一种高密度积层板用aoi自动光学检查机缺陷测试板的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于高密度积层板AOI自动光学检查机缺陷识别能力测试技术领域，尤其是一种高密度积层板用AOI自动光学检查机缺陷测试板。
【背景技术】
[0002]在高密度积层板生产过程中需要使用AOI自动光学检查机进行电路板进行检查，其以光学部件采集电路板线路层的图像，然后将该图像进行识别，并与设备中预先存储的标准线路层进行逻辑比较，包括特征点检查、设计规则检查和形态检查等项，由此判断检查的电路板是否存在缺陷，其具有检查速度快、准确等优点。检查的缺陷包括:1/2缺口、2/3缺口、1/3缺口、1/4缺口、1/2突铜、1/3突铜、2/3突铜、断路、短路、残铜、50%线细、50%线宽、错位、丢盘和针孔。但随着AOI自动光学检查机的长期使用，其光学部件和其它部件均会出现老化，其检查缺陷的能力会下降，现有技术中没有发现使用缺陷测试板来进行AOI自动光学检查机检查能力的测试。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供结构简单、预设各种缺陷的一种高密度积层板用AOI自动光学检查机缺陷测试板。
[0004]本实用新型采取的技术方案是:
[0005]—种高密度积层板用AOI自动光学检查机缺陷测试板，包括基板，其特征在于:所述基板左侧由上至下制出密线路层，该密线路层上由上至下依次制出1/3缺口、1/4缺口、I/2缺口、1/4缺口、2/3缺口和断路共六个缺陷；
[0006]在密线路层右侧的基板上制出由上至下的疏线路层，该疏线路层上由上至下依次制出短路、1/3突铜和1/2突铜共三个缺陷，该疏线路层上方的基板上制出焊盘，该焊盘与疏线路层的相邻处制出一短路缺陷，该短路缺陷右侧的焊盘处制出丢盘缺陷；
[0007]所述疏线路层右侧的基板上制出短线路层，该短线路层上由上至下依次制出两个针孔缺陷；
[0008]所述短线路层右侧的基板上制出长线路层，该长线路层上由上至下制出1/2缺口和残铜共两个缺陷；
[0009]所述短线路层右侧的基板右上至下依次制出上焊盘、超短线路层和下焊盘，上焊盘制出残铜缺陷，超短线路层上由左至右依次制出50%线细和50%线宽共两个缺陷，下焊盘制出错位缺陷；
[0010]所述超短线路层右侧基板上制出稀疏线路层，该稀疏线路层上由上至下依次制出2/3突铜和断路共两个缺陷。
[0011]而且，靠近基板四个边缘的表面上制出覆铜边框。
[0012]本实用新型的优点和积极效果是:
[0013]本实用新型中，基板表面由左至右依次制出密线路层、疏线路层、短线路层、长线路层、超短线路层和稀疏线路层，每个线路层及其周边制出的焊盘上制出1/2缺口、2/3缺口、1/3缺口、1/4缺口、1/2突铜、1/3突铜、2/3突铜、断路、短路、残铜、50%线细、50%线宽、错位、丢盘和针孔这些缺陷，使用时，AOI自动光学检查机拍摄基板的图样，并与设备中通过CAM资料转换的标准图样进行比较，通过比较结果来判断设备能否将全部缺陷识别出来，还可以每次拍摄时只挑选一处或几处缺陷并遮挡其它缺陷，以此来提高检查效率，总之，不管何种方式均可以准确的测试设备的识别能力。
【附图说明】
[0014]图1是本实用新型的结构不意图；
[0015]图2是短路的放大图；
[0016]图3是短路的放大图；
[0017]图4是丢盘的放大图；
[0018]图5是1/2缺口的放大图；
[0019]图6是残铜的放大图；
[0020]图7是残铜的放大图；
[0021]图8是50%线细的放大图；
[0022]图9是50%线宽的放大图；
[0023]图10是2/3突铜的放大图；
[0024]图11是断路的放大图；
[0025]图12是断路的放大图；
[0026]图13是错位的放大图；
[0027]图14是针孔的放大图；
[0028]图15是1/2突铜的放大图；
[0029]图16是1/3突铜的放大图；
[0030]图17是2/3缺口的放大图；
[0031]图18是1/4缺口的放大图；
[0032]图19是1/3缺口的放大图。
【具体实施方式】
[0033]下面结合实施例，对本实用新型进一步说明，下述实施例是说明性的，不是限定性的，不能以下述实施例来限定本实用新型的保护范围。
