本发明有关于一种双吸嘴式转塔机台，特别有关于一种可提升检测效率的双吸嘴式转塔机台。
背景技术：
在已知技术中，转塔机台用于芯片测试，其测试数量有限，测试效率较低。在已知概念中，通过增加转塔直径以在单一圆周上容纳更多吸嘴以及测试座，可提高测试效率。但由于转塔直径增加，造成离心力增加，使得转塔不宜高速旋转，因此测试效率依然不佳。
技术实现要素：
本发明为了欲解决已知技术的问题而提供的一种双吸嘴式转塔机台，用于对多个电子元件进行测试，包括多个测试座、多个第一吸嘴、多个第二吸嘴以及料带。该多个第一吸嘴绕行于第一圆形轨迹，该多个第二吸嘴绕行于第二圆形轨迹，该第一圆形轨迹与该第二圆形轨迹为同心圆，且该多个第一吸嘴与该多个第二吸嘴沿该第一圆形轨迹的径向并排。该多个测试座包括多个第一测试座以及多个第二测试座，该多个第一测试座沿周向对应该第一圆形轨迹，该多个第二测试座沿周向对应该第二圆形轨迹，该多个第一测试座以一对一的方式径向对应该多个第二测试座。第一吸嘴设于测试转盘之上，并将电子元件运送至第一测试座以进行测试。第二吸嘴设于测试转盘上，并将电子元件运送至第二测试座以进行测试。料带包括多个容置槽，其中，在第一状态下，该第一吸嘴以及该第二吸嘴同时将测试合格的该多个电子元件置入该多个容置槽之中。
在一实施例中，该多个容置槽包括沿行进方向依序排列的第一容置槽、第二容置槽、第三容置槽以及第四容置槽，在该第一状态下，该第一容置槽以及该第三容置槽处于一置放位置，该第一吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第一容置槽之中，该第二吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第三容置槽之中，接着，该第二容置槽以及该第四容置槽处于该置放位置，该第一吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第二容置槽之中，该第二吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第四容置槽之中。
在一实施例中，该多个容置槽包括沿行进方向依序排列的第一容置槽、第二容置槽、第三容置槽、第四容置槽以及第五容置槽，在第二状态下，该第一容置槽以及该第三容置槽处于一置放位置，该第一吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第一容置槽之中，该第二吸嘴将一测试不合格的电子元件排除，接着，该第二容置槽以及该第四容置槽处于该置放位置，该第一吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第二容置槽之中，该第二吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第四容置槽之中，接着，该第三容置槽以及该第五容置槽处于该置放位置，该第一吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第三容置槽之中，该第二吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第五容置槽之中。
在一实施例中，该多个容置槽包括沿行进方向依序排列的第一容置槽、第二容置槽、第三容置槽、第四容置槽以及第五容置槽，在第三状态下，该第一容置槽处于一置放位置而对应该第二吸嘴，该第一吸嘴将一测试不合格的电子元件排除，该第二吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第一容置槽之中，接着，该第二容置槽以及该第四容置槽处于该置放位置，该第一吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第二容置槽之中，该第二吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第四容置槽之中，接着，该第三容置槽以及该第五容置槽处于该置放位置，该第一吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第三容置槽之中，该第二吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入该第五容置槽之中。
