固定有探察线圈的长度方向的两端的两个导体框架和将各所述导体框架的两端部附近相互连结的导体连结构件,所述探察线圈与屏蔽构件一同单元化,与该屏蔽构件一同单元化的探察线圈安装在沿着被检测物的移送方向延伸的两个机身框架上。

采用该结构,由于能够设为与消除周围的电磁波影响的屏蔽构件成为一体的探察线圈单元,因此,无论辊等其他部分的结构如何,都能够阻断来自周围的电磁波。

也可以是,其特征在于,与该屏蔽构件一同单元化的探察线圈隔着作为非导体的防振橡胶安装在各所述机身框架上。

采用该结构,能够将探察线圈与流向各所述机身框架的干扰噪声电流分开。此外,由于利用防振橡胶使来自周围的振动不传递到探察线圈,因此,也能够防止由振动引起的误动作。

也可以是,其特征在于,各所述导体连结构件由圆筒形的构件构成,并且其表面与探察线圈的检测面配置在同一个平面上。

采用该结构,由于利用导体连结构件也能够引导被检测物的移送,因此,能够顺畅地移送被检测物。

也可以是,其特征在于,所述探察线圈固定在沿着被检测物的移送方向延伸的两个机身框架上,所述屏蔽构件包括各所述机身框架和沿着被检测物的移送方向在所述探察线圈的上游侧和下游侧的部位分别连结各所述机身框架的两根导体。

采用该结构,即使在探察线圈未与屏蔽构件一同单元化的情况下,也能够不发生由来自周围的电磁波的影响引起的误动作。

也可以是,其特征在于,所述两根导体是具有金属制的轴并且用于辅助被检测物的移送的辊。

采用该结构,由于构成屏蔽构件的导体兼用辊,因此,不增加部件件数就能够执行电磁波的屏蔽。

也可以是,其特征在于,所述屏蔽构件包括两根导体和两个导体管或导体板,上述两根导体具有隔着绝缘板安装在所述探察线圈的被检测物的移送方向上游侧侧面和下游侧侧面的平板状的部分;上述两个导体管或导体板将各所述导体的端部相互连结。

也可以是,其特征在于,在各所述机身框架和所述两根导体之间或者将各所述机身框架相互连结的构件之间存在轴承的情况下,使该轴承与机身框架之间绝缘。

该结构所产生的作用如下。即,在轴承上附着润滑脂的油膜,产生因轴承的旋转而电流流动或者不流动这样的电不稳定的状态。当由探察线圈的泄漏磁场引起的高频电流流入到该电不稳定的轴承时,会二次扰乱探察线圈的磁场,成为误动作的主要原因。但是,通过使轴承与机身框架绝缘,能够防止产生电不稳定的电网路而不发生误动作。

也可以是,其特征在于,所述屏蔽构件具有罩部,该罩部配置在至少相对于所述探察线圈的检测面空开预定间隔而相对的位置,并覆盖探察线圈。

采用该结构,基于探察线圈的检测面上的高频的磁场在探察线圈周围产生泄漏磁场,但通过减少周围的电磁波的影响,能够减少泄漏磁场的变动,能够稳定地进行检测。

也可以是,其特征在于,该金属检测器具有将所述罩部固定在探察线圈上的多个支承部。

也可以是,其特征在于,该金属检测器具有在大致中央部分别绝缘地固定有所述探察线圈的长度方向的两端的两个导体框架和将各所述导体框架的两端部附近相互连结的导体连结构件,安装有所述罩部的探察线圈利用所述导体框架和所述导体连结构件单元化,该单元化了的探察线圈安装在沿着被检测物的移送方向延伸的两个机身框架上。

