磁共振成像序列相位校正方法及磁共振设备与流程

本申请涉及磁共振技术领域，尤其涉及磁共振成像序列相位校正方法及磁共振设备。

背景技术：

在磁共振成像序列中，通过多次采集不同编码梯度下磁共振信号来重建图像，对于大部分序列来说，重建图像过程中通常都会使用FFT(Fast Fourier Transformation，快速傅氏变换)算法，该算法要求多次采集的信号有相同的初相位，以避免或降低信噪比或是伪影的产生。对于TSE(快速自旋回波)序列而言，当系统采集的信号为自旋回波信号(SE)和受激回波信号(STE)的叠加时，由于两种信号的产生机理不一致，容易导致两信号不同相，出现信号强度相互抵消，导致图像变暗等情况。而对于平面回波序列(EPI)，系统采集信号时使用交替的正负梯度，正负梯度的时间幅度等的不一致也能导致采集信号的相位不同步，出现N/2伪影。

针对这些情况，往往会在正式序列扫描之前进行一个预扫描，利用预扫描数据计算出相位，再进行相位校正，从而消除相位不一致带来的影响。一般情况，由于高阶相位差相对较小，且补偿方法相对复杂，而一阶和零阶相位差出现偏差的情况较为常见，因此校正过程一般只考虑两信号的一阶和零阶相位差，其中一阶相位差表现为信号时间上的延迟，零阶相位差表现为两信号的初始相差，实际相位校正过程就是校正零阶和一阶相位差。传统的校正方法一般是通过求信号最大值附近取一段范围的重心对应的时刻，作为信号完全聚相时刻，那么两信号重心时刻的差值即为一阶相位差在时间对应的时间差。零级相差为两个信号完全聚相时刻对应的相位值的差。但是，该校正方法对一阶相位差的准确性的依赖性非常高，当一阶相位差计算错误时，零阶相位校正值也必然是错误的，而由于一阶相差计算与整个扫描区域的信号均有关系，受磁场均匀性等影响，在扫描复杂组织时有时会导致计算错误，特别是使用多通道接收线圈进行成像时。

技术实现要素：

本申请提供一种磁共振成像序列相位校正方法，包括：

通过磁共振预扫描，获取成像序列在多通道条件下每个通道的回波信号，所述回波信号包括第一回波信号和第二回波信号；

对所述多个通道的第二回波信号的信号曲线进行多次平移，确定使所述多个通道的成像相位一致性最高的位移量，作为校正位移量；

根据所述校正位移量，确定所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值和零阶相位校正值。

本申请磁共振成像序列相位校正方法，不利用信号形状直接计算一阶相位校正值，而是通过平移信号曲线确定多通道的一阶相位校正值和零阶相位校正值，能够提高多通道成像相位校正时计算一阶和零阶相位的正确性与鲁棒性，从而提高磁共振成像序列的图像质量，避免了先计算一阶相位校正值，再计算零阶相位校正值的过程容易受各种因素的影响而导致计算错误的缺陷。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，对所述多个通道的第二回波信号的信号曲线进行多次平移，包括：提供多个备选的位移量，对所述多个通道的第二回波信号的信号曲线根据所述多个备选的位移量进行相应次数的平移；其中，同一次平移过程中所述多个通道的第二回波信号的信号曲线平移的位移量相同。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，在每次平移过程中，均包括数据处理步骤以供确定所述校正位移量，所述数据处理步骤包括：

确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差；

确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道的第一回波信号和第二回波信号的相位差的标准差，组成标准差集合。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，确定使所述多个通道的成像相位一致性最高的位移量，作为校正位移量，包括：将所述标准差集合中标准差最小值对应的位移量以及该标准差最小值对应的位移量的前后两个位移量与及它们各自对应的标注差的值进行曲线拟合，将拟合曲线中的最小值点对应的位移量作为所述校正位移量。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，根据所述校正位移量，确定所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值和零阶相位校正值，包括：

将所述校正位移量作为所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值；

将在所述校正位移量条件下所述多个通道的第一回波信号和第二回波信号的相位差的平均值作为所述多个通道的回波信号的零阶相位校正值。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，采用二次曲线拟合的方法将所述标准差集合中标准差最小值对应的位移量以及该标准差最小值对应的位移量的前后两个位移量与及它们各自对应的标注差的值进行曲线拟合。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差，包括：

在每次平移过程对应的位移量条件下，根据预设的阈值条件，在所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号中选取位于同一时间段内的一段数据区域，使所述数据区域内的数据信息符合所述预设的阈值条件；

