本技术涉及光学测量微粒的特性的微粒测量设备，并且更具体地，涉及光学测量微粒(诸如，细胞)的特性的微粒测量设备，信息处理设备，以及信息处理方法。
背景技术：
近年来，随着分析技术进一步发展，开发技术以使诸如细胞和微生物的生物微粒、诸如微珠等微粒在流路中流动以便单独测量微粒，并且分析或分配所测量微粒。
在分析或分配微粒的典型技术中，称为流式细胞术的分析技术在技术上得到迅速改进。流式细胞术是通过使待分析的微粒在流体中微粒对齐的状态下流动，用激光等照射微粒，以及检测由相应微粒发出的荧光或散射光来分析或分配微粒的技术。
例如，在检测到来自细胞的荧光的情况下，用激发光(诸如，具有足够波长和强度的激光)照射用荧光染料标记的细胞。然后，通过透镜等收集由荧光染料发出的荧光，通过使用诸如滤波器和二向色镜的波长选择装置选择适当波长区域中的光，并且通过使用诸如pmt(光电倍增管)的光接收装置检测所选择的光。这时，通过结合多个波长选择装置和光接收装置，可以同时检测并且分析来自标记细胞的多个荧光染料的荧光。此外，通过合成具有多个波长的激发光，可以增加能够分析的荧光染料的数量。
通过流式细胞术的荧光检测不仅通过使用诸如滤波器的波长选择装置选择不连续波长区域中的多个光并且测量相应波长区域中的光强度的方法，而且还通过测量连续波长区域中的光强度的荧光光谱的方法来实现。在能够测量荧光光谱的光谱流式细胞术中，通过使用光谱装置(诸如，棱镜和光栅)对由微粒发出的荧光进行光谱衍射。然后，通过使用光接收装置阵列检测光谱衍射的荧光，在光接收装置阵列上排列有具有不同的检测波长区域的多个光接收装置。光接收装置阵列的实例包括光接收装置(即，pmt)一维布置的pmt阵列，光接收装置(即，光电二极管)一维布置的光电二极管阵列，或者布置有检测通道诸如二维光接收装置(例如，ccd、cmos等)的阵列。
在通过流式细胞术举例说明的微粒的分析中，检测在用诸如激光的光和荧光或从微粒发出的散射光照射待分析的微粒经常使用的光学技术。基于所检测的光学信息，通过使用计算机和软件进行分析提取柱状图并且完成分析。
在微粒的光学分析中，在光学测量实际上待测试的微粒之前，可以执行质量控制(qc)以检查精确度，确认装置的操作，使其标准化等等。在质量控制中，使用用通常具有不同的荧光强度的荧光染料标记的多个珠子(例如，3个峰值珠子、6个峰值珠子、8个峰值珠子等等)，一种类型的珠子提供大范围的光谱(例如，对齐检查珠子或超彩条荧光粒子)等。
在通过使用多个荧光染料执行测量的情况下，执行荧光修正。例如，专利文献1公开了能够在多个荧光染料中或者在通过使用多个激光测量荧光期间执行荧光修正并且甚至在待测试的细胞的计量过程结束之后也不需要再次制备样品执行荧光修正的技术，该技术通过研发程序而实现。程序为使得通过使用与重心值相对应的待测试的荧光标记的细胞的荧光值对荧光值执行校正计算，由通过流式细胞仪获取的待测试的荧光标记的细胞的二维相关图计算待测试的荧光标记的细胞的荧光基团的重心值。
引用列表
专利文献
专利文献1：日本专利申请公开第2003-83894号
技术实现要素：
技术问题
光电检测器(诸如，pmt)彼此之间存在着灵敏度差并且甚至随着时间的过去在相同的光电检测器中可具有灵敏度差。灵敏度差的原因之一是光电检测器的灵敏度变化。即使设置了相同的电压值，光电检测器之间或者随着时间的过去灵敏度变化可相差几十倍以上。这主要并直接导致设备之间的输出电平差。因此，即使将设置设为与设备之间或设备内前一次测量的设置相同，输出电平也可能是不同的。
因此，本技术的目的是提供在光学测量微粒特性的微粒测量中可高准确度校正输出电平差的一种技术。
解决的问题
为了解决上述目的而进行深入研究的结果是，本发明人已成功通过指定与预定输出脉冲的特征量相对应的施加电压系数与检测器的控制信号之间的关系高准确度地校正输出电平差并且已完成本技术。