在一实施例中，该多个容置槽包括沿行进方向依序排列的第一容置槽、第二容置槽、第三容置槽、第四容置槽、第五容置槽以及第六容置槽，在一第四状态下，第一容置槽以及第三容置槽已被置入测试合格的电子元件，接着，第二容置槽处于一置放位置，第一吸嘴将一测试合格的电子元件置入第二容置槽之中，第二吸嘴将一测试不合格的电子元件排除，接着，第四容置槽以及第六容置槽处于该置放位置，第一吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入第四容置槽之中，第二吸嘴将其中的一测试合格的电子元件置入第六容置槽之中。
在一实施例中，该双吸嘴式转塔机台更包括正印检查转盘，该正印检查转盘包括多个第一置放部以及多个第二置放部，该多个第一置放部沿周向设于该正印检查转盘上，该多个第二置放部沿周向设于该正印检查转盘上，该多个第一置放部以一对一的方式径向对应该多个第二置放部，该第一吸嘴以及该第二吸嘴将该多个电子元件置于该第一置放部以及该第二置放部以进行检查，再从该第一置放部以及该第二置放部取起该多个电子元件以移送至该第一测试座以及该第二测试座。
在一实施例中，该双吸嘴式转塔机台更包括进料单元，该进料单元包括一进料轨道以及取料部，该取料部上具有一第一位置以及一第二位置，等电子元件从该进料轨道被运送该至该取料部的该第一位置以及该第二位置，以供该第一吸嘴以及该第二吸嘴取起该多个电子元件。
在一实施例中，该进料单元更包括分隔器以及分位器，该取料部上具有一初始位置，当该电子元件位于该初始位置时，该分隔器阻挡该进料轨道的输送，该分位器将该电子元件送往该第一位置或该第二位置。
在一实施例中，径向排列的第一测试座以及第二测试座之间的间隙等于相邻的该多个容置槽之间的间隙的两倍。
在一实施例中，双吸嘴式转塔机更包括测试转盘，该多个第一吸嘴与该多个第二吸嘴设置于该测试转盘上，该测试转盘带动该多个第一吸嘴绕行于该第一圆形轨迹，且该测试转盘带动该多个第二吸嘴绕行于该第二圆形轨迹。
应用本发明实施例的双吸嘴式转塔机，由于径向并排吸嘴与测试座，因此可以在不大幅更动原有设计的前提下，增加吸嘴以及测试座的数量，从而提升测试效率。而，应用本发明前述的电子元件的置入方法，即使在吸嘴夹持着测试不合格的电子元件的情况下，仍可使得径向并排的吸嘴顺利的将测试合格的电子元件依序置入料带的容置槽之中。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一实施例的双吸嘴式转塔机台的部分结构示意图。
图2为第一吸嘴以及该第二吸嘴同时将测试合格的该多个电子元件置入该多个容置槽之中的情形。
图3a～图3e为在一第一状态下，电子元件置入该多个容置槽的情形。
图4a～图4d为在一第二状态下，电子元件置入该多个容置槽的情形。
图5a～图5c为在一第三状态下，电子元件置入该多个容置槽的情形。
图6a～图6c为在一第四状态下，电子元件置入该多个容置槽的情形。
图7a～图7c为本发明实施例的进料单元的细部结构。
附图标号：
c～电子元件
t～转塔机台
1～测试转盘
101～第一圆形轨迹
102～第二圆形轨迹
2～测试座
21～第一测试座
22～第二测试座
31～第一吸嘴
32～第二吸嘴
4～料带
40～容置槽
41～第一容置槽
42～第二容置槽
43～第三容置槽
44～第四容置槽
45～第五容置槽
46～第六容置槽
5～正印检查转盘
51～第一置放部
52～第二置放部
6～进料单元
61～进料轨道
62～取料部
621～第一位置
622～第二位置
623～初始位置
63～分隔器
64～分位器
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护的范围。
