技术特征：
技术总结
本发明公开了一种基于多探头的3D‑MIMO天线测试系统，包括多个水平放置的金属拱环、若干个均匀设于金属拱环上的探头以及用于放置3D‑MIMO设备的支撑平台，多个所述金属拱环位于同一球面上，所述支撑平台上设有用于驱动支撑平台水平转动的驱动装置,多个水平放置的金属拱环同时测试多个垂直维上的接收信号，能够准确的测试3D‑MIMO设备性能，并采用多探头测试系统，使得测试速度更快；驱动装置可使位于支撑平台上的3D‑MIMO设备水平转动，进而对3D‑MIMO设备进行过采样，过采样能够增加采样点，进而在一定程度上提高3D‑MIMO设备的测试精度。
技术研发人员：刘科宏
受保护的技术使用者：刘科宏
技术研发日：2017.03.11
技术公布日：2018.09.25