技术总结
本发明公开了一种双探针飞针测试装置的校准方法，包括：获取固定探针当探头从其旋转轴的原点开始自转0度时的第一坐标、自转90度时的第二坐标、和自转180度的第三坐标；获取移动探针当其距离固定探针初始距离时的第四坐标以及当其距离固定探针预设距离时的第五坐标；获取摄像单元的坐标；根据所述第一、第二、第三、第四、第五坐标和摄像单元的坐标，获取当固定探针和所述移动探针的距离为第一距离、固定探针和移动探针的连线与X轴夹角为第一角度时，固定探针到摄像单元的距离；根据固定探针到摄像单元的距离对双探针飞针测试装置进行校准。由此，实现对双探针位置的校准，保证双探针能够准确地扎到被测线路板上对应的点。
技术研发人员：赵凌云;杨连卫
受保护的技术使用者：南京协辰电子科技有限公司
文档号码：201611270453
技术研发日：2016.12.30
技术公布日：2017.05.31