参照图1，其为本发明一实施例的双吸嘴式转塔机台t的部分结构示意图，用于对多个电子元件(例如，电子芯片)进行测试。双吸嘴式转塔机台t包括测试转盘1、多个测试座2、多个第一吸嘴31、多个第二吸嘴32以及料带4。第一吸嘴31与第二吸嘴32均设于测试转盘1上，且第一吸嘴31与第二吸嘴32例如分别沿第一圆形轨迹101与第二圆形轨迹102排列。于本实施例中，第一圆形轨迹101环绕第二圆形轨迹102，且第一圆形轨迹101与第二圆形轨迹102为同心圆。该多个测试座2包括多个第一测试座21以及多个第二测试座22，该多个第一测试座21沿周向对应第一圆形轨迹101，该多个第二测试座22沿周向对应第二圆形轨迹102，该多个第一测试座21以一对一的方式径向对应该多个第二测试座22。于本实施例中，该多个第一测试座21沿第一圆形轨迹101排列，且该多个第二测试座22沿第二圆形轨迹102排列。
在一实施例中，该多个第一测试座21以及该多个第二测试座22的位置是固定不动的。第一吸嘴31以及第二吸嘴32随该测试转盘1所转动，以分别绕行第一圆形轨迹101以及第二圆形轨迹102，从而将电子元件运送至第一测试座21及第二测试座22以进行测试。
参照图2，料带4包括多个容置槽40，其中，在一第一状态下，该第一吸嘴31以及该第二吸嘴32同时将测试合格的该多个电子元件c置入该多个容置槽40之中。
在一实施例中，电子元件c可以为具有接脚的芯片，或是不具有接脚的芯片。其亦可能为其他形式的电子元件。
图1，在此实施例中，该第一吸嘴31以及该第二吸嘴32沿该测试转盘1的径向并排。
参照图3a～图3e，其为在第一状态下，电子元件c置入该多个容置槽40的情形。参照图3a，在一实施例中，该多个容置槽40包括沿行进方向依序排列的一第一容置槽41、一第二容置槽42、一第三容置槽43以及一第四容置槽44。在该第一状态下，该第一容置槽41以及该第三容置槽43处于一置放位置(图3a)。接着，该第一吸嘴31将其中的一测试合格的电子元件c置入该第一容置槽41之中，该第二吸嘴32将其中的一测试合格的电子元件c置入该第三容置槽43之中(图3b)。接着，该第二容置槽42以及该第四容置槽44处于该置放位置(图3c)，该第一吸嘴31将其中的一测试合格的电子元件c置入该第二容置槽42之中，该第二吸嘴32将其中的一测试合格的电子元件c置入该第四容置槽44之中(图3d)。接着，料带4继续向前移动以继续重复电子元件c置入的动作(图3e)。
参照图4a～图4d，其为发现一测试不合格的电子元件，且该测试不合格的电子元件由该第二吸嘴32所夹持的情形(第二状态)。该多个容置槽40包括沿行进方向依序排列的一第一容置槽41、一第二容置槽42、一第三容置槽43、一第四容置槽44以及一第五容置槽45，在第二状态下，该第一容置槽41以及该第三容置槽43处于一置放位置(图4a)。接着，该第一吸嘴31将其中的一测试合格的电子元件c置入该第一容置槽41之中，该第二吸嘴32将一测试不合格的电子元件排除(图4b)。接着，该第二容置槽42以及该第四容置槽44处于该置放位置，该第一吸嘴31将其中的一测试合格的电子元件c置入该第二容置槽42之中，该第二吸嘴32将其中的一测试合格的电子元件c置入该第四容置槽44之中(图4c)。接着，该第三容置槽43以及该第五容置槽45处于该置放位置，该第一吸嘴31将其中的一测试合格的电子元件c置入该第三容置槽43之中，该第二吸嘴32将其中的一测试合格的电子元件c置入该第五容置槽45之中(图4d)。接着，料带4继续向前移动以继续重复电子元件c置入的动作。
参照图5a～图5c，其为发现一测试不合格的电子元件，且该测试不合格的电子元件由该第一吸嘴31所夹持的情形(第三状态)。该多个容置槽40包括沿行进方向依序排列的一第一容置槽41、一第二容置槽42、一第三容置槽43、一第四容置槽44以及一第五容置槽45。在第三状态下，基于已知该测试不合格的电子元件由该第一吸嘴31所夹持，因此料带4倒退，使该第一容置槽41处于一置放位置而对应该第二吸嘴32，该第一吸嘴31将一测试不合格的电子元件排除，该第二吸嘴32将其中的一测试合格的电子元件c置入该第一容置槽41之中(图5a)。接着，该第二容置槽42以及该第四容置槽44处于该置放位置，该第一吸嘴31将其中的一测试合格的电子元件置入该第二容置槽42之中，该第二吸嘴32将其中的一测试合格的电子元件置入该第四容置槽44之中(图5b)。接着，该第三容置槽43以及该第五容置槽45处于该置放位置，该第一吸嘴31将其中的一测试合格的电子元件c置入该第三容置槽43之中，该第二吸嘴32将其中的一测试合格的电子元件c置入该第五容置槽45之中(图5c)。接着，料带4继续向前移动以继续重复电子元件c置入的动作。