通过所述数据区域内的数据信息，确定对应的位移量条件下对应的通道的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，在所述数据区域内进一步选取一段数据窗，在所述数据窗内选取多个数据作为所述数据信息。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，将所述阈值条件预设为所述第一回波信号或所述第二回波信号的最大幅值的10％～20％范围内。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，采用加权求和的方法确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，所述数据处理步骤还包括：设定信噪比阈值，仅选取信噪比低于所述信噪比阈值的通道进行所述数据处理步骤。

本申请磁共振成像序列相位校正方法的进一步改进在于，所述成像序列为快速自旋回波序列，所述第一回波信号为自旋回波信号，所述第二回波信号为受激回波信号。

本申请还提供一种磁共振设备，包括：

回波信号获取模块，其构造为用于通过预扫描获取成像序列在多通道条件下每个通道的回波信号，所述回波信号包括第一回波信号和第二回波信号；

校正位移量确定模块，其构造为用于对所述回波信号获取模块获取的多个通道的第二回波信号的信号曲线进行多次平移，确定使所述多个通道的成像相位一致性最高的位移量，作为校正位移量；

相位校正值确定模块，其构造为用于根据所述校正位移量确定模块确定的校正位移量，确定所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值和零阶相位校正值。

本申请的磁共振设备，不利用信号形状直接计算一阶相位校正值，而是通过校正位移量确定模块采用平移信号曲线的方法，进而确定多通道的一阶相位校正值和零阶相位校正值，能够提高多通道成像相位校正时计算一阶和零阶相位的正确性与鲁棒性，从而提高磁共振成像序列的图像质量，避免了先计算一阶相位校正值，再计算零阶相位校正值的过程容易受各种因素的影响而导致计算错误的缺陷。

本申请磁共振设备的进一步改进在于，所述校正位移量确定模块进一步构造为：用于根据提供的多个备选的位移量，对所述多个通道的第二回波信号的信号曲线根据所述多个备选的位移量进行相应次数的平移；其中，同一次平移过程中所述多个通道的第二回波信号的信号曲线平移的位移量相同。

本申请磁共振设备的进一步改进在于，所述校正位移量确定模块包括：数据处理模块，其构造为用于执行以下数据处理步骤：

在每次平移过程中，均进行数据处理步骤以供确定所述校正位移量，所述数据处理步骤包括：

确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差；

确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道的第一回波信号和第二回波信号的相位差的标准差，组成标准差集合。

本申请磁共振设备的进一步改进在于，所述数据处理模块进一步构造为：用于将所述标准差集合中标准差最小值对应的位移量以及该标准差最小值对应的位移量的前后两个位移量与及它们各自对应的标注差的值进行曲线拟合，将拟合曲线中的最小值点对应的位移量作为所述校正位移量。

本申请磁共振设备的进一步改进在于，所述相位校正值确定模块进一步构造为：用于将所述校正位移量作为所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值，以及将在所述校正位移量条件下所述多个通道的第一回波信号和第二回波信号的相位差的平均值作为所述多个通道的回波信号的零阶相位校正值。

本申请磁共振设备的进一步改进在于，所述数据处理模块进一步构造为：用于在每次平移过程对应的位移量条件下，根据预设的阈值条件，在所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号中选取位于同一时间段内的一段数据区域，使所述数据区域内的数据信息符合所述预设的阈值条件，以及通过所述数据区域内的数据信息，确定对应的位移量条件下对应的通道的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差。

本申请磁共振设备的进一步改进在于，所述数据处理模块进一步构造为：用于在所述数据区域内进一步选取一段数据窗，在所述数据窗内选取多个数据作为所述数据信息。

本申请磁共振设备的进一步改进在于，所述数据处理模块还包括：信噪比阈值设定模块，其构造为用于仅选取信噪比低于所述信噪比阈值的通道进行所述数据处理步骤。

附图说明

图1是本申请示出的一种磁共振成像序列相位校正方法的流程示意图。

图2是图1所示的磁共振成像序列相位校正方法中的数据处理步骤的流程示意图。

图3是图2中步骤S201的详细流程图。

图4是图1中步骤S103的详细流程图。

图5是本申请示出的一种磁共振成像序列相位校正方法的回波信号的波形图。

图6是本申请示出的一种磁共振成像序列相位校正方法在回波信号的波形图上选取数据区域的示意图。

图7和图8是采用现有技术的相位校正方法和采用本申请示出的一种磁共振成像序列相位校正方法的结果对比图。

图9是本申请示出的一种磁共振设备的结构框图。

图10是本申请示出的一种磁共振设备的数据处理模块的结构框图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本申请可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本申请范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。