[0034]一种高密度积层板用AOI自动光学检查机缺陷测试板，如图1所示，包括基板17，本实用新型的创新在于:所述基板左侧由上至下制出密线路层A，该密线路层上由上至下依次制出 1/3缺口 15(图 19)、1/4缺口14(图18)、1/2缺口3(图5)、1/4缺口14(图18)、2/3缺口13(图17)和断路8(图12)共六个缺陷;缺陷由白色方框圈住。
[0035]在密线路层右侧的基板上制出由上至下的疏线路层B，该疏线路层上由上至下依次制出短路I (图2 )、I/3突铜12 (图16)和I /2突铜11 (图15)共三个缺陷，该疏线路层上方的基板上制出焊盘C，该焊盘与疏线路层的相邻处制出一短路1(图3)缺陷，该短路缺陷右侧的焊盘处制出丢盘2(图4)缺陷;缺陷由白色方框圈住。
[0036]所述疏线路层右侧的基板上制出短线路层D，该短线路层上由上至下依次制出两个针孔10(图14)缺陷;缺陷由白色方框圈住。
[0037]所述短线路层右侧的基板上制出长线路层E，该长线路层上由上至下制出1/2缺口3(图5)和残铜4(图7)共两个缺陷;缺陷由白色方框圈住。
[0038]所述短线路层右侧的基板右上至下依次制出上焊盘F、超短线路层G和下焊盘H，上焊盘制出残铜4(图6)缺陷，超短线路层上由左至右依次制出50%线细5(图8)和50%线宽6(图9)共两个缺陷，下焊盘制出错位9(图13)缺陷;缺陷由白色方框圈住。
[0039]所述超短线路层右侧基板上制出稀疏线路层I，该稀疏线路层上由上至下依次制出2/3突铜7(图10)和断路8(图11)共两个缺陷。缺陷由白色方框圈住。
[0040]靠近基板四个边缘的表面上制出覆铜边框16。
[0041 ]本实用新型使用时:将测试板放在AOI自动光学检查机上，拍摄基板的图样，并与设备中通过CAM资料转换的标准图样进行比较，通过比较结果来判断设备能否将全部缺陷识别出来，还可以每次拍摄时只挑选一处或几处缺陷并遮挡其它缺陷，以此来提高检查效率。
[0042]本实用新型中，基板表面由左至右依次制出密线路层、疏线路层、短线路层、长线路层、超短线路层和稀疏线路层，每个线路层及其周边制出的焊盘上制出1/2缺口、2/3缺口、1/3缺口、1/4缺口、1/2突铜、1/3突铜、2/3突铜、断路、短路、残铜、50%线细、50%线宽、错位、丢盘和针孔这些缺陷，能够准确的测试设备的识别能力。
【主权项】
1.一种高密度积层板用AOI自动光学检查机缺陷测试板，包括基板，其特征在于:所述基板左侧由上至下制出密线路层，该密线路层上由上至下依次制出1/3缺口、1/4缺口、1/2缺口、1/4缺口、2/3缺口和断路共六个缺陷； 在密线路层右侧的基板上制出由上至下的疏线路层，该疏线路层上由上至下依次制出短路、1/3突铜和1/2突铜共三个缺陷，该疏线路层上方的基板上制出焊盘，该焊盘与疏线路层的相邻处制出一短路缺陷，该短路缺陷右侧的焊盘处制出丢盘缺陷； 所述疏线路层右侧的基板上制出短线路层，该短线路层上由上至下依次制出两个针孔缺陷； 所述短线路层右侧的基板上制出长线路层，该长线路层上由上至下制出1/2缺口和残铜共两个缺陷； 所述短线路层右侧的基板右上至下依次制出上焊盘、超短线路层和下焊盘，上焊盘制出残铜缺陷，超短线路层上由左至右依次制出50%线细和50%线宽共两个缺陷，下焊盘制出错位缺陷； 所述超短线路层右侧基板上制出稀疏线路层，该稀疏线路层上由上至下依次制出2/3突铜和断路共两个缺陷。2.根据权利要求1所述的一种高密度积层板用AOI自动光学检查机缺陷测试板，其特征在于:靠近基板四个边缘的表面上制出覆铜边框。
【专利摘要】本实用新型涉及一种高密度积层板用AOI自动光学检查机缺陷测试板，基板表面由左至右依次制出密线路层、疏线路层、短线路层、长线路层、超短线路层和稀疏线路层，每个线路层及其周边制出的焊盘上制出1/2缺口、2/3缺口、1/3缺口、1/4缺口、1/2突铜、1/3突铜、2/3突铜、断路、短路、残铜、50％线细、50％线宽、错位、丢盘和针孔这些缺陷。本实用新型使用时，AOI自动光学检查机拍摄基板的图样，并与设备中通过CAM资料转换的标准图样进行比较，通过比较结果来判断设备能否将全部缺陷识别出来，可以每次拍摄时只挑选一处或几处缺陷并遮挡其它缺陷，以此来提高检查效率，何种方式均可以准确的测试设备的识别能力。
【IPC分类】G01N21/93, G01N21/88
【公开号】CN205229058
【申请号】CN201520886837
【发明人】王涛
【申请人】天津普林电路股份有限公司
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年11月6日