技术特征：
技术总结
本发明公开了一种高精度、宽量程的测距方法，其特征在于，所述测距方法通过将一种粗精度测距方法与相位测距方法相结合，利用粗精度测距方法调制光源获得粗精度距离值，利用相位测距方法调制光源获得一个相位周期内的高精度距离值，然后根据所述粗精度距离值和所述高精度距离值得出测距目标的距离位于相位测距的第几个相位周期，最后计算出高精度的实际距离值。本发明还提出一种高精度、宽量程的测距系统，能够同时兼顾高精度和宽量程，既可以应用在近距离测距，也可以应用在远距离测距，另外还可以应用于场景深度测量与3D成像、机器人视觉、手势识别等应用中。
技术研发人员：朱杨飞;张耀辉
受保护的技术使用者：苏州矗联电子技术有限公司
技术研发日：2017.03.23
技术公布日：2017.09.08