采用该结构,探察线圈被双重地屏蔽,能够谋求利用双重屏蔽谋求减少探察线圈的误动作。

发明的效果

采用本发明,能够做成没有基于来自外部的电磁噪声发生的误动作的金属检测器。

附图说明

图1是金属检测器的第1实施方式的侧视图。

图2是探察线圈单元的俯视图。

图3是探察线圈单元的侧视图。

图4是探察线圈单元的主视图。

图5是金属检测器的第2实施方式的侧视图。

图6是金属检测器的第2实施方式的侧视图。

图7是说明探察线圈单元和机身框架的安装结构的俯视图。

图8是图7的实施方式的侧视图。

图9是表示图7的实施方式的另一个形态的侧视图。

图10是表示轴承的绝缘结构的说明图。

图11是表示轴承的另一个绝缘结构的说明图。

图12是金属检测器的第3实施方式的俯视图。

图13是金属检测器的第3实施方式的侧视图。

图14是金属检测器的第4实施方式的俯视图。

图15是金属检测器的第4实施方式的侧视图。

图16是金属检测器的第5实施方式的立面图。

图17是金属检测器的第5实施方式的侧视图。

图18是金属检测器的第6实施方式的俯视图。

图19是金属检测器的第6实施方式的侧视图。

图20是金属检测器的第6实施方式的主视图。

图21是第6实施方式的探察线圈单元的剖视图。

图22是第6实施方式所采用的金属制框架的剖视图。

图23是金属检测器的第7实施方式的俯视图。

图24是金属检测器的第7实施方式的主视图。

图25是金属检测器的第8实施方式的俯视图。

图26是金属检测器的第8实施方式的侧视图。

图27是金属检测器的第8实施方式的主视图。

图28是金属检测器的第9实施方式的主视图。

图29是金属检测器的第9实施方式的侧视图。

图30是金属检测器的第9实施方式的仰视图。

图31是金属检测器的第10实施方式的侧视图。

图32是金属检测器的第11实施方式的俯视图。

图33是金属检测器的第11实施方式的侧视图。

图34是将金属检测器设置在验布机(日文:検反機)上的第12实施方式的后视图。

图35是将金属检测器设置在验布机上的第12实施方式的局部剖视图。

图36是将金属检测器设置在验布机上的第13实施方式的后视图。

图37是将金属检测器设置在验布机上的第13实施方式的局部剖视图。

图38是由通常的控制盘、马达的配置结构构成的金属检测器的第14实施方式的侧视图。

图39是对控制盘、马达的配置结构采取噪声对策的金属检测器的第14实施方式的侧视图。

具体实施方式

(第1实施方式)

图1表示本实施方式的金属检测器的侧视图。

本实施方式的金属检测器被称作水平设置型,其以探察线圈的检测面大致为水平面的方式配置,被检测物在水平方向上移动。此外,该金属检测器将纵长的布作为被检测物,是用于检测在布是否混入或附着有金属片等的装置。

金属检测器20沿着布10的移送方向在宽度方向(与布10的移送方向正交的水平面上的方向)两侧设有两个机身框架24。在各机身框架24的下部分别安装有多条支脚26,设置为机身框架24距地面位于预定高度。

以连结各机身框架24的方式设有多根辊28。在本实施方式中,在各辊28上架设有驱动用的带31,通过利用未图示的驱动装置驱动带31,各辊28旋转。通过辊28向移送方向旋转,能够将布10向移送方向移送。

以连结各机身框架24的方式设有探测线圈22。

探察线圈22是在宽度方向上纵长的长方体状,其上表面与布10接触而构成为用于检测金属的检测面22a。另外,布10也可以不与检测面22a接触。

探察线圈22通过由收纳在内部的线圈产生的磁场因金属而发生变化,能够检测是否有金属。

此外,在本实施方式中,设置为探察线圈22与用于减少来自周围的电磁波的影响的屏蔽构件一体化而成的探察线圈单元32。

图2表示探察线圈单元的俯视图,图3表示侧视图,图4表示主视图。

探察线圈单元32具有探察线圈22、位于探察线圈22的宽度方向(与布10的移送方向正交的水平面上的方向)两侧的两个导体框架34、以及将各导体框架34的两端部附近相互连结的导体连结构件36。

在本实施方式中,作为例子,导体框架34采用不锈钢制的面板。此外,导体连结构件36采用不锈钢制的装饰管。

而且,导体连结构件36的上表面配置为与探察线圈22的检测面22a位于同一个平面上。这样,通过将导体连结构件36设为不锈钢制的装饰管,并且与探察线圈22的检测面22a设为同一个平面,能够使检测对象的布10与该装饰管上接触而引导布10的移送。

另外,也可以是,将作为导体框架34的面板设为铁制,使不锈钢制的构件介于装饰管与导体框架34之间的连接部分。

由于不锈钢具有作为静电屏蔽的效果,铁具有作为磁性屏蔽的效果,因此,也可以是,将导体框架34设为铁制,使不锈钢制的构件介于导体框架34与装饰管之间的连接部分。

通过两个导体框架34和两根导体连结构件36以呈日文片假名ロ形包围探察线圈22的周围的方式连结,构成屏蔽构件。由此,探察线圈22减少周围的电磁波的影响,能够进行金属的检测。

如图4所示,探察线圈22的宽度方向的两端部隔着防振橡胶38安装在导体框架34上。

由此,能够使探测线圈探察线圈22自身与屏蔽构件绝缘,并且不将外部的振动传递到探察线圈22。因此,能够进一步谋求减少探察线圈22的误动作。

此外,在探察线圈22的下表面形成有匹配变压器(未图示)用的罩40。

图5表示探察线圈单元和机身框架的侧视图。采用该结构,将探察线圈单元32隔着防振橡胶44安装在机身框架24上。

利用这样的结构,能够使探察线圈单元32与向左右的机身框架24流入的干扰所引起的噪声电流绝缘,并且不将外部的振动传递到探察线圈单元32。因此,能够进一步谋求减少探察线圈22的误动作。但是,探察线圈单元32需要相对于机身框架24单点接地(附图标记46)。由此,能够将探察线圈单元32所带的静电从单点接地46释放掉,能够使其电稳定。

