本发明涉及电磁兼容技术领域，尤其涉及一种针对辐射emi噪声源识别方法。
背景技术：
现代电力电子产品正面向微型化、智能化，系统的设计也越来越复杂，加上电力电子设备中开关元件的高速开关产生的系统寄生参数，致使设备遭受传辐射型干扰愈加严重，而且对系统抗电磁干扰能力的要求越来越高。因而，为了节省开发时间，节约开发费用，同时也为产品通过质检部门的检验做好前期准备，对产品进行辐射emi测试是必不可少的。
但是传统技术中都是按照传统的凭经验整改法，准确性较低，速度较慢，不能快速有效的抑制设备的超标噪声。
为此，我们提出了一种针对辐射emi噪声源识别方法。
技术实现要素：
基于背景技术存在的技术问题，本发明提出了一种针对辐射emi噪声源识别方法，通过分离算法正确分离出各个辐射源的时域信号后，通过对分离信号进行时频分析，获得电磁干扰信号在时间和频率上的关系，从而提取该噪声信号的频域特征，最终诊断出引起传导超标信号的特征。
本发明提出的一种针对辐射emi噪声源识别方法，包括以下步骤：
s1，数据采集：对被测设备用ｍ个磁场探头进行近场测试，通过示波器测得ｍ组被测设备的近场时域信号，将这ｍ组时域信号数据导出；将ｍ组观测数据ｘｉ（ｔ）构成列向量
s2，数据预处理：辐射卷积混合的一般模型可以表示为:
其中
卷积混合盲源分离的目的就是要寻找一个分离滤波器w使得
为源信号s(t)的估计.其中
其中
s3，数据白化：白化数据
其中α(0<α<1)为迭代步长；
s4，数据分解：迭代公式为
s5，数据分析：针对获得的分离信号，进行时频分析，通过傅里叶变换得到频率信息，与pcb板中的疑似辐射源进行比对。
优选地，所述s1中，，其中探头数量ｍ取决于源信号数ｎ，
优选地，所述s2中，当
本发明中，首先利用磁场探头获得被测电子设备的辐射emi噪声，然后将数字示波器采集的噪声信号送入pc机，利用matlab对其进行nlpca分析，得出噪声电压信号的波形特征结果，最后将分离出的噪声信号与被测电子设备中器件所产生的信号进行特征比较，确定噪声源，本发明提供了一种基于nlpca的辐射噪声分离新方法，得出噪声电压信号的波形特征结果，并建立了一种卷积辐射模型。
附图说明
图1是辐射emi噪声源识别方法的流程图；
图2是辐射卷积模型；
图3辐射噪声筛选模型；
图4卷积混合信号；
图5卷积分离信号。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步解说。
实施例一
如图1-5所示本发明提出的一种针对辐射emi噪声源识别方法，包括以下步骤：
s1，数据采集：对被测设备用ｍ个磁场探头进行近场测试，通过示波器测得ｍ组被测设备的近场时域信号，将这ｍ组时域信号数据导出；将ｍ组观测数据ｘｉ（ｔ）构成列向量
s2，数据预处理：辐射卷积混合的一般模型可以表示为:
其中
卷积混合盲源分离的目的就是要寻找一个分离滤波器w使得
为源信号s(t)的估计.其中
其中
s3，数据白化：白化数据
其中
s4，数据分解：迭代公式为
s5，数据分析：针对获得的分离信号，进行时频分析，通过傅里叶变换得到频率信息，与pcb板中的疑似辐射源进行比对。
本发明中先采用磁场探头和高速示波器提取被测设备的噪声电压信号，再将所得被测设备的噪声电压信号分别记作v1、v2…vm，然后采用nlpca算法对上述所得的数据进行分析，得到多组分离数据v1，v2…vn，再对分离数据进行时频分析，获得频率信息，最后将所得噪声电压信号的波形和频率特征结果与被测设备中各个电子器件产生的信号特征进行对比分析，确定产生噪声电压信号的特定电子器件，最终确定出辐射电磁干扰噪声源。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。