下面结合附图，对本申请磁共振成像序列相位校正方法及磁共振设备进行详细介绍。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施方式中的特征可以相互组合。

参见图1所示，图1是本申请示出的一种磁共振成像序列相位校正方法的流程示意图。本申请的磁共振成像序列相位校正方法，包括：

步骤S101：通过磁共振预扫描，获取成像序列在多通道条件下每个通道的回波信号，所述回波信号包括第一回波信号和第二回波信号。

步骤S102：对所述多个通道的第二回波信号进行多次平移，确定使所述多个通道的成像相位一致性最高的位移量，作为校正位移量。

步骤S103：根据所述校正位移量，确定所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值和零阶相位校正值。

本申请磁共振成像序列相位校正方法，不利用信号形状直接计算一阶相位校正值，而是通过平移信号曲线确定多通道的一阶相位校正值和零阶相位校正值，能够提高多通道成像相位校正时计算一阶和零阶相位的正确性与鲁棒性，从而提高磁共振成像序列的图像质量，避免了先计算一阶相位校正值，再计算零阶相位校正值的过程容易受各种因素的影响而导致计算错误的缺陷。

其中，在一方面，在上述步骤S102中，对所述多个通道的第二回波信号的信号曲线进行多次平移，包括：提供多个备选的位移量，对所述多个通道的第二回波信号的信号曲线根据所述多个备选的位移量进行相应次数的平移；其中，同一次平移过程中所述多个通道的第二回波信号的信号曲线平移的位移量相同。也就是说，同一个通道的第二回波信号的信号曲线每次平移的位移量是不同的，但是同一次平移过程中多个通道的第二回波信号的信号曲线平移的位移量是相同的。

进一步地，参见图2所示，图2是图1所示的磁共振成像序列相位校正方法中的数据处理步骤的流程示意图。在每次平移过程中，均包括数据处理步骤以供确定所述校正位移量，所述数据处理步骤包括：

步骤S201：确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差。

步骤S202：确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道的第一回波信号和第二回波信号的相位差的标准差，组成标准差集合。

优选地，所述数据处理步骤还可以包括步骤：设定信噪比阈值，仅选取信噪比低于所述信噪比阈值的通道进行所述数据处理步骤。这样，可以筛选掉一部分无效的通道的回波信号，以减少数据处理步骤的计算量，提高效率。

参见图3所示，图3是图2中步骤S201的详细流程图。在本申请的一个实施方式中，上述步骤S201，进一步包括：

步骤S2011：在每次平移过程对应的位移量条件下，根据预设的阈值条件，在所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号中选取位于同一时间段内的一段数据区域，使所述数据区域内的数据信息符合所述预设的阈值条件。

在本申请的一个实施方式中，可以在所述数据区域内进一步选取一段数据窗，在所述数据窗内选取多个数据作为所述数据信息。优选地，将所述阈值条件预设为所述第一回波信号或所述第二回波信号的最大幅值的10％～20％范围内。

步骤S2012：通过所述数据区域内的数据信息，确定对应的位移量条件下对应的通道的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差。

在本申请的一个实施方式中，可以采用加权求和的方法确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差。但是，需要说明的是，本申请并不仅限于采用加权求和的方法，也可以采用其他的求和方法，只要能够确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差即可。

在另一方面，在上述步骤S102中，确定使所述多个通道的成像相位一致性最高的位移量，作为校正位移量，包括：将所述标准差集合中标准差最小值对应的位移量以及该标准差最小值对应的位移量的前后两个位移量与及它们各自对应的标注差的值进行曲线拟合，将拟合曲线中的最小值点对应的位移量作为所述校正位移量。

在本申请的一个实施方式中，可以采用二次曲线拟合的方法将所述标准差集合中标准差最小值对应的位移量以及该标准差最小值对应的位移量的前后两个位移量与及它们各自对应的标注差的值进行曲线拟合。但是，需要说明的是，本申请并不仅限于采用二次曲线拟合的方法，也可以采用其他的曲线拟合方法，只要能实现将所述标准差集合中标准差最小值对应的位移量以及该标准差最小值对应的位移量的前后两个位移量与及它们各自对应的标注差的值进行曲线拟合即可。

