技术总结
本发明提供一种基于光谱分析的偏振特性测试方法，待测信号光通过λ/4延迟波片、起偏器进入偏振分析模块，根据实际测试需求设置合适的波长间隔；控制λ/4延迟波片同方向转动多次，在与初始位置的角度差逐渐增大至180°时停止；λ/4延迟波片在若干次转动完成后，记录光谱分析模块的光谱测试结果；λ/4延迟波片在完成多次转动后，利用记录的光谱测试数据结合λ/4延迟波片的波长相关延迟量、转动角度，计算得到待测信号光中每个波长点的斯托克斯矢量；旋转起偏器并重复以上步骤，计算得到物质在宽波段范围内多波长点的琼斯矩阵。本发明能够有效克服光学介质色散因素的影响，在一次独立测量中能够实现对信号光中的多波长点多偏振态进行分析测试。
技术研发人员：李国超;吴斌;王恒飞;应承平;杨延召;姜斌
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第四十一研究所
文档号码：201610768509
技术研发日：2016.08.22
技术公布日：2017.02.22