另外,探察线圈22自身的接地与探察线圈单元32的接地是独立的。具体地讲,接地线(未图示)与连接于探察线圈22的线缆等各种电线一同连接于控制箱(未图示)。

此外,如图6所示,也可以将探察线圈单元32在其与机身框架24之未间隔着防振橡胶地安装。

采用该结构,不必设置图5所示的单点接地46。

(第2实施方式)

图7表示金属检测器的第2实施方式的俯视图,图8和图9表示侧视图。

另外,也存在对与上述第1实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

在本实施方式中,在探察线圈单元32的周围也设有屏蔽构件这一点成为特征。

即,在比探察线圈单元32靠布10的移送方向的上游侧和下游侧且是比辊28靠近探察线圈22的两个部位设有以使机身框架24相互导通的方式连结的第2导体连结构件42。

通过两个机身框架24和两个第2导体连结构件42以呈日文片假名ロ形包围探察线圈单元32的周围的方式连结,构成屏蔽构件。由此,探察线圈22减少周围的电磁波的影响,能够检测金属。

此外,第2导体连结构件42优选与导体连结构件36同样设为不锈钢制的装饰管,而且与探察线圈22的检测面22a设为同一个平面。通过这样构成,能够使检测对象的布10与该装饰管上接触而引导布10的移送。

另外,与第1实施方式同样,作为第2导体连结构件42的装饰管也可以设为铁制,使不锈钢制的构件介于装饰管与机身框架24之间的连接部分。

为了可靠地移送布10,第2导体连结构件42优选采用辊。

作为辊的结构,也可以将辊的轴42a固定在机身框架24上,借助轴承等使与布10接触的部位自由旋转。

另外,也可以不在第2导体连结构件42的上表面配置布10,而如图9所示在下表面配置布10。在这种情况下,在配置于第2导体连结构件42的外侧的辊28上以布10与其上表面接触的方式配置。

通过这样配置布10,能够对布10施加适度的张力。

接着,作为第1实施方式和第2实施方式共用的结构,说明将轴承绝缘的部分。

在图1、图5~图6、图8~图9的辊中,旋转轴的轴承通常采用内置多个金属球的轴承(在图1、图5~图6、图8~图9中未图示)。

但是,在轴承上附着有润滑脂的油膜,产生因轴承的旋转而电流流动或者不流动这样的电不稳定的状态。

当由探察线圈22的泄漏磁场引起的高频电流流入到电不稳定的轴承时,会二次扰乱探察线圈22的磁场,成为误动作的主要原因。

但是,通过将轴承与机身框架24绝缘,防止产生电不稳定的电网路而不发生误动作。

图10表示轴承的绝缘结构。

利用轴承49支承辊28的旋转轴29。轴承49安装在机身框架24的上表面。

利用螺栓50和螺母51将轴承49安装在机身框架24上。

在机身框架24的预定部位形成有上下贯通的螺栓贯通孔52。在轴承49上也形成有上下贯通的螺栓贯通孔54,将机身框架24的螺栓贯通孔52和轴承49的螺栓贯通孔54连通并插入螺栓50。

此外,设有将机身框架24的螺栓贯通孔52和轴承49的螺栓贯通孔54连通的绝缘衬套56。

绝缘衬套56具有将各螺栓贯通孔52、54的内壁面和螺栓50之间绝缘的筒状部和将螺母51和机身框架24之间绝缘的凸缘部。

此外,绝缘板58介于轴承49和机身框架24之间。这样,由于能够利用绝缘衬套56和绝缘板58将轴承49与机身框架24绝缘,因此,能够防止形成电不稳定的电网路而减少发生误动作。

图11表示轴承的绝缘结构的另一个实施方式。

另外,图11的结构只是将轴承的安装用螺栓的插入方向朝向水平方向,基本的绝缘方法与图10是同样的。

即,在机身框架24的预定部位形成有在水平方向上贯通的螺栓贯通孔52。在轴承49上也形成有在水平方向上贯通的螺栓贯通孔54,将机身框架24的螺栓贯通孔52和轴承49的螺栓贯通孔54连通并插入螺栓50。

此外,设有将机身框架24的螺栓贯通孔52和轴承49的螺栓贯通孔54连通的绝缘衬套56。

绝缘衬套56具有将各螺栓贯通孔52、54的内壁面和螺栓50之间绝缘的筒状部和将螺栓50的头部和机身框架24之间绝缘的凸缘部。

此外,绝缘板58介于轴承49和机身框架24之间。

这样,由于能够利用绝缘衬套56和绝缘板58将轴承49与机身框架24绝缘,因此,能够防止形成电不稳定的电网路而减少发生误动作。

另外,即使在像图10、图11那样将轴承部分绝缘的情况下,也设置为辊28的旋转轴29的宽度方向上的任一个端部与机身框架24导通为佳。由此,能够将在辊28上产生的静电释放到机身框架24。

另外,在像图10那样将辊28的一个端部的轴承部分绝缘的情况下,在辊28的另一个端部的、位于轴承49和机身框架24之间的部分配置与绝缘板58相同厚度的导体板(例如铝板等)为佳。通过这样设置,能够使辊28的高度一致而稳定地使辊28旋转和移送布10。

