一种点阵结构光测量平面度的方法与流程

文档序号:12060540阅读:来源:国知局
技术总结
本发明公开了一种点阵结构光测量平面度的方法,本发明通过运用点阵结构光与激光三角法的原理,简便快捷的完成平面度的中等精度的测量。首先通过理论计算,可以得到点阵结构光各个光点在理想平面上的世界坐标;再采用图像采集器标定的方法,进行坐标变换,得到相对应的图像坐标;通过摄像头获取图像,来完成各个待测平面上的光点世界坐标到图像坐标的变换;再通过运算,得到各个光点对应的两个图像坐标之间的差值;运用激光三角法的原理,再一次进行坐标变换,得到图像坐标差值对应的物理位移;对各个光点的物理位移进行处理,得到待测面的平面度。

技术研发人员:林斌;曹向群
受保护的技术使用者:浙江四点灵机器人股份有限公司
文档号码:201710054867
技术研发日:2017.01.24
技术公布日:2017.05.24

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