技术总结
本发明提供了一种数据测量方法，包括：获取待测波形以及所述待测波形中需要测量的各个待测参数；为每一个所述待测参数建立与其对应的测量线程；将每一个所述待测参数进行测量时所需的初始值发送给与其对应的测量线程；触发每一个测量线程，依据其各自接收到的初始值，同时对与其对应的待测参数进行测量。本发明提供的方法，通过为每一个所述待测参数建立与其对应的测量线程，触发每一个测量线程，从而能够同时对与其对应的待测参数进行测量，有效提高了参数测量速度及测试人员的测量效率。
技术研发人员：周立功
受保护的技术使用者：广州致远电子股份有限公司
文档号码：201610855239
技术研发日：2016.09.26
技术公布日：2017.03.22