(第3实施方式)

图12表示第3实施方式的俯视图,图13表示侧视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

在第1实施方式和第2实施方式中,是将使探察线圈和屏蔽构件一体化而成的探察线圈单元安装在机身框架上的结构,但在本实施方式中,是未单元化的结构。

在本实施方式中,探察线圈22的宽度方向的两端部隔着防振橡胶44安装在机身框架24的上表面。因而,探察线圈22能够与向左右的机身框架24流入的干扰所引起的噪声电流绝缘,并且不将外部的振动传递到探察线圈22。因此,能够谋求减少探察线圈22的误动作。

另外,探察线圈22自身的接地的接地线(未图示)与连接于探察线圈22的线缆等各种电线一同连接于控制箱(未图示)。

此外,本实施方式的屏蔽构件包括各机身框架24和沿着布10的移送方向在探察线圈22的上游侧和下游侧的各个部位连结各机身框架24的两根导体60。各导体60和各机身框架24以电导通的方式安装。

通过两个机身框架24和两个导体60以呈日文片假名ロ形包围探察线圈单元32的周围的方式连结,构成屏蔽构件。由此,探察线圈22减少周围的电磁波的影响,能够进行金属的检测。

此外,导体60优选设为不锈钢制的装饰管,并且与探察线圈22的检测面22a设为同一个平面。通过这样构成,能够使检测对象的布10与该装饰管上接触而引导布10的移送。

另外,与第1和第2实施方式同样,作为导体60的装饰管也可以设为铁制,使不锈钢制的构件介于装饰管与机身框架24之间的连接部分。

(第4实施方式)

图14表示第4实施方式的俯视图,图15表示侧视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

本实施方式也与上述的第3实施方式同样是探察线圈和屏蔽构件未单元化的结构,但却是还设有辊的结构。

在本实施方式中,在导体60的移送方向的上游侧和下游侧分别设有辊28。辊28利用未图示的驱动装置驱动,移送布10。

辊需要如图10和图11所示将轴承部分绝缘。并且,为了释放掉静电,优选辊28的旋转轴29的任一侧与机身框架24导通。

(第5实施方式)

图16表示第5实施方式的立面图,图17表示侧视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

本实施方式是探察线圈和屏蔽构件未单元化的结构,且是垂直设置型。

在垂直设置型中,以探察线圈的检测面成为铅垂面的方式配置,作为被检测物的布10在铅垂方向上移动。

金属检测器20沿着布10的移送方向在宽度方向(与布10的移送方向正交的铅垂面上的方向)两侧设有两个机身框架24。

以连结机身框架24的下端部的方式设有辊62。此外,在机身框架24的上端部设有沿着水平方向延伸的梁63,在该梁63上设有辊64。

作为被检测物的布10沿着梁63在水平方向上移动,架设在辊64上而移送方向成为铅垂向下,在通过了探察线圈22之后架设在辊62上,移送方向变更为水平方向。

以连结各机身框架24的方式设有探察线圈22。

探察线圈22是在宽度方向上纵长的长方体状,其侧面与布10接触而构成为用于检测金属的检测面22a。

此外,在探察线圈22的上方和下方设有多根连结机身框架24的导体60。在本实施方式中,在探察线圈22的上部附近和探察线圈22的下部附近,分别在安装于各机身框架24的臂68的顶端各安装有1根导体60。臂68从机身框架24朝向探察线圈22的检测面22a方向突出地设置。此外,由于臂68也由导体形成,因此,导体60和各机身框架24以电导通的方式安装。

通过两个机身框架24和两个导体60以呈日文片假名ロ形包围探察线圈22的周围的方式连结,构成屏蔽构件。由此,探察线圈22减少周围的电磁波的影响,能够进行金属的检测。

另外,探察线圈22自身的接地的接地线(未图示)与连接于探察线圈22的线缆等各种电线一同连接于控制箱(未图示)。

在本实施方式中,还设有在比各导体60分别靠上方的位置和靠下方的位置将机身框架24的侧面相互连结的加强用管70。

通过将该加强用管70也设为可电导通的材质,与上述的导体60同样地构成屏蔽构件。

即,通过两个机身框架24和两根加强用管70以呈日文片假名ロ形包围探察线圈单元22的周围的方式连结,构成屏蔽构件。由此,探察线圈22不受周围的电磁波的影响,能够进行金属的检测。

在本实施方式中,在下侧的导体60和下侧的加强用管70之间设有导布器72。

通过设有导布器72,维持布10的张力,能够防止产生褶皱等。

另外,即使在像本实施方式这样垂直设置型的情况下,也可以采用把将探察线圈和屏蔽构件单元化而成的探察线圈单元安装在机身框架上的结构。

(第6实施方式)

图18表示第6实施方式的俯视图,图19表示侧视图,图20表示主视图。此外,图21是探察线圈的剖视图,图22是探察线圈的机架的侧视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