具体地，本技术提供一种微粒测量设备，包括：检测器，检测来自发出具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子的光，以及信息处理器，基于通过检测器检测的输出脉冲的特征量和检测输出脉冲的特征量时检测器的控制信号指定与预定输出脉冲的特征量相对应的施加电压系数与检测器的控制信号之间的关系，输出脉冲的特征量取决于检测器的控制信号。
检测器可以包括多个pmt。在这种情况下，多个pmt之间可能存在输出差。
输出脉冲的特征量可以是输出脉冲的高度或输出脉冲的面积。具体地，输出脉冲的特征量可以是输出脉冲的高度。
信息处理器可以基于施加电压系数校正控制信号。在这种情况下，输入校正控制信号的检测器可以测量目标微粒。
另外，本技术提供一种信息处理设备，包括：信息处理器，其基于通过检测来自发出具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子的光的检测器检测到的输出脉冲的特征量与检测输出脉冲的特征量时检测器的控制信号指定与预定输出脉冲的特征量相对应的施加电压系数与检测器的控制信号之间的关系，输出脉冲的特征量取决于检测器的控制信号。
输出脉冲的特征量可以是输出脉冲的高度或输出脉冲的面积。具体地，输出脉冲的特征量可以是输出脉冲的高度。
信息处理器可以基于施加电压系数校正控制信号。
根据本技术的信息处理设备可以进一步包括存储施加电压系数的存储器。
此外，本技术还提供一种信息处理方法，该方法包括基于通过检测来自发出具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子的光的检测器检测到的输出脉冲的特征量与检测输出脉冲的特征量时检测器的控制信号指定与预定输出脉冲的特征量相对应的施加电压系数与检测器的控制信号之间的关系的信息处理步骤，输出脉冲的特征量取决于检测器的控制信号。
输出脉冲的特征量可以是输出脉冲的高度或输出脉冲的面积。具体地，输出脉冲的特征量可以是输出脉冲的高度。
信息处理步骤可以基于施加电压系数校正控制信号。
在本技术中，“微粒”广泛包括细胞、微生物、生物相关的微粒，诸如，脂质体、胶乳粒子、胶粒、合成微粒诸如工业微粒等等。
生物相关的微粒包括染色体、脂质体、线立体、以及形成各种细胞的细胞器。细胞包括动物细胞(例如，红细胞样细胞等)和植物细胞。微生物包括细菌诸如大肠杆菌，病毒诸如烟草花叶病毒，真菌诸如酵母细胞等。此外，生物相关的微粒可以包括生物相关的聚合物，诸如，核酸、蛋白质、及其复合物。另外，工业粒子例如可以是有机或无机聚合物材料、金属等。有机聚合物材料包括聚苯乙烯、苯乙烯二乙烯苯、聚甲基丙烯酸甲酯等。无机聚合物材料包括玻璃、二氧化硅、磁性材料等。金属包括金胶体、铝等。微粒的形状通常是球形的。根据本技术，其可以是非球形的并且尺寸、重量等也不受特别限制。
发明的有益效果
根据本技术，在光学测量微粒的特性的微粒测量中可以高准确度校正输出电平差。应当注意，这里描述的效果不必是限制性的并且可以是本公开中描述的任何效果。
附图说明
[图1]是示意性地示出根据本技术的微粒测量设备1的第一实施方式的示意图。
[图2]是示意性地示出根据本技术的微粒测量设备1的第二实施方式的示意图。
[图3]是示出在前向散射/侧向散射(“fsc/ssc”)的二维绘图中仅选通单重态(只有一个粒子流动的数据)的示图。
[图4]是示出在pmt(x)中纵轴是loghv并且横轴是st的线性关系的代替示图的曲线图。
[图5]是示出在pmt(y)中纵轴是loghv并且横轴是st的线性关系的代替示图的曲线图。
[图6]是示出在灵敏度标准化的方法中应用线性函数(纵轴：loghv、横轴：st)的关系的代替示图的曲线图。
[图7]是示出在标准化灵敏度的方法中应用三次函数(纵轴：loghv、横轴：st)的关系的代替示图的曲线图。
[图8]是示意性地示出可以使用根据本技术的信息处理设备10的第一实施方式的示例性流式细胞仪的示意图。
