技术总结
本发明公开了一种基于矩阵选通TR组件幅相的测试法，利用本发明可以显著减少测试人员工作量。本发明通过下述技术方式予以实现：在相控阵雷达天线中加装接收测试信号的多路矩阵开关，雷达内部的频率源产生两路测试信号，通过矩阵开关输入被测TR组件和馈电支路；波控器按雷达终端计算机TR组件接收幅相测试指令程序，将幅相调整和变频信息叠加在该测试信号上，叠加幅相信息后的测试信号被传输给与之相连的接收机，接收机将输入信号下变频和放大后送给与之相连的信号处理机，信号处理机解算出测试信号幅相值，雷达终端计算机对实测幅相值与理论幅相值进行比较，判断TR组件及馈电支路是否正常，从而获取该TR组件的移相和调幅误差，以此循环，完所有TR组件及对应馈电网络的测试。
技术研发人员：谭博;张杰;张静;张文宝;伍怀琪;张绍华;延伟勤
受保护的技术使用者：零八一电子集团有限公司
文档号码：201610728764
技术研发日：2016.08.25
技术公布日：2017.02.22