技术总结
本发明公开了一种具有复用可编程修调端口的霍尔传感器芯片，包括内部电路、复用端口模块、锁存模块、修调寻址模块、烧断控制模块、修调阵列模块；针对霍尔传感器芯片晶圆中测环节的修调方式的局限性，提供一种芯片成品测试环节的修调的方法，该方法在不增加芯片端口的情况下，将输出端复用为可编程修调端口，可节省封装成本，同时也提高霍尔传感器芯片性能参数的精度和产品良率。
技术研发人员：姜帆;陈利;刘玉山
受保护的技术使用者：厦门安斯通微电子技术有限公司
技术研发日：2016.08.30
技术公布日：2018.12.07