[图9]是示意性地示出可以使用根据本技术的信息处理设备10的第二实施方式的示例性流式细胞仪的示意图。
[图10]是示出根据本技术的信息处理方法的实例的流程图。
[图11]是使用根据本技术的信息处理方法记录的线性函数示例性测量微粒的流程图。
具体实施方式
在下文中，将参考附图描述本技术的优选的实施方式。如下所述的实施方式示出本技术典型的实施方式并且不限于本技术的范围。应注意，将按照下列顺序描述本技术的实施方式。
1.微粒测量设备1
(1)检测器11
(2)信息处理器12
[将设备中的pmt的灵敏度标准化的方法]
[准确度提高措施]
[将多个pmt的灵敏度标准化的方法]
(3)光照射器13
(4)分配器14
(5)存储器15
(6)流路p
(7)显示器16
(8)用户界面17
2.信息处理设备10
(1)信息处理器12
(2)存储器15
(3)其他
3.信息处理方法
<1.微粒测量设备1>
图1是示意性地示出根据本技术的微粒测量设备1的第一实施方式的示意图，以及图2是示意性地示出根据本技术的微粒测量设备1的第二实施方式的示意图。根据本技术的微粒测量设备1是光学测量微粒的特性的设备并且包括至少一个检测器11和信息处理器12。另外，根据需要，微粒测量设备1可以包括光照射器13、分配器14、存储器15、流路p、显示器16、用户界面17等等。在下文中，对各单元进行详细说明。
(1)检测器11
检测器11检测来自发出具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子的光并且还可以检测来自微粒的光。只要能够检测来自荧光参考粒子的光，本技术中可以使用的检测器11的类型没有特别的限制。可以自由选择并且使用任何已知的光检测器。例如，可以自由组合使用多个光检测器布置为阵列等的荧光测定装置、散射光测量装置、透射光测量装置、反射光测量装置、衍射光测量装置、紫外线光谱仪、红外光谱仪、拉曼光谱仪、fret测量装置、fish测量装置、其他各种频谱测量装置、所谓的多通道光检测器中的一个、两个、或多个。
根据本技术，检测器11可以是区域图像传感器，诸如，ccd和cmos、pmt、光电二极管等。它们中，检测器11优选为pmt。通过使用本技术，特别是在检测器11是pmt的情况下，可以高准确度校正输出电平差。
根据本技术，检测器11优选地包括具有不同的检测波长区域的多个光接收装置。由于检测器11包括具有不同的检测波长区域的多个光接收装置，可测量连续波长区域内的光强度作为荧光光谱。特定实例包括一维布置光接收装置的pmt阵列或光电二极管阵列，以及包括诸如二维光接收装置(例如，ccd、cmos等)的多个独立的检测通道的那些阵列。其中，检测器11优选地包括多个pmt。
如稍后描述的[将多个pmt的灵敏度标准化的方法]中所示，在检测器11包括多个pmt的情况下，多个pmt之间可能存在输出差。以这种方式，可以在一个装置中将每个pmt的输出设置在期望的电平，并因此将提高测量时用户的便利性。
只要可检测到来自荧光参考粒子的光，微粒测量设备1的检测器11的位置没有特别限制，并且可自由设计。例如，如图1和图2所示，检测器11优选地横跨流路p位于与光照射器13相对的一侧，如下文描述。通过将检测器11横跨流路p定位在与光照射器13相对的一侧，检测器11和光照射器13可以更自由的布置进行定位。此外，由于还在与照射的光的入射方向不同的方向上发出荧光，例如，检测器11可以位于光照射器13的同一侧或位于光照射器13相对于流路p的90度角的一侧。
(2)信息处理器12
信息处理器12对检测器11、光照射器13、分配器14、存储器15、显示器16、用户界面17等执行信息处理和控制。作为信息处理，基于由检测器11检测的输出脉冲的特征量和在检测输出脉冲的特征量时检测器11的控制信号来指定与预定输出脉冲的特征量相对应的施加电压系数与检测器11的控制信号之间的关系。根据本技术，特征量取决于检测器11的控制信号。
