技术总结
本发明实施例涉及一种基于电离室系统的检测方法,包括：将X光机设置于X光机平台上；将附加滤过片插接于滤过装置上；调节滤过装置，使附加滤过片中心与X光机的X光出射位置在同一水平位置；驱动第一底座在第一导轨上运动至工作位置；并且驱动第二底座在第二导轨上运动至工作位置；调节升降装置和升降装置上的旋转台，使设置于旋转台上的电离室装置的接收射线位置与附加滤过片中心、X光机的X光出射位置在同一条直线上；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤过片后，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；过滤后的X射线束使电离室装置内的空气发生电离，产生电离电流；静电计对电离电流进行检测，得到电离电流值。
技术研发人员：吴金杰;李婷;余继利;周振杰;廖振宇
受保护的技术使用者：中国计量科学研究院
文档号码：201610967027
技术研发日：2016.10.28
技术公布日：2017.03.08