参见图4所示，图4是图1中步骤S103的详细流程图，在本申请的一个实施方式中，上述步骤S103，进一步包括：

步骤S1031：将所述校正位移量作为所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值。

步骤S1032：将在所述校正位移量条件下所述多个通道的第一回波信号和第二回波信号的相位差的平均值作为所述多个通道的回波信号的零阶相位校正值。

一般，基于k空间的数据处理方法，由于所有信号在回波中心时汇聚，信号信噪比较大，且在一阶相位差正确的时候，两信号相位差为一个常数，与成像体的分布等无关，因此，此时不同通道的相位差应该具有高度的一致性。本申请磁共振成像序列相位校正方法，正是利用了上述特点，不利用信号形状直接计算一阶相位校正值，而是通过平移信号曲线确定多通道的一阶相位校正值和零阶相位校正值，类似于在不同的一阶相位校正值下，计算零阶相位值，因为不同线圈通道的零阶相位应该保持一致，所以通过平移信号曲线的位置，找到接近正确的一阶相位校正值的值，最后通过拟合方法找出最可能的校正值。因此，本申请磁共振成像序列相位校正方法，能够提高多通道成像相位校正时计算一阶和零阶相位的正确性与鲁棒性，从而提高磁共振成像序列的图像质量，避免了先计算一阶相位校正值，再计算零阶相位校正值的过程容易受各种因素的影响而导致计算错误的缺陷。

以下通过具体实施例，对本申请磁共振成像序列相位校正方法进行更为详细的介绍。在下述的实施例中，磁共振的成像序列以快速自旋回波序列、通道的数量为7个(及通道1～7)、平移的次数为5次、5次平移的位移量分别为位移量1～5为例。则相应地，所述第一回波信号为自旋回波信号，所述第二回波信号为受激回波信号。

1)关闭相位编码梯度进行磁共振预扫描，获取快速自旋回波序列不加相位编码梯度的自旋回波信号和受激回波信号两组信号。参见图5所示，假设图5所示为通道1在位移量1的条件下的自旋回波信号和受激回波信号的波形图。其中，singal1为自旋回波信号的波形图，singal1为受激回波信号的波形图。

2)根据预设的阈值条件，在所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号中选取位于同一时间段内的一段数据区域，使所述数据区域内的数据信息符合所述阈值条件。参见图6所示，假设将阈值条件设定为受激回波信号的最大幅值的10％，那么根据该阈值条件，选取出如图6中虚线范围内所表示的数据区域。将自旋回波信号在该数据区域内的数据表示为s1(i)，将受激回波信号在该数据区域内的数据表示为s2(i)，i表示数据段的位置。

3)在所述数据区域内取一定长度的数据窗，对数据窗内两信号加权求和，确定通道1在位移量1的条件下的自旋回波信号和受激回波信号之间的相位差。再对所有通道进行相同的计算，统计得到所有通道在位移量1的条件下各自的自旋回波信号和受激回波信号之间的相位差。假设数据窗的长度为5，数据中点索引为0，那么该相位差的计算公式如下：

s＝s1(-2)*s2^*(-2)+s1(-1)*s2^*(-1)…+s1(2)*s2^*(2)

然后，对所有通道的受激回波信号的信号曲线分别在位移量2～5的条件下进行平移，计算得到所有通道在位移量2～5的条件下各自的自旋回波信号和受激回波信号之间的相位差。

最后再统计出所有通道在位移量1～5的条件下的相位值的标准差，组成标准差集合。统计结果见下表1所示。

表1

4)将所述标准差集合中标准差最小值对应的位移量以及该标准差最小值对应的位移量的前后两个位移量及它们各自对应的标注差的值进行曲线拟合，将拟合曲线中的最小值点对应的位移量作为校正位移量。如表1所示，在标准差集合中找出的最小值为2，对应的位移量为位移量2。那么，位移量2的前后两个位移量就是位移量1和位移量3，将位移量1～3与位移量1～3各自对应的标注差的值(即2.6273、2以及3.01696)进行曲线拟合，将拟合曲线中的最小值点对应的位移量作为校正位移量。

5)将所述校正位移量作为所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值。将在所述校正位移量条件下所述多个通道的自旋回波信号和受激回波信号的相位差的平均值作为所述多个通道的回波信号的零阶相位校正值。

参见图7和图8所示，图7和图8是采用现有技术的相位校正方法和采用本申请示出的一种磁共振成像序列相位校正方法的结果对比图。图7所示为某次实测数据的结果展示图(图像数据仅为展示改善，扫描参数是随意设置，未考虑图像质量)，极坐标图中A处所指实心点表示采用本申请示出的一种磁共振成像序列相位校正方法的校正值(有多个点重合)，B处所指星点表示采用现有技术的相位校正方法得到的各通道的校正值(极轴长度为一阶相位校正值的长度，相位为零阶相位校正值)。