根据本技术，通过使用信息处理器12的上述结构，将检测器11的控制信号标准化。因此可随时间消除装置之中或装置内部的诸如阳极灵敏度(来自诸如pmt的检测器的输出被设置在预定电压)的灵敏度的变化。因此，即使由于每个检测器的差异或者随着时间的推移改变了装置的绝对输出，也可以相同的输出电平进行测量。
此外，可以在设备之中或在设备内部提供数据兼容性。因此，不必校正由检测器的灵敏度变化引起的数据不一致性，并且将在使用数据时增强用户的便利性。
只要值取决于检测器11的控制信号，那么输出脉冲的特征量就没有特别的限制。根据本技术，输出脉冲的特征量优选地为输出脉冲的高度或输出脉冲的面积，更优选为输出脉冲的高度。这就使得要以更高的精确度校正输出电平差。
此外，根据本技术，可以使用值的中值或平均值。优选使用诸如高度中值(heightmedian)的中值(输出脉冲的高度的中值)和面积中值(areamedian)(输出脉冲的面积的平均值)。
在本技术中可以使用的荧光参考粒子是发出具有预定波长带宽的荧光的粒子。可以根据微粒测量设备1和检测器11的类型，待测量的微粒的类型、测量目的等从发出具有预定波长带宽的荧光的粒子中自由选择荧光参考粒子。例如，荧光参考粒子的具体实例包括对齐检查珠子(aligncheckbeads)、超彩色荧光颗粒等等。粒子可用作荧光参考粒子的条件是在待校正的pmt的灵敏度的波长带宽内提供足够的荧光强度。可替换地，例如，可以使用诸如用荧光染料标记的珠子的粒子。作为在本技术中可以使用的荧光染料，例如，可自由组合使用喀斯喀特蓝、太平洋蓝、异硫氰酸荧光素(fitc)、藻红素(pe)、皮萨草荧光染料(pi)、德克萨斯红(tr)、多甲藻黄素叶绿素蛋白(percp)、别藻蓝素(apc)、4’，6-联脒-2-苯基吲哚(dapi)、cy3、cy5、cy7等中的一种、两种或多种。
在检测器11包括具有不同的检测波长的多个光接收装置的情况下，从荧光参考粒子发出的荧光的波长带宽优选地至少覆盖至少一部分，更优选地，覆盖相应光接收装置的全部检测波长区域。例如，典型的流式细胞仪优选地选择发出具有400nm至800nm的波长带宽的荧光的粒子。
可根据微粒测量设备1和检测器11的类型、待测量的微粒的类型、测量目的等使用未定义的方法来指定与预定输出脉冲的特征量相对应的施加电压系数与检测器11的控制信号之间的关系。例如，可基于从荧光参考粒子获得的hv(高压)和高度中值(输出脉冲的高度的中值)计算施加电压系数。在下文中，将描述指定施加电压系数的示例性具体方法。
[将设备之间的pmt的灵敏度标准化的方法]
*“指定施加电压系数与灵敏度标准化的hv值之间的关系”
(a)如图3所示，通过将pmt调整为hv初始值并且测量荧光参考粒子提供的在前向散射/侧向散射(以下简称“fsc/ssc”)的二维图中，选通单重态(仅一个粒子流动的数据)部分。
(b)在选通的窄组中，从pmt的输出脉冲的高度(高度(height))计算中值(中值(median))(以下简称“高度中值”)。
(c)调整hv直至高度中值具有预定数值范围(例如，高度中值的调整范围＝60000±10％)以指定相应hv。
(d)以不同的高度中值的数值范围执行上述(a)至(c)的处理以指定对应的hv。应注意，以多个数值范围执行上述(a)至(c)的处理使得其可以接近线性函数。
具体地，在四个点处的数值范围中获取hv(高度中值的调整范围＝600、6000、60000、600000±10％)例如，hv。
(e)从所获取的高度中值与hv之间的对应关系看，如图4和图5所示，loghv和log高度中值绘示为轴，以确定线性函数。这时，log高度中值被定义为施加电压系数“st”。然后，将st赋值给x并且将loghv赋值给y以确定y＝ax+b中的a和b。