本实施方式是构成屏蔽构件的导体沿着探察线圈和正面侧的侧面和背面侧的侧面这两个侧面进行安装的结构,并且是水平设置型。

探察线圈22是在宽度方向上纵长的长方体状,其上表面与布10以接触或者不接触的方式接近而构成为用于检测金属的检测面22a。

在探察线圈22的正面侧侧面(被检测物的移送方向上游侧)和背面侧侧面(被检测物的移送方向下游侧)分别隔着绝缘板124安装有比探察线圈22的宽度方向长度长的纵长的导体74。为了设为紧凑的结构,导体74优选为能够与探察线圈22的侧面密合(隔着绝缘板124)的平板状而不是筒状。

导体74例如可以采用字母L形的角铁(以下也存在称作字母L形角铁74的情况)。此外,绝缘板124可以采用厚度2mm左右的较薄的电木板等。字母L形的角铁的一个边利用具有绝缘性的塑料螺栓76等隔着绝缘板124固定在探察线圈22的正面侧的侧面或背面侧的侧面。字母L形的角铁的另一个边的下表面隔着防振橡胶44固定在机身框架24上。

此外,导体74的宽度方向的长度长于探察线圈22的宽度方向的长度。而且,导体74的端部利用导体管126相互连结。导体管126可以采用不锈钢制管等。此外,由于导体74和导体管126利用金属制的螺栓77固定,因此,导体74和导体管126能够确保导通。

利用这样的结构,探察线圈22的周围被导体74和导体管126以呈日文片假名ロ的方式连结而构成屏蔽构件,但该屏蔽构件与探察线圈22绝缘。

但是,导体74的端部隔着防振橡胶44安装在机身框架24上。因此,导体74和机身框架24绝缘。因此,导体74和机身框架24需要单点接地(附图标记46)。由此,能够将导体74和导体管126所带的静电从单点接地46释放掉,能够使其电稳定。

另外,探察线圈22的接地与导体74和导体管126的接地是独立的。具体地讲,接地线(未图示)与连接于探察线圈22的线缆等各种电线一同连接于控制箱(未图示)。

在本实施方式中,通过探察线圈22的周围被导体74和导体管126以呈日文片假名ロ形包围的方式连结,构成屏蔽构件。由此,探察线圈22减少周围的电磁波的影响,能够进行金属的检测。此外,由于探察线圈22和导体74之间利用塑料螺栓76隔着绝缘板124被固定,因此,能够利用极为简单的结构获得这样的作用效果。

探察线圈22利用图22所示的、上表面开口的截面呈日文片假名コ形的机架45保持侧面和底面。

金属制的字母L形角铁74的一个边利用塑料等的绝缘螺栓61和绝缘螺母65隔着电木等的绝缘板124安装在机架45的两侧面。在该字母L形角铁74的另一个边设有防振橡胶44。

因此,探察线圈22与字母L形角铁74绝缘。

在机架45的侧面沿着长度方向形成有纵长的收纳槽69。在收纳槽69中收纳有用于安装字母L形角铁74的绝缘螺栓头部61a。因此,字母L形角铁74的安装位置能够沿着机架45的长度方向移动。

此外,在机架45的底面沿着长度方向形成有纵长的截面圆形的收纳孔87。该收纳孔形成为能够收纳与探察线圈22连接的同轴线缆等线缆类。

另外,在本实施方式中,对通过利用导体74和导体管126以呈日文片假名ロ形包围探察线圈22的周围的方式连结而构成屏蔽构件的方式进行了说明,但将导体74相互连结的并不限定于导体管。

例如,也可以利用导体板将导体74的两端部相互连结(未图示)。在这种情况下,由于能够将导体板配置在比探察线圈22的底面靠下方的位置,因此,也能够将探察线圈22的长度设为与导体74的长度相同的长度。

此外,也可以利用字母L形角铁而不是导体板将导体74的两端部相互连结(未图示)。

(第7实施方式)

图23表示第7实施方式的俯视图,图24表示主视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

本实施方式是除了第6实施方式的结构之外还安装有装饰管的结构,并且是水平设置型。

在探察线圈22的正面侧侧面(被检测物的移送方向上游侧)和背面侧侧面(被检测物的移送方向下游侧)分别隔着绝缘板124安装有比探察线圈22的宽度方向长度纵长的导体74。绝缘板124与上述的实施方式同样可以采用厚度2mm左右的较薄的电木板等,导体74也与上述的实施方式同样地可以采用字母L形的角铁。字母L形的角铁的一个边利用具有绝缘性的塑料螺栓76等固定在探察线圈22的正面侧的侧面或背面侧的侧面。字母L形的角铁的另一个边的下表面隔着防振橡胶44固定在导体框架34上。在导体框架34的下部配置有机身框架24。

