技术总结
本发明公开一种保偏光纤的轴向应变‑双折射系数的测量系统及测量和计算方法，所述系统包括：分布式偏振串扰分析系统、输出保偏光纤、待测保偏光纤、输入保偏光纤、第一光纤应力调节架、第二光纤应力调节架、带指针的第一读数显微镜、带指针的第二读数显微镜；分布式偏振串扰分析系统的输出端口与所述输出保偏光纤的第一端连接；所述输入保偏光纤的第二端与所述分布式偏振串扰分析系统的输入端口连接；输出保偏光纤的第二端与所述待测保偏光纤的第一端连接，且在输出保偏光纤与所述待测保偏光纤的连接处引入第一预设串扰峰；所述待测保偏光纤的第二端与所述输入保偏光纤的第一端连接，且在待测保偏光纤与输入保偏光纤的连接处引入第二预设串扰峰。
技术研发人员：冯亭;丁东亮;姚晓天
受保护的技术使用者：河北大学
技术研发日：2016.11.07
技术公布日：2019.02.12