对应的，图8所示的两幅腰椎图是在同样扫描条件下，采用现有技术的相位校正方法和采用本申请示出的一种磁共振成像序列相位校正方法得到的腰椎对比图，图8中左边所示那幅图是采用现有技术的相位校正方法得到的腰椎图，图8中右边所示那幅图是采用本申请示出的一种磁共振成像序列相位校正方法得到的腰椎图。可见，当现有技术的相位校正方法进行相位校正时，由于相位差未达到完全一致而引起图像变暗，而采用本申请示出的一种磁共振成像序列相位校正方法可以得到正确校正值，因此得到的图像亮度相对较好。

与前述本申请的磁共振成像序列相位校正方法的实施例相对应，本申请还提供了一种磁共振设备的实施例。

参见图9所示，图9是本申请示出的一种磁共振设备的结构框图。本申请的磁共振设备，包括：

回波信号获取模块10，其构造为用于通过预扫描获取成像序列在多通道条件下每个通道的回波信号，所述回波信号包括第一回波信号和第二回波信号；

校正位移量确定模块20，其构造为用于对回波信号获取模块10获取的多个通道的第二回波信号的信号曲线进行多次平移，确定使所述多个通道的成像相位一致性最高的位移量，作为校正位移量；

相位校正值确定模块30，其构造为用于根据校正位移量确定模块20确定的校正位移量，确定所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值和零阶相位校正值。

本申请的磁共振设备，不利用信号形状直接计算一阶相位校正值，而是通过校正位移量确定模块采用平移信号曲线的方法，进而确定多通道的一阶相位校正值和零阶相位校正值，能够提高多通道成像相位校正时计算一阶和零阶相位的正确性与鲁棒性，从而提高磁共振成像序列的图像质量，避免了先计算一阶相位校正值，再计算零阶相位校正值的过程容易受各种因素的影响而导致计算错误的缺陷。

其中，校正位移量确定模块20进一步构造为：用于根据提供的多个备选的位移量，对所述多个通道的第二回波信号的信号曲线根据所述多个备选的位移量进行相应次数的平移；其中，同一次平移过程中所述多个通道的第二回波信号的信号曲线平移的位移量相同。

相位校正值确定模块30进一步构造为：用于将所述校正位移量作为所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值，以及将在所述校正位移量条件下所述多个通道的第一回波信号和第二回波信号的相位差的平均值作为所述多个通道的回波信号的零阶相位校正值。

进一步地，校正位移量确定模块20包括：数据处理模块210，其构造为用于执行以下数据处理步骤：

在每次平移过程中，均进行数据处理步骤以供确定所述校正位移量，所述数据处理步骤包括：

确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差；

确定在每次平移过程对应的位移量条件下所述多个通道的第一回波信号和第二回波信号的相位差的标准差，组成标准差集合。

在本申请的一个实施方式中，数据处理模块210进一步构造为：用于将所述标准差集合中标准差最小值对应的位移量以及该标准差最小值对应的位移量的前后两个位移量与及它们各自对应的标注差的值进行曲线拟合，将拟合曲线中的最小值点对应的位移量作为所述校正位移量。

在本申请的一个实施方式中，数据处理模块210进一步构造为：用于在每次平移过程对应的位移量条件下，根据预设的阈值条件，在所述多个通道各自的第一回波信号和第二回波信号中选取位于同一时间段内的一段数据区域，使所述数据区域内的数据信息符合所述预设的阈值条件，以及通过所述数据区域内的数据信息，确定对应的位移量条件下对应的通道的第一回波信号和第二回波信号之间的相位差。

在本申请的一个实施方式中，数据处理模块210进一步构造为：用于在所述数据区域内进一步选取一段数据窗，在所述数据窗内选取多个数据作为所述数据信息。

参见图10所示，图10是本申请示出的一种磁共振设备的数据处理模块的结构框图。在本申请的一个实施方式中，数据处理模块210还包括：信噪比阈值设定模块220，其构造为用于仅选取信噪比低于所述信噪比阈值的通道进行所述数据处理步骤。这样，可以筛选掉一部分无效的通道的回波信号，以减少数据处理步骤的计算量，提高效率。

上述装置中各个单元的功能和作用的实现过程具体详见上述方法中对应步骤的实现过程，在此不再赘述。

对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本申请方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上所述仅是本申请的较佳实施例而已，并非对本申请做任何形式上的限制，虽然本申请已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本申请，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本申请技术方案的范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本申请技术方案的内容，依据本申请的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本申请技术方案的范围内。