具体地，例如，当高度中值为10000(log高度中值为4)时，将st定义为3。此外，在高度中值增大10倍的情况下，将st设为增大了1.0。在将st赋值给x并且将loghv赋值给y的情况下，如图4所示，pmt_1的a＝0.0898，b＝4.1556，并且如图5所示，具有低于pmt_1的灵敏度的灵敏度的pmt_2的a＝0.0929，b＝4.2911。
例如，确定a和b的说明性的详细方法是使用以下数学表达式(1)至(5)。
首先，基于在前一次测量中指定高度中值＝60000时的hv值设置hv1初始值。调整hv使得高度中值包括在如上所述的数值范围内。然后，获取hv1和高度中值1。
接下来，使用a1(例如，在前一次测量中指定的预定值)，基于以下数学式(1)的高度的调整目标值(以下简称“目标”)2的hv2初始值，并且从其开始hv的调整。然后，获取hv2和高度中值2。
[数学式1]
基于以下数学表达式(2)和(3)，以类似方式获取hv3、高度中值3、hv4以及高度中值4。
[数学式2]
[数学式3]
从四个点处的高度中值(高度中值1至4)中，使用以下数学表达式(4)确定st1至4。应注意，在数学表达式(4)中，hst3是高度中值，其中st是3.0的值。
[数学式4]
从如上所述确定的st1至4和hv1至4中，通过使用以下数学表达式(5)进一步确定a和b。
[数学式5]
log(hv)＝a*st+b...(5)
应注意，数学表达式基于以下基本方程。
[数学式6]
*在使用施加电压系数进行测量时设置“hv值”
在测量时，基于施加电压系数st使用st与所记录的hv之间的对应关系设置对应的hv值。具体地，例如，可根据基于用户设置的st值记录的线性函数确定hv。以这种方式，在pmt_1和pmt_2具有不同的灵敏度的情况下，可设置hv使得可以相似方式提供如下实验结果。
[表1]
[准确度提高措施]
在之前的描述中，将按照线性函数的近似值应用于施加电压系数与loghv之间的关系。可通过提高近似的程度进一步实现准确度的提高。事实上，由于hv的设置范围和pmt本身的特性，施加电压系数和loghv可以稍微偏离线性特性。这时，当应用线性函数时会出现误差，但是当应用三次函数时可提高准确度。具体地，如图6所示，例如，在应用线性函数的情况下，从左起的第二点偏离线性，并且第二点周围的准确度降低。另一方面，如图7所示，在应用三次函数的情况下，有四个点在近似曲线上，这显示了准确度得到提高。
[将多个pmt的灵敏度标准化方法]
*“指定施加电压系数与灵敏度标准化的hv值之间的关系”
在一个流式细胞仪包括多个pmt的情况下，可以通过一个hv控制多个pmt中的hv，其中灵敏度的比例被设置为固定值并且设备中相应的pmt被标准化。
(a)例如，其考虑一个流式细胞仪包括四个pmt(pmt_a至pmt_d)。将pmt_a∶pmt_b∶pmt_c∶pmt_d的输出率设置为1∶2∶3∶4，其中使用对齐检查珠子，并且调整目标是pmt_a的高度中值是10000(其中st是3.0)。这时，考虑以下进程。
(b)通过参考上述[将设备之中的pmt的灵敏度标准化方法]的(a)至(d)，在四个点处获得每个pmt的高度中值和hv数据。
(c)从所获取的高度中值与hv之间的对应关系，将loghv和log高度中值绘示为轴以确定线性函数。这时，将log高度中值定义为施加电压系数“st”。然后，将st赋值给x并且将loghv赋值给y以确定y＝ax+b中的a和b，其中，满足上述调整目标(pmt_a∶pmt_b∶pmt_c∶pmt_d＝1∶2∶3∶4并且pmt_a的高度中值为10000，其中st为3.0)。
*“在使用施加电压系数进行测量时设置hv值”
在测量时，基于施加电压系数st使用st与所记录的hv之间的对应关系设置相应的hv值。具体地，例如，可根据基于用户设置的st值记录的线性函数确定hv。以这种方式，在设备中的相应pmt具有不同的灵敏度的情况下，一个hv可以控制多个pmt的hv。
