光纤传感器、光纤传感器制造方法及光纤传感器测量系统与流程

文档序号:11102940阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种光纤传感器,其特征在于,包括:第一光纤和第二光纤;

所述第一光纤和所述第二光纤均为圆柱体;

所述第一光纤的第一横截面与所述第二光纤的第一横截面熔接;所述第一光纤与所述第二光纤同轴;

所述第一光纤的第一横截面用于反射所述第一光纤的第二横截面的入射光;

所述第二光纤的第一横截面设置有与所述第二光纤同轴的圆柱形孔;

所述圆柱形孔的底面用于反射所述第一光纤的第二横截面的入射光;

所述第二光纤的第二横截面用于反射所述第一光纤的第二横截面的入射光。

2.根据权利要求1所述的光纤传感器,其特征在于,所述第一光纤包括纤芯和包层;

所述纤芯为二氧化硅材料的晶体光纤;所述包层设置有多个圆柱形空气柱;

所述圆柱形空气柱的轴与所述第一光纤的纤芯轴平行。

3.根据权利要求2所述的光纤传感器,其特征在于,所述纤芯折射率高于所述包层折射率,以使所述纤芯与所述包层的接触面对光能够全反射。

4.根据权利要求1所述的光纤传感器,其特征在于,所述第二光纤为蓝宝石光纤;所述第二光纤的长度为10~6000μm。

5.根据权利要求1所述的光纤传感器,其特征在于,所述圆柱形孔填充气体为空气;所述圆柱形孔的长度为10~3000μm;所述圆柱形孔的端面直径为11~80μm。

6.一种光纤传感器制造方法,其特征在于,包括:

步骤一,将第一光纤和第二光纤切割为设定长度的圆柱体;

步骤二,通过飞秒激光在所述第二光纤的第一横截面上加工一个与所述第二光纤同轴的圆柱形孔;

步骤三,通过熔接机将所述第一光纤的第一横截面与所述第二光纤的第一横截面熔接;所述第一光纤与所述第二光纤同轴。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述第一光纤为二氧化硅材料的晶体光纤。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述第二光纤为蓝宝石光纤;所述第二光纤的长度为10~6000μm。

9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述圆柱形孔填充气体为空气;所述圆柱形孔的长度为10~3000μm;所述圆柱形孔的底面直径为11~80μm。

10.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述熔接机的放电时间为0.3秒,所述熔接机的放电电流为4.8mA。

11.一种光纤传感器测量系统,其特征在于,包括:光源、光谱测量单元、计算单元和权利要求1~5中任一项所述的光纤传感器;

所述光源和所述光谱测量单元均设置在所述第一光纤的第二端面;

所述光谱测量单元,用于测量第一反射光与第二反射光的第一相位差;测量第二反射光与第三反射光的第二相位差;

所述第一反射光为所述第一光纤的第一横截面的放射光;

所述第二反射光为所述圆柱形孔的底面的放射光;

所述第三反射光为所述第二光纤的第二横截面的放射光;

所述计算单元,用于基于所述光谱测量单元测量得到的所述第一相位差和所述第二相位差,计算环境温度和环境应力。

12.根据权利要求11所述的系统,其特征在于,所述计算单元,具体用于:

基于所述光谱测量单元得到的所述第一相位差,计算所述圆柱形孔的长度;根据所述圆柱形孔的长度与应力的映射关系,得到环境应力;

基于所述光谱测量单元得到的所述第二相位差,计算所述圆柱形孔的底面至所述第二光纤的第二横截面的距离;基于所述距离与温度的映射关系,得到环境温度。

当前第2页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1