导体74的端部利用不锈钢制管等的导体管126相互连结。因此,探察线圈22的周围被导体74和导体管126以呈日文片假名ロ形的方式包围而构成屏蔽构件。此时,由于导体74隔着绝缘板124安装在探察线圈上,导体管126与探察线圈22空开间隙地配置,因此,由导体74和导体管126构成。屏蔽构件与探察线圈22绝缘。

而且,沿着布10的移送方向在探察线圈22的上游侧和下游侧的部位分别设有连结各导体框架34的两根导体78。各导体78和各导体框架34以电导通的方式安装。

在本实施方式中,通过两个导体框架34和两根导体78以呈日文片假名ロ形包围探察线圈22的周围的方式连结而构成屏蔽构件,并且通过像上述那样两根导体74和两根导体管126以呈日文片假名ロ形包围探察线圈22的周围的方式连结而双重地构成屏蔽构件。

利用这样的结构,探察线圈22进一步减少周围的电磁波的影响,能够检测金属。

导体78设为不锈钢制的装饰管,并且与探察线圈22的检测面22a设为同一个平面为佳。通过这样构成,能够使检测对象的布10与该装饰管上接触而引导布10的移送。

另外,与其他的实施方式同样,作为导体78的装饰管也可以设为铁制,使不锈钢制的构件介于装饰管与导体框架34之间的连接部分。

另外,与第6实施方式同样,将导体74相互连结的构件并不限定于导体管。

例如也可以利用导体板将导体74的两端部相互连结(未图示)。在这种情况下,由于能够将导体板配置在比探察线圈22的底面靠下方的位置,因此,能够将探察线圈22的长度设为与导体74的长度相同的长度。

此外,也可以利用字母L形角铁而不是导体板将导体74的两端部相互连结(未图示)。

(第8实施方式)

图25表示第8实施方式的俯视图,图26表示侧视图,图27表示主视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

本实施方式是将探察线圈半屏蔽化的结构,并且是水平设置型。在本实施方式的情况下,后述的支承部和罩部相当于权利要求书中所说的屏蔽构件。

在探察线圈22的宽度方向的两端部设有在探察线圈22的正面侧和背面侧分别朝向上方延伸的支承部80。支承部80可以采用不锈钢制的面板等。

在探察线圈22的检测面22a的上方设有覆盖探察线圈22的上方的罩部82。罩部82的四角固定在4根支承部80的上端部。罩部82通常采用与探察线圈相同的图22的机架,但也可以采用不锈钢制的面板等。

另外,在各支承部80的下表面设有防振橡胶44,各支承部80隔着防振橡胶44与未图示的机身框架绝缘地固定。

被检测物进入到探察线圈22的检测面22a和罩部82之间的间隙内,能够检测是否有金属。

在探察线圈22的检测面22a上形成有高频的磁场,在探察线圈22的周围存在泄漏磁场。在本实施方式中,通过在探察线圈22的宽度方向两端部配置作为导体的支承部80,在检测面22a的上方配置作为导体的罩部82,能够将探察线圈22半屏蔽化。因此,能够减少由周围的电磁波的影响引起的探察线圈22周围的泄漏磁场的变动,能够稳定地进行检测。

(第9实施方式)

图28表示第9实施方式的主视图,图29表示侧视图,图30表示仰视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

本实施方式是将探察线圈半屏蔽化的结构,并且是垂直设置型。在本实施方式的情况中,后述的支承部和罩部相当于权利要求书中所说的屏蔽构件。

在垂直设置型中,以探察线圈22的检测面22a大致成为铅垂面的方式配置,作为被检测物的布10在铅垂方向上移动。

在探察线圈22的宽度方向的两端部设有在探察线圈22的上表面侧和下表面侧分别朝向前方延伸的支承部80和支承部84。支承部84也可以采用不锈钢制的面板等。

在探察线圈22的检测面22a的前方设有覆盖探察线圈22的前方的罩部86。罩部86的四角固定在两根支承部80的顶端部和两根支承部84的顶端部。罩部86通常采用与探察线圈22相同的图22所示的机架,但也可以采用不锈钢制的面板等。

另外,在各支承部84的下表面设有防振橡胶44,各支承部84隔着防振橡胶44与未图示的机身框架绝缘地固定。

被检测物进入到探察线圈22的检测面22a和罩部86之间的间隙内,能够检测是否有金属。

在探察线圈22的检测面22a形成有高频的磁场,在探察线圈22的周围存在泄漏磁场。在本实施方式中,通过在探察线圈22的宽度方向两端部配置作为导体的支承部80和支承部84,在检测面22a的前方配置作为导体的罩部86,能够将探察线圈22半屏蔽化。因此,能够减少由周围的电磁波的影响引起的探察线圈22周围的泄漏磁场的变动,能够稳定地进行检测。

(第10实施方式)