应注意，通过使用两个具体实施方式中的高度中值计算施加电压系数(st)。可替换地，根据本技术，可以使用面积中值(输出脉冲的面积的平均值)代替高度中值。此外，施加电压系数没有特别的限制，并且可以通过任何设置计算只要其与输出脉冲的预定特征量相对应。此外，在两个具体实施方式中，该线由四点绘制确定，但其不限于此，并且根据本技术可以以两个或两个以上的点进行绘制。
此外，根据本技术，通过不仅确定一次直线而且还确定对应表，在测量时存储st与hv之间的对应关系。此外，当不仅通过用户而且还通过信息处理器12基于待测量的样品、条件等进行测量来设置st值。
(3)光照射器13
根据本技术的微粒测量设备1可以进一步包括用光照射荧光参考粒子或微粒的光照射器13。对从光照射器13照射的光的类型没有特别的限制。为了可靠地由粒子生成荧光或者散射光，优选具有固定光方向、波长、以及光强度的光。具体实例包括激光器、led等等。在使用激光器的情况下，类型没有特别的限制，并且可以自由组合地使用以下中的一个、两个或更多个：氩离子(ar)激光器、氦氖(he-ne)激光器、染料激光器、氪(cr)激光器、半导体激光器、或将波长转换光学元件与半导体激光器相结合的固态激光器。
(4)分配器14
根据本技术的微粒测量设备1还包括分配微粒的分配器14。例如，分配器14基于通过校正由检测器11、由信息处理器12检测的值而生成的光谱数据而分配微粒。分配器14可以基于从光谱数据分析的微粒的大小、形态、内部结构的分析结果在流路p的下游分配微粒。
例如，如图2所示，具体地，通过使用以预定振荡次数进行振荡的振荡器14a等使整个流路p或流路p的一部分振荡而从流路p的排出口等生成液滴。应当注意，在这种情况下，所使用的振荡器14a没有特别的限制，并且可以自由选择并使用任何已知的振荡器。实施例包括压电振荡器等等。此外，通过调整供给至流路p的液体量、排出口的直径、振荡器的振荡次数等，调整液滴的大小以生成包含固定量的微粒的液滴。
接下来，基于通过由信息处理器12的校正而生成的光谱数据分析的微粒的大小、形态、内部结构的分析结果来对正电荷或负电荷进行充电(参见图2的标记14b)。然后，被施加了电压的对电极14c改变带电液滴的路线，并且分配其中的微粒。
(5)存储器15
根据本技术的微粒测量设备1可以进一步包括储存hv与施加电压系数之间的关系(例如，线性函数、对应表等)的存储器15。存储器15也可以储存有关测量的所有的项目，包括由检测器11检测的值，由信息处理器12生成的光谱数据，每个信道的参考光谱，hv与在前一次测量中指定的施加电压系数之间的关系、以及除了hv与施加电压系数之间的关系以外的等。
存储器15在微粒测量设备1中不是至关重要的，并且可以连接外部存储器单元。例如，作为存储器15，可以使用硬盘等。
(6)流路p
根据本技术的微粒测量设备1可以进一步包括流路p。在根据本技术的微粒测量设备1中，检测从在流动池(流路p)内排成一排的微粒中获取的光学信息以分析并且分配微粒。
微粒测量设备1可以预先包括流路p。可替换地，可以在微粒测量设备1上布置商业可用(commerciallyavailable)流路p、包含流路p的一次性芯片等，以进行分析或分配。
流路p的几何形状没有特别的限制并且可以自由设计。例如，不仅图1所示的由二维或三维塑料或玻璃制成的基板t中形成的流路p而且在图2中示出的现有技术中的流式细胞仪中使用的流路p可以用于根据本技术的微粒测量设备1中。
此外，流路p的流路宽度、流路深度、流路截面形状没有特别的限制，并且只要可以形成层流就可以自由设计。例如，具有1mm或以下的流路宽度的微流路径可以用于微粒测量设备1中。具体地，具有大约10μm至大约1mm的流路宽度的微流路可适当用在根据本技术的微粒测量设备1中。
(7)显示器16
