一种BBU循环放电的测试方法与流程

文档序号:13071590阅读:381来源:国知局

本发明涉及存储系统领域,具体的说是一种bbu循环放电的测试方法。



背景技术:

通常,计算机的存储系统包含存放程序和数据的各种存储设备、控制部件及管理信息调度的设备和算法,存储系统的性能在计算机中的地位日趋重要。存储系统需要具备数据保护功能,许多存储设备都会配备bbu(batterybackupunit,电池备份单元)。

在电源ac断电的情况下,由bbu放电来维持存储系统正常运行数据落盘,从而确保存储系统中数据不丢失。为了保证bbu在ac断电的情况下能够放电,需要对bbu的放电功能进行大量测试,甚至达到上千次测试。



技术实现要素:

本发明针对目前技术发展的需求和不足之处,提供一种bbu循环放电的测试方法。

本发明所述一种bbu循环放电的测试方法,解决上述技术问题采用的技术方案如下:所述bbu循环放电的测试方法,通过编写测试脚本,确定测试脚本能够调用执行,并对测试脚本赋予执行权限;使用该测试脚本,对bbu放电功能进行循环测试,并将测试执行结果写入日志。

优选的,该bbu循环放电的测试方法,其具体实现步骤包括:

1)拉高bbu放电使能端dhgfet;

2)开启系统掉电测试,读取当前bbu放电电流值;

3)判断放电电流是否异常;

4)停止系统掉电测试;

5)大量循环上述操作。

优选的,对bbu循环放电测试,循环1000次。

本发明所述一种bbu循环放电的测试方法,与现有技术相比具有的有益效果是:本方法能够实现bbu放电的循环测试,极大提高了测试效率,节省了大量人力资源;通过本方法,能够测试bbu放电功能是否正常,进而保证存储系统内数据在系统掉电时不丢失,提高了系统性能。

附图说明

附图1为bbu循环放电的测试方法的测试脚本的示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,对本发明所述一种bbu循环放电的测试方法进一步详细说明。

实施例:1:

本实施例提出了一种bbu循环放电的测试方法,具体实现过程包括:编写测试脚本,并确定测试脚本能够调用执行,对测试脚本赋予执行权限;使用该测试脚本,对bbu放电功能进行循环测试,并将测试执行结果写入日志,以备测试人员查看bbu放电测试是否达到标准。

本实施例所述bbu循环放电的测试方法,其具体步骤包括:

1)拉高bbu放电使能端dhgfet;

2)开启系统掉电测试,读取当前bbu放电电流值;

3)判断放电电流是否异常;

4)停止系统掉电测试;

5)大量循环上述操作。

实施例2:

本实施例所述bbu循环放电的测试方法,在实施例1的基础上,如附图1所示,其具体实现步骤如下:

1)拉高bbu放电使能端dhgfet;

2)开启系统掉电测试,读取当前bbu放电电流值;

3)判断放电电流是否异常;

4)停止系统掉电测试;

5)循环1000次。

本实施例所述bbu循环放电的测试方法,所编写的测试脚本如下:

#!/bin/bash

#查看并确保dhgfetbbu放电使能端打开

fet_stat=$((`i2cctl-b0rw,0xb,0x46`))

if((($fet_stat&2)==0))

then

fet_stat=$(($fet_stat|2))

i2cctl-b0ww,0xb,0x46,$fet_stat

echoenableddsgfet\($fet_stat\)

fi

foriin{1..1000}

do

#打开系统掉电测试

i2cctl-b0wb,0x67,5,0x05

#查看bbu放电时电压和电流

sleep1

echovoltage$((`i2cctl-f-b0rw,0xb,9`))mv

ma=$((`i2cctl-f-b0rw,0xb,0x0a`))

if(($ma<32767))

then

echo“batterydischargingcurrentiserror.”

elseif(($ma>32767))

then

ma=$(($ma-65536))

fi

echocurrent$ma*2ma

#终止系统掉电测试

i2cctl-b0wb,0x67,5,0x45

echo-e"thetesttimeis$i.\n"

done。

具体实施方式仅是本发明的具体个案,本发明的专利保护范围包括但不限于上述具体实施方式,任何符合本发明的权利要求书的且任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或替换,皆应落入本发明的专利保护范围。



技术特征:

技术总结
本发明公开一种BBU循环放电的测试方法,涉及存储系统领域,通过编写测试脚本,确定所述测试脚本能够调用执行,并对测试脚本赋予执行权限;使用所述测试脚本,对BBU放电功能进行循环测试,并将测试执行结果写入日志;其具体实现步骤包括:1)拉高BBU放电使能端DHG FET;2)开启系统掉电测试,读取当前BBU放电电流值;3)判断放电电流是否异常;4)停止系统掉电测试;5)循环1000次。本方法能够实现BBU放电的循环测试,极大提高了测试效率,节省了大量人力资源;能够测试BBU放电功能是否正常,进而保证存储系统内数据在系统掉电时不丢失,提高了系统性能。

技术研发人员:李佳颖
受保护的技术使用者:郑州云海信息技术有限公司
技术研发日:2017.07.28
技术公布日:2017.12.01
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1