图31表示第10实施方式的侧视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

本实施方式是在第8实施方式所示的半屏蔽化的探察线圈上组合装饰管而成的结构。

半屏蔽化的探察线圈22的支承部80隔着防振橡胶44安装在第1托架88上。

此外,在机身框架24上安装有第2托架89。通过第1托架88安装在第2托架89上,半屏蔽化的探察线圈22固定在机身框架24上。在本图中,由于第1托架88相对于第2托架89倾斜地安装,因此,半屏蔽化的探察线圈22表示了检测面22a相对于机身框架24倾斜地安装的例子。

在半屏蔽化的探察线圈22的被检测物(布10)的移送方向的上游侧和下游侧配置有导体90。导体90设为不锈钢制的装饰管为佳。

各导体90安装在配置于机身框架24的上表面的各支架92a、92b上。在本实施方式中,布10的移送方向上游侧的支架92a以高于布10的移送方向下游侧的支架92b的方式配置。

为了使导体90引导布10,上游侧的导体90和下游侧的导体90与倾斜的探察线圈22的检测面22a的倾斜角度相应地分别以不同的高度安装在各支架92a、92b上。而且,上游侧的导体90的上表面、检测面22a以及下游侧的导体90的上表面配置成处于同一个平面。

各导体90利用字母U形的固定金属配件94固定在各个支架92a、92b上。

另外,支架92a、92b使用导电性较高的材质,各导体90和各支架92a、92b取得电导通。固定金属配件94也使用导电性的构件。

通过这样构成,在本实施方式中,两个机身框架24和两根导体90以呈日文片假名ロ形包围半屏蔽化的探察线圈22的周围的方式连结,构成屏蔽构件。由此,半屏蔽化的探察线圈22进一步减少周围的电磁波的影响,能够进行金属的检测。

此外,在本实施方式中,在导体90的移送方向的上游侧和下游侧分别设有辊96。辊96利用未图示的驱动装置驱动,移送布10。

辊需要如图10和图11所示将轴承部分绝缘。并且,为了释放掉静电,辊96的未图示的旋转轴的任一端部与机身框架24导通为佳。

另外,辊96距探察线圈离得越远,则由辊96的旋转引起的探察线圈22的误动作的影响越少。因此,在辊96和探察线圈22之间的距离分离得较大的情况下,也存在也可以不对辊96实施绝缘的情况。

(第11实施方式)

图32表示第11实施方式的俯视图,图33表示第11实施方式的侧视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

本实施方式采用设为将第8实施方式所示的半屏蔽化的探察线圈进一步与屏蔽构件一体化而成的探察线圈单元的结构。

半屏蔽化的探察线圈22与图25~图27所示的探察线圈是相同的结构,在此,不对其结构进行详细的说明。

探察线圈单元98具有半屏蔽化的探察线圈22、位于半屏蔽化的探察线圈22的宽度方向两侧的两个导体框架130、以及将各导体框架130的两端部附近互相连结的导体连结构件132。

在本实施方式中,作为例子,导体框架130采用不锈钢制的面板。此外,导体连结构件132采用不锈钢制的装饰管。

而且,导体连结构件132的上表面以与探察线圈22的检测面22a位于同一个平面上的方式配置。通过这样将导体连结构件132设为不锈钢制的装饰管,并且与探察线圈22的检测面22a设为同一个平面,能够使检测对象的布10与该装饰管上接触而引导布10的移送。

另外,与上述的各实施方式同样,作为导体连结构件132的装饰管也可以设为铁制,使不锈钢制的构件介于装饰管与导体框架130之间的连接部分。

通过两个导体框架130和两根导体连结构件132以呈日文片假名ロ形包围半屏蔽化的探察线圈22的周围的方式连结,半屏蔽化的探察线圈22进一步减少周围的电磁波的影响,能够进行金属的检测。

此外,半屏蔽化的探察线圈22的宽度方向的两端部隔着防振橡胶44安装在导体框架130上。

由此,能够使半屏蔽化的探察线圈22自身与屏蔽构件绝缘,并且不将外部的振动传递到半屏蔽化的探察线圈22。这样,探察线圈22被双重地屏蔽,能够利用双重屏蔽谋求减少探察线圈22的误动作。

另外,在上述的半屏蔽化的探察线圈22的实施方式中,罩部82、86也可以是不仅覆盖探察线圈22的与检测面22a相对的一侧的侧面也覆盖探察线圈22的侧面这样的形状。

在这种情况下,优选在罩部82、86的侧面形成有能够供布10进入这样的大小的孔。而且,由于罩部82、86自身固定在探察线圈22上,因此,在这种情况下不需要支承部80。

(第12实施方式)

图34表示第12实施方式的后视图,图35表示第12实施方式的局部剖视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

本实施方式是将探察线圈安装在验布机上的结构。

验布机110是由检查人员对布等被检查物进行目测检查的装置,在其背面侧配置照明装置112,使布在照明装置112的前面移送。

验布机110的照明装置112配置在空开预定的间隔地配置的、沿着上下方向延伸的两个验布机框架114之间。两个验布机框架114的上端部利用沿着横向方向延伸的横框架116连结。验布机框架114由导电性材料构成。