根据本技术的微粒测量设备1可以进一步包括显示器16。显示器16可以显示有关测量的所有项目，包括通过检测器11检测的值、由信息处理器12生成的光谱数据、所计算施加电压系数、用于每个信道的参考光谱等等。
显示器16在微粒测量设备1中不是至关重要的，并且可以连接外部显示器单元。作为显示器16，例如，可以使用显示器、打印机等。
(8)用户界面17
根据本技术的微粒测量设备1可以进一步包括用户操作的用户界面17。用户可以通过用户界面17访问信息处理器12并且控制根据本技术的微粒测量设备1的每个单元。
用户界面17在微粒测量设备1中不是至关重要的，并且可以连接外部操作单元。作为用户界面17，例如，可以使用鼠标、键盘等。
<2.信息处理设备10>
图8是示意性地示出了可以使用根据本技术的信息处理设备10的第一实施方式的示例性流式细胞仪的示意图，以及图9是示意性地示出了可以使用根据本技术的信息处理设备10的第二实施方式的示例性流式细胞仪的示意图。根据本技术的信息处理设备10包括至少信息处理器12。另外，信息处理设备10可以根据需要包括存储器15、显示器16、用户界面17等等。在下文中，将对各单元进行详细说明。应注意，由于显示器16和用户界面17与以上详细描述的微粒测量设备1的显示器16和用户界面17相同，因此将省去对其的描述。
(1)信息处理器12
信息处理器12执行存储器15、显示器16、用户界面17等的信息处理和控制。作为信息处理，基于通过检测来自发出具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子的光的检测器检测的输出脉冲的特征量，以及在检测输出脉冲的特征量时检测器的控制信号指定与预定输出脉冲的特征量相对应的施加电压系数和检测器的控制信号之间的关系。根据本技术，特征量取决于检测器的控制信号。
应注意，由信息处理器12执行的信息处理的细节和荧光参考粒子的细节与由信息处理器12执行的信息处理方法和在上述微粒测量设备1中使用的荧光参考粒子相同，因此省去对其的描述。
(2)存储器15
根据本技术，如图8和图9所示，信息处理设备10可以进一步包括存储施加电压系数的存储器15。应注意，由于存储器15的细节与微粒测量设备1的存储器15的细节相同，因此省去对其的描述。
(3)其他
如图8和图9所示，根据本技术的信息处理设备10可以包括显示器16和用户界面17。另外，如图9所示，信息处理设备10可以经由网络连接到流式细胞仪的每个单元(检测器11、光照射器13、分配器14等)。此外，存储器15、显示器16、以及用户界面17可以设置在信息处理设备10的外部并且经由网络(未示出)连接。
<3.信息处理方法>
根据本技术的信息处理方法执行至少信息处理步骤。在信息处理步骤中执行的特定信息处理方法与上述信息处理设备10的信息处理器12执行的信息处理方法相同。在下文中，将参照图10和图11描述使用根据本技术的信息处理方法进行微粒测量的示例性流程。应注意，例如，通过上述检测器11、信息处理器12等执行在图10和图11中示出的流程图的每个步骤中的处理。
图10是示出根据本技术的信息处理方法的实例的流程图，并且示出关于指定施加电压系数(st)与pmt的灵敏度标准化的hv值之间的关系的流程。
首先，将pmt设置为hv1初始值(步骤s1)。接下来，执行样品测量(步骤s2)并且提取示出单重态的样品的测量值(步骤s3)。此后，计算高度中值1(步骤s4)。然后，在步骤s5中，在确定高度中值1的计算值为非目标1±10％的情况下，改变pmt的hv1值(步骤s6)并且返回至步骤s2。重复步骤s2至s6直至高度中值1的计算值包括在目标1±10％内。在所计算的值确定为目标1±10％的情况下，高度中值1和hv1的计算值被相关并记录(步骤s7)。
