技术总结
本发明提出一种用于对试样进行光热研究的方法，包括：以电磁的激励脉冲照射样品的第一侧面；检测由于激励脉冲而从试样的与第一侧面相对的第二侧面发出的热辐射；基于通过下列方程式定义的模型评估检测的热辐射：对于0<x<L,t>0对于x＝0,t>0对于x＝L,t>0T(x,0)＝0，对于t＝0其中，进行数学平差计算，以便根据由检测的热辐射确定的在试样的第二侧面上的温度T(L,t)在时间上的变化曲线估算模型的上述参数α、k、h、η'。
技术研发人员：M·布鲁纳;M-A·塞米特斯
受保护的技术使用者：耐驰-仪器制造有限公司
文档号码：201610951501
技术研发日：2016.11.02
技术公布日：2017.05.10