探察线圈22在照明装置112的上方隔着防振橡胶44安装在沿着上下方向延伸的两个验布机框架114之间。

具体地讲,在探察线圈22的宽度方向的两端部分别朝向沿着上下方向延伸的验布机框架114的内侧面地各设有两个防振橡胶44,利用设于各防振橡胶44的螺栓118等将探察线圈22的宽度方向两端部固定在沿着上下方向延伸的验布机框架114的内侧面。

在探察线圈22的上方和下方设有连结构件116,该连结构件116用于连结沿着上下方向延伸的验布机框架114。各连结构件116由铁制等的导电性材料构成,其与两个验布机框架114一同呈日文片假名ロ形包围探察线圈22的周围而构成。

利用这样的结构,探察线圈22减少周围的电磁波的影响,能够进行金属的检测。

另外,探察线圈22的检测面22a既可以配置为与验布机110的表面面板122设为同一个平面,探察线圈22的检测面22a也可以构成为自验布机110的表面面板122向前方突出5mm左右。

(第13实施方式)

图36表示第13实施方式的后视图,图37表示第13实施方式的局部剖视图。

另外,也存在对与上述的各实施方式相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

本实施方式是将第6实施方式所示的结构的探察线圈和屏蔽构件安装在验布机上的结构。

本实施方式的验布机110在沿着上下方向延伸的两个验布机框架114之间设有照明装置112和探察线圈22这一点上与第12实施方式是同样的。

在探察线圈22的下表面侧侧面和上表面侧侧面分别隔着绝缘板124安装有导体74。绝缘板124可以采用厚度2mm左右的较薄的电木板。

导体74例如可以采用字母L形的角铁。字母L形的角铁的一个边利用具有绝缘性的塑料螺栓等固定在探察线圈22的下表面侧的侧面或上表面侧的侧面。

此外,导体74的宽度方向的长度长于探察线圈22的宽度方向的长度,导体74的端部利用导体框100相互连结。

利用这样的结构,通过探察线圈22的周围被导体74和导体框100以呈日文片假名ロ形包围的方式连结,构成屏蔽构件。由此,探察线圈22减少周围的电磁波的影响,能够进行金属的检测。

探察线圈22在照明装置112的上方隔着防振橡胶44安装在沿着上下方向延伸的两个验布机框架114之间。

具体地讲,在探察线圈22的宽度方向的两端部分别设有朝向沿着上下方向延伸的验布机框架114的内侧面的防振橡胶44和朝向下方的防振橡胶44,利用设于各防振橡胶44的螺栓等固定在验布机框架114上。

在各验布机框架114上设有向内侧(彼此相对的方向)突出的突起部113。探察线圈22在突起部113的上表面配置安装有其两端部的防振橡胶44中的、朝下配置的防振橡胶44。

在探察线圈22的上方和下方设有连结构件120,该连结构件120用于连结沿着上下方向延伸的验布机框架114。各连结构件120由铁制等的导电性材料构成,其与两个验布机框架114一同呈日文片假名ロ形包围探察线圈22的周围而构成。

利用这样的结构,探察线圈22进一步减少周围的电磁波的影响,能够进行金属的检测。

(第14实施方式)

在本实施方式中,根据图38~图39说明控制盘140的配置。

另外,由于图38~图39所示的探察线圈单元32与第1实施方式中说明的探察线圈单元相同,因此,省略与探察线圈单元32相关的说明。此外,对于其他的结构元件而言,也存在对与上述的结构元件相同的结构元件标注相同的附图标记而省略说明的情况。

为了执行布的输送控制,控制盘140内置有程序装置等。

此外,探察线圈单元32在布10内检测出金属片等的情况下向控制盘140输出控制信号。控制信号也可以是1次的触发脉冲。控制盘140被设为当接收到探察线圈单元32的控制信号时能够使布10的输送停止或者执行其他的控制。

图38表示了通常的控制盘140的安装方法。

探察线圈单元32配置在机身框架24的上表面,机身框架24利用支脚26设置在预定高度。

此外,用于输送布10的辊28借助带31利用马达142的驱动进行旋转。

马达142配置在马达设置部144上,该马达设置部144包括从支脚26沿着水平方向延伸的载置部144a和从机身框架24向下方延伸的支承部144b。

从配电盘(未图示)向控制盘140的布线沿着支脚26布线,控制盘140安装在马达设置部144的下方的支脚26上。

而且,从控制盘140向马达142的布线也沿着支脚26布线。

图39以相对于图38采用噪声对策的状况表示了控制盘140的安装方法。

在图39中,通过将控制盘140设置在自机身框架24或支脚26分离的位置,减少噪声的影响。

而且,使绝缘板146介于马达142和马达设置部144之间。

此外,自支脚26和控制盘140分别独立地取得接地。

而且,马达142的接地也自支脚26和控制盘140独立地分别取得。马达142的带31设为非导体。

这样,通过用于设置探察线圈单元32的机身框架、支脚部、马达、控制盘等的结构也采用上述的结构,能够防止由电磁噪声引起的误动作。

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