在记录高度中值1和hv1值的计算值之后，将pmt设置为hv2初始值(步骤s1)。重复步骤s2至s6直至高度中值2的计算值达到目标2±10％。类似地，记录高度中值2和hv2值的计算值(步骤s7)。在足以接近线性函数的n高度的数值范围内执行上述处理并且记录n个高度中值和hv值的计算值(步骤s8)。由一组记录的n值计算线性函数y＝ax+b。这时，x＝“施加电压系数(st)”＝log高度中值并且y＝loghv(步骤s9)。然后，记录线性函数(步骤s10)并且处理结束。
图11是示出使用根据本技术的信息处理方法记录的线性函数进行的微粒的说明性测量的流程图，并且示出了有关基于施加电压系数(st)的设置进行样品测量的流程图。
首先，设置st值(步骤s11)。接下来，基于记录的线性函数，设置pmt的hv值(步骤s12)。此后，执行样品测量(步骤s13)并且结束处理。
需注意，本技术也可具有以下结构。
(1)一种微粒测量设备，包括：
检测器，检测来自发出具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子的光；以及
信息处理器，基于检测器检测的输出脉冲的特征量和在检测输出脉冲的特征量时检测器的控制信号来指定与预定输出脉冲的特征量相对应的施加电压系数与检测器的控制信号之间的关系，
输出脉冲的特征量取决于检测器的控制信号。
(2)根据(1)所述的微粒测量设备，其中
检测器包括多个pmt。
(3)根据(2)所述的微粒测量设备，其中
多个pmt之间存在输出差。
(4)根据(1)至(3)中任一项所述的微粒测量设备，其中
输出脉冲的特征量是输出脉冲的高度或输出脉冲的面积。
(5)根据(1)至(4)中任一项所述的微粒测量设备，其中
输出脉冲的特征量是输出脉冲的高度。
(6)根据项(1)到(5)中的任一项所述的微粒测量设备，其中，
信息处理器基于施加电压系数来校正控制信号。
(7)根据(6)所述的微粒测量设备，其中
输入了所校正控制信号的检测器测量目标微粒。
(8)一种信息处理设备，包括：
信息处理器，基于检测来自发出具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子的光的检测器检测的输出脉冲的特征量和在检测输出脉冲的特征量时检测器的控制信号来指定与预定输出脉冲的特征量相对应的施加电压系数与检测器的控制信号之间的关系，
输出脉冲的特征量取决于检测器的控制信号。
(9)根据(8)所述的信息处理装置，其中
输出脉冲的特征量是输出脉冲的高度或输出脉冲的面积。
(10)根据(8)或(9)所述的信息处理装置，其中
输出脉冲的特征量是输出脉冲的高度。
(11)根据(8)到(10)中的任一项所述的信息处理设备，其中
信息处理器基于施加电压系数来校正控制信号。
(12)根据(8)至(11)中任一项所述的信息处理装置，进一步包括：
存储器，储存施加电压系数。
(13)一种信息处理方法，包括以下信息处理步骤：基于检测来自发出具有预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子的光的检测器检测的输出脉冲的特征量和在检测输出脉冲的特征量时检测器的控制信号指定与预定输出脉冲的特征量相对应的施加电压系数与检测器的控制信号之间的关系，
输出脉冲的特征量取决于检测器的控制信号。
(14)根据(13)所述的信息处理方法，其中
输出脉冲的特征量是输出脉冲的高度或输出脉冲的面积。
(15)根据(13)或(14)所述的信息处理方法，其中
输出脉冲的特征量是输出脉冲的高度。
(16)根据(13)至(15)中的任一项所述的信息处理方法，其中
信息处理步骤基于施加电压系数校正控制信号。
(17)记录n个高度中值和hv值的计算值(步骤s8)，并且由所记录的n个值组计算三次函数y＝ax^3+bx^2+cx+d，并且设置pmt的hv值(步骤s12)。
参考符号列表
1微粒测量设备
11检测器
12信息处理器
13光照射器
14分配器
15存储器
p流路
t基板
16显示器
17用户界面
10信息处理设备。