基于POS机闪付功能自动测试系统及测试方法与流程

文档序号:11111396阅读:527来源:国知局
基于POS机闪付功能自动测试系统及测试方法与制造工艺

本发明涉及一种基于POS机闪付功能自动测试系统及测试方法。



背景技术:

随着市场需求日益强烈,POS机功能也越来越丰富,闪付刷卡功能对于POS机来说已经算是一个必选的功能,一次批量生产通常都会有成千上万台机器,如何高效的筛选出有故障的机器,对于各大POS厂商来说至关重要的,避免将有问题的POS机流到客户手中,影响客户体验及公司信誉。因此在POS机生产完成后,需要进行必要的功能测试,筛选出有故障的机器。传统的闪付功能测试方法为人工直接参与方法,这种测试方法效率低,人为因素大,生产成本高,违背了测试的初衷。因此应用本发明的POS机闪付功能自动测试仪可对这些缺点进行改进。



技术实现要素:

本发明的目的在于提供一种基于POS机闪付功能自动测试系统及测试方法,本发明实现了POS机闪付功能的自动测试,解决了人工测试效率低,人为干扰,生产成本高;同时避免人为参与而产生误操作、误判的现象。

为实现上述目的,本发明的技术方案是:一种基于POS机闪付功能自动测试系统,包括场强功能模块、非接智能卡模块;

所述场强功能模块包括STM32最小系统模块、LED显示模块、供电模块、串口模块、稳压/校验模块、滤波整流模块、耦合天线,所述STM32最小系统模块分别与LED显示模块、供电模块、串口模块、稳压/校验模块,所述LED显示模块还与所述供电模块连接,所述耦合天线与所述非接智能卡模块连接,并经滤波整流模块与稳压/校验模块连接,所述耦合天线还与POS机设备的天线进行天线耦合;

所述非接智能卡模块包括与所述耦合天线连接的非接卡芯片。

在本发明一实施例中,所述STM32最小系统模块集成有AD采样电路。

在本发明一实施例中,所述STM32最小系统模块采用STM32F103RBT6芯片。

在本发明一实施例中,所述供电模块包括MP26028锂电池充电模块及与其连接的锂电池。

在本发明一实施例中,所述LED显示模块为LED液晶。

在本发明一实施例中,所述串口模块为SP202E串口模块,用于实现STM32最小系统模块与PC的通信。

在本发明一实施例中,所述非接卡芯片为复旦微1208。

本发明还提供了一种采用上述所述基于POS机闪付功能自动测试系统的测试方法,其特征在于:包括如下步骤,

S1:启动系统,设置一计数值t=0;

S2:将POS机设备置于场强功能模块的耦合天线处,POS机设备的天线通过与耦合天线进行天线耦合,并经滤波整流、稳压/校验模块以及集成于STM32最小系统模块的AD采样电路采样场强值后,传输给STM最小系统模块;

S3:判断计数值t是否等于5,若是,置计数值t=0,执行步骤S5;否则,执行步骤S4;

S4:判断4cm中心位置场强值是否大于3V,若是,则POS机设备闪付功能正常,计数值t+1,并将结果通过串口模块传输给PC机记录,而后重新执行步骤S2;否则,POS机设备闪付功能故障,计数值t+1,并将结果通过串口模块传输给PC机记录,而后重新执行步骤S2;

S5:结束本台POS机设备闪付功能测试。

相较于现有技术,本发明具有以下有益效果:本发明采用了STM32最小系统,在72 MHz时钟频率时从闪存执行代码,STM32功耗36mA,是32位市场上功能最低的产品,有效降低POS闪付功能测试功耗;同时引入锂电池充电装置,可重复利用,节约资源;且本发明还实现了POS机闪付功能的自动测试,解决了人工测试效率低,人为干扰,生产成本高;同时避免人为参与而产生误操作、误判的现象。

附图说明

图1为本发明基于POS机闪付功能自动测试装置原理框图。

图2是本发明STM32最小系统模块的电路原理图。

图3是本发明LED显示模块的电路原理图。

图4是本发明场强卡模块的电路原理图。

图5是本发明采用串口模块的电路原理图。

图6是本发明采用电源模块的电路原理图。

图7是本发明的POS机闪付功能自动测试系统的测试方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图1-7,对本发明的技术方案进行具体说明。

如图1-6所示,本发明的一种基于POS机闪付功能自动测试系统,包括场强功能模块、非接智能卡模块;

所述场强功能模块包括STM32最小系统模块、LED显示模块、供电模块、串口模块、稳压/校验模块、滤波整流模块、耦合天线,所述STM32最小系统模块分别与LED显示模块、供电模块、串口模块、稳压/校验模块,所述LED显示模块还与所述供电模块连接,所述耦合天线与所述非接智能卡模块连接,并经滤波整流模块与稳压/校验模块连接,所述耦合天线还与POS机设备的天线进行天线耦合;

