技术特征：
技术总结
本发明涉及用于光学检测流体(200)中的粒子(400)的系统。其一方面包括传感器平台(300)，所述传感器平台具有用于接收所述粒子(400)的传感器表面(350)和从传感器表面(350)延伸的材料，所述材料具有高于流体(200)中的一个的折射率的折射率，使得在该平台材料(310)中传播并且以大于临界光学角的角入射到传感器表面(350)的电磁波(10)在传感器表面(350)上被全反射。所述粒子(400)包括金属材料(410)，所述金属材料在以(一个或多个)激发波长激发的情况下实现至少一个共振波长处的局部等离子共振。其还被布置为悬浮在流体(200)中。另一方面，所述系统包括全反射波(20)的光谱的至少部分的光学检测器(102)，所述部分包括所述至少一个共振波长。处理器还布置为根据从检测到的波长检索的受抑全内反射(“FTIR”)信号来确定传感器表面(350)上或附近的所述粒子(400)的存在，其中，该检索考虑了存在于FTIR信号中的(一个或多个)检测到的共振分量。本发明还涉及传感器平台(300)本身、分析器和方法。
技术研发人员：G·克里什纳穆尔蒂;J·G·奥塞尔;J·J·H·B·施莱彭
受保护的技术使用者：皇家飞利浦有限公司
技术研发日：2016.12.20
技术公布日：2018.08.31