本发明涉及检测玻璃原片杂质的技术领域，尤其是在线检测玻璃原片杂质的方法。
背景技术：
玻璃原片是玻璃厂生产的固定尺寸的玻璃，在后续的终端用户需求的玻璃尺寸及类型是各式各样的，因此玻璃原片的质量也直接影响了后续加工玻璃的质量，其中钢化玻璃是普通的玻璃切割成要求尺寸通过一系列处理加工而成，但已处理好的钢化玻璃不能进行再切割，磨削等加工，如果玻璃原片中存在缺陷或杂质就可能引起钢化玻璃自爆，因此在切割玻璃原片时，更需要检测到达标准。
而现有技术中，检测玻璃原片杂质的结构的检测精度只能达到0.1mm，再小缺陷的很难实现快速检测，而小于0.1mm的杂质缺陷，在玻璃钢化后，一定条件下也会引起钢化玻璃的自爆。
技术实现要素：
本发明提供的在线检测玻璃原片杂质的方法，旨在解决现有技术中，检测玻璃原片杂质的方法难以对小于0.1mm的玻璃原片中的杂质实现快速检测的问题。
本发明是这样实现的，在线检测玻璃原片杂质的方法，在输送玻璃原片的上片台上设置激光源发射装置以及激光接收及分析装置，沿玻璃原片在所述上片台的输送方向，所述激光源发射装置固定在所述上片台的一侧边，所述激光接收及分析装置位于所述上片台的另一侧边，且位于所述所述激光源发射装置的发射方向上；
当玻璃原片在所述上片台输送至所述激光源发射装置以及激光接收分析装置之间时，所述激光源发射装置朝向所述玻璃原片发射激光，激光透过所述玻璃原片后被所述激光接收分析装置接收，所述激光接收分析装置根据接收到的激光的光源强度形成光源曲线，所述激光接收分析装置根据所述光源曲线分析判断玻璃原片的杂质或缺陷，并对所述杂质或缺陷进行标定。
进一步地，所述的在线检测玻璃原片杂质的方法，所述激光源发射装置包括发射可调节宽度及强度的激光的发射元件。
进一步地，所述的在线检测玻璃原片杂质的方法，所述上片台设置有暗室，所述激光源发射装置和所述激光接收分析装置分别设置在所述暗室的两侧。
进一步地，所述的在线检测玻璃原片杂质的方法，所述暗室包括两个相对布置且与所述激光源发射装置发射激光的方向相同的侧板，所述侧板与所述上片台之间具有间隔。
进一步地，所述的在线检测玻璃原片杂质的方法，所述暗室包括两个固定设置在所述上片台两侧的固定板，两个所述侧板与两个所述固定板围合连接。
进一步地，所述暗室还包括有顶板，所述顶板形成在所述暗室区域上方，且与所述固定板连接。
进一步地，所述的在线检测玻璃原片杂质的方法，还包括检测玻璃原片输送位置的检测装置，沿玻璃原片在所述上片台的输送方向，所述检测装置设置在所述激光源发射装置的前端。
与现有技术相比，本发明提供的在线检测玻璃原片杂质的方法，通过激光发射装置固定在上片台一侧，激光接收分析装置在上片台的另一侧，于激光源的发射方向接受信号，当玻璃输送至一定位置后，激光源及信号激光接收分析装置启动，激光接收分析装置中的分析元件可对接收到的光源强度绘制成光源曲线，没有杂质会形成较平稳的直线或曲线图，一旦有杂质，曲线图会有明显的波峰或波谷，可以实现对小于0.1mm甚至小于0.02毫米的玻璃原片缺陷的检测。解决了玻璃检测设备难以对小于0.1mm的原片杂质实现快速检测的问题。
附图说明
图1是本发明实施例提供的在线检测玻璃原片杂质的结构的立体示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
以下结合具体实施例对本发明的实现进行详细的描述。
本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本发明的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
参照图1所示，为本发明提供的较佳实施例。
本发明提供的在线检测玻璃原片杂质的方法，用于检测玻璃原片所存在的缺陷或杂质，提高玻璃原片杂质缺陷检测精度，降低钢化玻璃自爆的风险。
在线检测玻璃原片杂质的方法，如下：
输送玻璃原片的上片台14两侧本别设置发射激光的激光源发射装置11以及接收透过玻璃原片的激光的激光源接收分析装置，并且激光源接收分析装置位于激光源发射装置11的激光发射方向；
玻璃原片在上片台14输送至激光源发射装置11以及激光接收分析装置13之间时，激光源发射装置11朝向玻璃原片发射激光，激光接收分析装置13接收到透过玻璃原片的激光，通过透过光源强度的不同分析绘制成光源曲线图，激光接收分析装置13根据光源曲线分析判断玻璃原片的杂质或缺陷，并对所述杂质或缺陷进行标定。
上述提供的在线检测玻璃原片杂质的方法，激光接收分析装置13根据接收到的激光的强度分析并绘制形成曲线图，没有杂质会形成较平稳的直线或曲线图，一旦有杂质，曲线图会有明显的波峰或波谷，随后激光接收分析装置13对缺陷位置进行标定，在后续工序中进行切除，这样可以迅速的对有杂质的玻璃进行处理，解决了玻璃检测设备难以对小于0.1mm的原片杂质实现快速检测的问题,从而使钢化玻璃质量更好，更不易自爆。
激光源发射装置11包括发射激光的发射元件，且发射元件可以调节发射激光的宽度及强度，在检测不同厚度的玻璃时，需要根据玻璃原片的厚度来调节激光的宽度及强度来适应不同情况下的检测，这样不仅降低了成本，而且灵活性更强。
上片台14上方设置有暗室12，且激光源发射装置11和激光接收分析装置13分别设置在暗室12的两侧，暗室12可防止其它光源对信号光源的干扰，加强了在线检测玻璃原片杂质的结构的精确度。
位于上片台14上方的暗室12包括两个相对布置且与激光源发射装置11发射方向相同的侧板16，侧板16与上片台14之间具有间隔，这样，玻璃原片可以通过该间隔连续进行输送。
同时，暗室12还包括两个固定板17，固定板17固定设置在上片台14两侧，并且两个固定板17与两个侧板16围合连接。
上片台上方的暗室12还包括顶板18，顶板18与固定板17连接，两个侧板16与两个固定板17以及顶板18共同构成了暗室12。
另外，位于上片台14上的检测装置能够在玻璃原片通过时接受到反馈信号，这时激光源发射装置11及激光接收分析装置13开始工作，从而使该设备工作更加快捷。
侧板16与上片台14两侧的固定板17活动连接，这样可以调整侧板16与上片台14之间的间距，以适应不同厚度玻璃原片的检测。
固定板17上设置有透光孔，激光源发射装置11发射的激光能够透过透光孔。
并且上片台14的上表面为水平面，确保玻璃原片在行进过程中平稳匀速推进，激光接收分析装置13所发应的曲线图也会更加准确。
同时，激光源发射装置11与上片台14的上表面平行，使激光源发射装置11发射的激光能完整得透过玻璃原片，准确的发现缺陷所在位置。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。