所述非接智能卡模块包括与所述耦合天线连接的非接卡芯片,该非接卡芯片可采用复旦微1208等芯片。

所述STM32最小系统模块集成有AD采样电路。所述STM32最小系统模块采用STM32F103RBT6芯片。

所述供电模块包括MP26028锂电池充电模块及与其连接的锂电池。

所述LED显示模块为LED液晶。

所述串口模块为SP202E串口模块,用于实现STM32最小系统模块与PC的通信。

由于每测试一台POS机设备的闪付功能时,都需要记录4cm中心位置场强值5次数据以及是否通过测试情况。实际EMV规范是对0~4CM的场强值都有一个特定的标准范围值,因此,只要保证4cm的位置符合规范要求,0~3cm也能满足要求!生产测试为了简化测试流程,因此只测试4cm,如图7所示,本发明采用上述所述基于POS机闪付功能自动测试系统的具体测试流程如下;

S1:启动系统,设置一计数值t=0;

S2:将POS机设备置于场强功能模块的耦合天线处,POS机设备的天线通过与耦合天线进行天线耦合,并经滤波整流、稳压/校验模块以及集成于STM32最小系统模块的AD采样电路采样场强值后,传输给STM最小系统模块;

S3:判断计数值t是否等于5,若是,置计数值t=0,执行步骤S5;否则,执行步骤S4;

S4:判断4cm中心位置场强值是否大于3V,若是,则POS机设备闪付功能正常,计数值t+1,并将结果通过串口模块传输给PC机记录,而后重新执行步骤S2;否则,POS机设备闪付功能故障,计数值t+1,并将结果通过串口模块传输给PC机记录,而后重新执行步骤S2;

S5:结束本台POS机设备闪付功能测试。

上述POS机设备闪付功能测试中,只有PC机记录的一台POS机设备的5次POS机设闪付功能测试均正常的情况下,才认为该POS机设备符合要求。

以下为本发明的具体实施例。

本发明的POS机闪付功能自动测试仪分为场强功能模块、非接智能卡模块以及被测POS机设备三大部分组成,其中场强功能模块设有STM32最小系统模块、AD采样电路、LED显示模块、供电模块(由MP26028锂电池充电模块及与其连接的锂电池组成,本实施例采用3.7V锂电池)、串口模块、耦合天线、滤波整流、稳压/校验模块;所述的模块间连接关系(如图1所示):测试仪天线与非接智能卡模块相连接,并连接滤波整流、稳压/校验模块,且被测POS机闪付功能天线与测试仪天线进行天线耦合;稳压/校验模块与AD采样电路相连接,AD采样电路集成于最小系统模块中;最小系统模块分别与LED显示模块、串口模块相连接;供电模块与STM32最小系统及LED显示模块连接供电;具体如下:

图2所示,为本发明采用的STM32最小系统模块的电路原理图,STM32最小系统模块采用STM32F103RBT6芯片,并连接有晶振电路等外围电路。

图3所示,为本发明采用的LED显示模块的电路原理图,具体的该LED显示模块采用LED液晶。

图4所示,为本发明的耦合天线、滤波整流、稳压/校验模块、非接智能卡模块的非接卡芯片构成的场强卡模块,其中场强卡模块的PICC_ADC与STM32最小系统模块相连接,STM32最小系统模块芯片通过AD采样的检测方式,监测场强值,人为只需将POS机设备放入本申请装置中(即场强卡耦合天线处),实现闪付功能自动测试的目的。

图5所示,为本发明采用的串口模块的电路原理图,该串口模块采用SP202E芯片,用于实现STM32最小系统模块与PC的通信,以便于将检测的数据上传到PC,实现PC自动统计数据,形成列表,使得测试结果一目了然。

图6所示,为本发明采用的电源模块的电路原理图,该电源模块用于将3.7V锂电池输出电压转换为3.3V、5V两路电源,其中3.3V电源供给STM32最小系统模块及LED显示模块,5V电源供给SP202E串口模块。

本发明主要针对POS机闪付功能生产测试应用实际需求,结合长期应用经验,引入了场强功能以及智能卡片为一体的测试技术,克服现有传统人工非接闪付测试中存在的效率低,人为因素干扰,生产成本高等缺点。同时添加与PC串口通信技术优化了测试结果输出的准确性,实现智能化。本发明产品设计具有如下的优点:

1、本发明采用了STM32最小系统,在72 MHz时钟频率时从闪存执行代码,STM32功耗36mA,是32位市场上功能最低的产品,可有效监听POS机闪付功能测试数据并上传至PC机上,完成一次测试流程仅需5s的时间并能够记录5组有效数据;同时引入锂电池充电装置,可重复利用,节约资源。

2、完善的筛选故障机制:本发明摒弃传统的人工直接参与测试,引入场强卡测试方案和串口数据通信来进行自动测试;解决人工测试效率低,人为干扰,生产成本高;同时避免人为参与而产生误操作、误判的现象;

3、引入独有的,适合POS机闪付功能准确筛选软件流程,实现高效可靠的筛选出故障主板,使系统更具自动化。

4、结合LED液晶显示,采集数据上传PC分析功能,实现准确定位故障主板的完善性。

以上是本发明的较佳实施例,凡依本发明技术方案所作的改变,所产生的功能作用未超出本发明技术方案的范围时,均属于本发明的保护范围。

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