光学检测系统的制作方法

本实用新型涉及一种光学检测系统，更明确地说，本实用新型是一种检出面板上的瑕疵或异物的光学检测系统。

背景技术：

现行面板厂商在检出偏光片下的异物时，一般偏光片表面都会贴有保护层。由于在偏光片出货前，偏光片厂商会先单独检测偏光片是否有瑕疵，并确认偏光片无瑕疵之后，再将保护膜贴合在偏光片上出货给面板厂商。面板厂商拿偏光片去贴合面板时，有时会因为厂内机台问题，造成偏光片贴合时异物会掉落在面板上，之后偏光片与面板贴合后，将使得异物介于偏光片与面板间，造成损失良率。

由于偏光片与保护膜是贴合在一起，所以面板厂商的检测设备必须厘清哪些缺陷是在保护膜上而不用视为异物检出。因为消费者使用产品前会撕掉保护膜，不会造成产品的损失。但面板厂商在检测时，却很难把保护膜的瑕疵与偏光片和面板间的瑕疵或异物分辨清楚。

一种现有技术利用保护膜与偏光片的厚度差，再利用光学系统聚焦景深差异，分辨出哪一个厚度的缺陷，但保护膜与偏光片的厚度都很薄，造成该现有技术误判的机会很高；另一种现有技术利用不同的光源打光方式，希望可以区分出保护膜与偏光片的差异，但效果都不是很好。

所以目前机器视觉检测是将保护膜撕开以后，直接检测偏光片与面板表面，是否有瑕疵与异物存在，此机器视觉检测方式固然可行，但必须在检测完毕后，须再将保护膜贴回偏光片，且需要贴的美观，会花费在贴合机台或人工处理，而耗损时间与金钱。

本实用新型若能提供一种光学检测系统，能够排除贴在偏光片上保护膜的瑕疵与异物，而准确检出偏光片下而位在面板上的瑕疵或异物，将具有产业的实用性。

技术实现要素：

本实用新型的目的是为了排除贴在偏光片上保护膜的瑕疵与异物，并检出偏光片下而位在面板上的瑕疵或异物，而提供一种光学检测系统。

本实用新型的另一目的是为了利用一可旋转的系统偏光片配合待检测面板的一偏光片，基于相位差90度的影像比较以检出待检测面板上的瑕疵或异物，而提供一种光学检测系统。

达到上述本实用新型其中之一目的的一种光学检测系统，用以检测一面板的瑕疵或异物，该面板上贴有一偏光片，且该偏光片上面贴有一保护膜，该光学检测系统包含：一摄影装置，朝向该面板的保护膜拍摄一第一影像与一第二影像；一系统偏光片，配置于该摄影装置与该面板之间；以及一偏光旋转装置，保持该系统偏光片平行该面板的偏光片，且可旋转该系统偏光片位于一第一角度刻度与一第二角度刻度，其中该第一角度刻度与该第二角度刻度相差九十度；其中，该摄影装置在该系统偏光片位于该第一角度刻度时拍摄该第一影像，且在该系统偏光片位于该第二角度刻度时拍摄该第二影像，该第一影像与该第二影像作影像相减处理，以检出该偏光片下的瑕疵或异物。

其中，该摄影装置拍摄该第一影像时，系统偏光片与该面板的偏光片的相位差等于0度，该摄影装置拍摄该第二影像时，系统偏光片与该面板的偏光片的相位差等于90度。

其中，本实用新型光学检测系统进一步包含一图像处理设备，该图像处理设备从该摄影装置接收该第一影像与该第二影像，且执行影像相减处理，以检出该偏光片下的瑕疵或异物。

达到本实用新型目的的光学检测系统可适用于有偏光片的光电产业，如TFT-LCD，OLED等，能够排除贴在偏光片上保护膜的瑕疵与异物，而检出偏光片下而位在面板上的瑕疵或异物，进而有效率的改善检出良率。

附图说明

图1为本实用新型光学检测系统的系统架构图；

图2为本实用新型光学检测系统检出的第一影像图与第二影像图。

符号说明：

2 摄影装置

4 系统偏光片

5 偏光旋转装置

6 辅助光源

8 图像处理设备

10 光学检测系统

12 面板

14 偏光片

16 保护膜

21 面板的瑕疵或异物

22 保护膜的瑕疵或异物

具体实施方式

如图1所示，显示本实用新型光学检测系统的系统架构图。本实用新型的较佳实施例利用两偏光片间光学特性的作用原理，两偏光片同相位或相位差＝0度时，光线可以穿过两偏光片，但如果两偏光片的相位差＝90度时，光线会无法穿过。

在本实用新型的较佳实施例中，一种光学检测系统10用以检测一面板的瑕疵或异物21，该面板12上贴有一偏光片14，且该偏光片14上面贴有一保护膜16，而瑕疵或异物21位于该面板12与偏光片14之间。为了分辨出偏光片14下异物21或是保护膜16本身的缺陷与异物22，本实用新型光学检测系统10包含一系统偏光片4，并利用系统偏光片4与该面板12的偏光片14间光学特性的作用，来检出位在该偏光片14下面板12的瑕疵或异物21。此外，本实用新型光学检测系统10进一步包含一摄影装置2，其中，摄影装置2朝向该面板12的保护膜16拍摄，而系统偏光片4位于该摄影装置2与待检测面板12之间。

在本实用新型的较佳实施例中，光学检测系统10进一步包含：一偏光旋转装置5以及一辅助光源6，其中，该偏光旋转装置5可利用刻度旋钮结合齿轮组等任何调整机构，以定位该系统偏光片4的旋转角度，并保持该系统偏光片4与偏光片14之间呈平行且与摄影装置2的拍摄光轴呈垂直。另该辅助光源6配置于系统偏光片4与待检测面板12之间，作为提供照亮该面板12上该保护膜16的光源。

如图2所示，显示本实用新型光学检测系统检出的第一影像图与第二影像图。在本实用新型的较佳实施例中，当该系统偏光片4与偏光片14同相位或相位差＝0度时，光线可以完全穿过两偏光片4,14，透过摄影装置2所拍摄的第一影像可以同时显示该保护膜的瑕疵或异物22与位于偏光片14与面板12间的瑕疵或异物21。此时操作偏光旋转装置5将系统偏光片4旋转90度，使该系统偏光片4与偏光片14的相位差＝90度时，光线就不会透过，透过摄影装置2所拍摄的第二影像仅显示该保护膜的瑕疵或异物22，而不会显示位于偏光片14与面板12间的瑕疵或异物21。因此，如图2所示，比较上下两组第一影像与第二影像，由小圆所标示之处即为偏光片14与面板12间的瑕疵或异物21的位置。

为了自动检出偏光片14与面板12间的瑕疵或异物21，在本实用新型的另一实施例中，光学检测系统10进一步包含一图像处理设备8，该图像处理设备8电气连接该摄影装置2，并从该摄影装置2接收该第一影像与该第二影像，且执行影像相减处理，以检出该偏光片下的瑕疵或异物21所处位置。而在本实用新型的再一实施例中，光学检测系统10的偏光旋转装置5包含一步进马达，该步进马达电气连接该图像处理设备8，且该步进马达结合齿轮组可定位该系统偏光片4的旋转角度。因此，图像处理设备8可控制该步进马达以旋转系统偏光片4，而从摄影装置2接收获得第一影像与第二影像，将两个影像相减处理后，便可自动检出偏光片14与面板12间的瑕疵或异物21的位置。

以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。