参照图6a～图6c，其为发现一测试不合格的电子元件，而第一容置槽41及第三容置槽43已被置入电子元件的情形(第四状态，此时以测试不合格的电子元件由第二吸嘴32夹持为例)。本实施例中，第一容置槽41以及第三容置槽43已被置入测试合格的电子元件c(图6a)。接着，料带4移动使得第二容置槽42处于一置放位置，第一吸嘴31将一测试合格的电子元件c置入第二容置槽42之中，第二吸嘴32将一测试不合格的电子元件c排除(图6b)。接着，第四容置槽44以及第六容置槽46处于置放位置，第一吸嘴31将其中的一测试合格的电子元件c置入第四容置槽44之中，第二吸嘴32将其中的一测试合格的电子元件置入第六容置槽46之中(图6c)。接着，料带4继续向前移动以继续重复电子元件c置入的动作。
通过本发明实施例的双吸嘴式转塔机的径向并排的吸嘴以及径向并排的测试座，可以在不大幅更动原有设计的前提下，增加吸嘴以及测试座的数量，从而提升测试效率。而，应用本发明前述的电子元件的置入方法，即使在吸嘴夹持着测试不合格的电子元件的情况下，仍可使得径向并排的吸嘴顺利的将测试合格的电子元件依序置入料带的容置槽之中。
再参照图1，在一实施例中，该双吸嘴式转塔机台t更包括一正印检查转盘5，该正印检查转盘5包括多个第一置放部51以及多个第二置放部52，该多个第一置放部51沿周向设于该正印检查转盘5上，该多个第二置放部52沿周向设于该正印检查转盘5上，该多个第一置放部51以一对一的方式径向对应该多个第二置放部52，该第一吸嘴31以及该第二吸嘴32将该多个电子元件c置于该第一置放部51以及该第二置放部52以进行检查，再从该第一置放部51以及该第二置放部52取起该多个电子元件c以移送至该第一测试座21以及该第二测试座22。应用本发明的实施例，可以在原有的架构下，一并提高正印检查站的检查效率。
再搭配参照图1、图7a、图7b、图7c，在一实施例中，该双吸嘴式转塔机台t更包括一进料单元6，该进料单元6包括一进料轨道61以及取料部62，该取料部上62具有一第一位置621以及一第二位置622，该多个电子元件c从该进料轨道61被运送至该取料部62的该第一位置621以及该第二位置622，以供该第一吸嘴31以及该第二吸嘴32取起该多个电子元件c。在一实施例中，该进料单元6更包括一分隔器63以及一分位器64，该取料部62上具有一初始位置623，当该电子元件c位于该初始位置623时，该分隔器63阻挡该进料轨道61的输送，该分位器64将该电子元件c送往该第一位置621或该第二位置622。在一实施例中，该第一吸嘴31以及该第二吸嘴32分别从该取料部62的该第一位置621及该第二位置622取起该多个电子元件c。通过上述设计，可进一步在原有的架构下，提升该第一吸嘴31以及该第二吸嘴32的取料效率。
在一实施例中，径向排列的该第一测试座21以及该第二测试座22之间的间隙等于相邻的该多个容置槽40之间的间隙的两倍。亦，等于径向并排的该第一吸嘴31以及该第二吸嘴32之间的间隙。在一实施例中，径向排列的该第一测试座21以及该第二测试座22之间的间隙为4毫米，上述数值揭露并未限制本发明。
在一实施例中，该测试转盘可能被省略，该第一吸嘴31以及该第二吸嘴31亦可能以轨道、皮带或齿轮等方式，分别绕行一第一圆形轨迹101以及一第二圆形轨迹102，而同样能实现本发明前述实施例的动作及效果。
虽然本发明已以具体的较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此项技术者，在不脱离本发明的精神和范围内，仍可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。