花键轴底径跳动检具的制作方法

本发明属于机械技术领域，涉及一种花键轴底径跳动检具，特别是一种冷挤压花键轴底径的跳动检具。

背景技术：

花键轴用来传递机械扭矩，通常与套设于其上的旋转件传动连接，在花键轴的外表有纵向键槽，套在花键轴上的旋转件也有对应的键槽，可保持跟花键轴同步旋转，在旋转的同时，还可以在花键轴上作纵向滑动，如变速箱换档齿轮等。为保证花键轴的合格率，制造完成后需对花键轴的底径跳动进行检测。现有技术中，大都采用三坐标测量仪对其进行检测，其存在以下问题：三坐标测量仪成本高，检验方法复杂，从而不能快速对花键轴的底径跳动进行检测，而且检测精度较低。

技术实现要素：

本发明的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种结构简单，检测方便、快速和准确的花键轴底径跳动检具。

本发明的目的可通过下列技术方案来实现：

本花键轴底径跳动检具，包括工作台和设于工作台上用于支撑花键轴的支撑结构，在所述支撑结构的作用下花键轴可沿自身轴线周向转动，其特征在于，所述的花键轴上套设有呈筒状的辅套，所述辅套的内部周向均布有沿辅套轴向延伸的内齿，两相邻的内齿之间形成齿槽，所述内齿的齿数等于花键轴的花键数，且所述内齿的齿顶与花键轴的齿底贴合，所述花键轴的花键伸入至辅套的齿槽内且花键轴的齿顶与齿槽的齿底间具有间隙，所述的工作台上设有用于测量辅套外表面径向跳动的测量单元。花键轴的齿顶与齿槽的齿底间留有较大间隙，防止双重定位干涉。

在上述的花键轴底径跳动检具中，所述辅套的侧部具有轴向延伸的开槽，所述的开槽位于辅套的齿槽处并与该齿槽连通，所述的辅套利用自身的收缩力径向向内收缩。

在上述的花键轴底径跳动检具中，所述的花键轴水平设置。

在上述的花键轴底径跳动检具中，所述的测量单元包括设于工作台上的支架、一端套设于支架上的横杆和设于横杆上的百分表，所述百分表的量杆沿辅套的径向延伸，所述百分表量杆的下端抵靠在辅套的外表面上。

在上述的花键轴底径跳动检具中，所述的支撑结构包括设于工作台上的固定座一和与固定座一相对设置的固定座二，所述固定座一位于固定座二的一侧具有水平设置的顶尖一，所述固定座二位于固定座一的一侧具有顶尖二，所述的顶尖一与顶尖二同轴设置。

实际上由工作台、固定座一、固定座二、顶尖一和顶尖二构成了一个完整的高精度偏摆仪，顶尖一与顶尖二之间的距离可进行调节。安装时，顶尖一伸入至花键轴一端的顶针孔内，顶尖二伸入至花键轴另一端的顶针孔内。

本花键轴底径跳动检具的工作原理如下：利用花键轴本身的两顶针孔，架设在由工作台、固定座一、固定座二、顶尖一和顶尖二构成的高精度偏摆仪上，在花键前端套入辅套，辅套自身径向收缩涨紧，再将杠杆百分表搭设于辅套外圆表面，转动花键轴从杠杆百分表上计量数值，内齿的齿顶与花键轴的齿底贴合会使花键轴底径跳动完全反应到辅套外圆表面。

移动辅套至花键中部，同上操作对花键轴中部进行底径跳动检测，最后移动辅套至花键尾部，同上操作对花键轴尾部进行底径跳动检测，取计入数值的最大值为最终数值。

与现有技术相比，本花键轴底径跳动检具具有以下优点：

其结构简单，设计合理，对花键底径跳动检测快速方便，通过设置百分表可精确检测出花键轴底径跳动，相较于三坐标测量仪，其误差可在0.005毫米之内。

附图说明

图1是本发明提供的一种较佳实施例的结构示意图。

图2是本发明提供的辅套处的剖视图。

图中，1、工作台；2、辅套；21、内齿；22、齿槽；23、间隙；24、开槽；31、支架；32、横杆；33、百分表；41、固定座一；42、固定座二；43、顶尖一；44、顶尖二。

具体实施方式

以下是本发明的具体实施例并结合附图，对本发明的技术方案作进一步的描述，但本发明并不限于这些实施例。

如图1所示的花键轴底径跳动检具，包括工作台1和设于工作台1上用于支撑花键轴的支撑结构，在支撑结构的作用下花键轴可沿自身轴线周向转动，花键轴上套设有呈筒状的辅套2，如图2所示，辅套2的内部周向均布有沿辅套2轴向延伸的内齿21，两相邻的内齿21之间形成齿槽22，内齿21的齿数等于花键轴的花键数，且内齿21的齿顶与花键轴的齿底贴合，花键轴的花键伸入至辅套2的齿槽22内且花键轴的齿顶与齿槽22的齿底间具有间隙23，工作台1上设有用于测量辅套2外表面径向跳动的测量单元。本实施例中，花键轴的齿顶与齿槽22的齿底间留有较大间隙23，防止双重定位干涉。

如图2所示，辅套2的侧部具有轴向延伸的开槽24，开槽24位于辅套2的齿槽22处并与该齿槽22连通，辅套2利用自身的收缩力径向向内收缩。

如图1所示，花键轴水平设置。

如图1所示，测量单元包括设于工作台1上的支架31、一端套设于支架31上的横杆32和设于横杆32上的百分表33，百分表33的量杆沿辅套2的径向延伸，百分表33量杆的下端抵靠在辅套2的外表面上。

如图1所示，支撑结构包括设于工作台1上的固定座一41和与固定座一41相对设置的固定座二42，固定座一41位于固定座二42的一侧具有水平设置的顶尖一43，固定座二42位于固定座一41的一侧具有顶尖二44，顶尖一43与顶尖二44同轴设置。

实际上由工作台1、固定座一41、固定座二42、顶尖一43和顶尖二44构成了一个完整的高精度偏摆仪，顶尖一43与顶尖二44之间的距离可进行调节。安装时，顶尖一43伸入至花键轴一端的顶针孔内，顶尖二44伸入至花键轴另一端的顶针孔内。

本花键轴底径跳动检具的工作原理如下：利用花键轴本身的两顶针孔，架设在由工作台1、固定座一41、固定座二42、顶尖一43和顶尖二44构成的高精度偏摆仪上，在花键前端套入辅套2，辅套2自身径向收缩涨紧，再将杠杆百分表33搭设于辅套2外圆表面，转动花键轴从杠杆百分表33上计量数值，内齿21的齿顶与花键轴的齿底贴合会使花键轴底径跳动完全反应到辅套2外圆表面。

移动辅套2至花键中部，同上操作对花键轴中部进行底径跳动检测，最后移动辅套2至花键尾部，同上操作对花键轴尾部进行底径跳动检测，取计入数值的最大值为最终数值。

本文中所描述的具体实施例仅仅是对本发明精神作举例说明。本发明所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本发明的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。

技术特征：

技术总结
本发明提供了一种花键轴底径跳动检具，属于机械技术领域。它解决了现有的三坐标测量仪检测存在检验方法复杂、检测精度低的问题。本花键轴底径跳动检具，包括工作台和设于工作台上用于支撑花键轴的支撑结构，在支撑结构的作用下花键轴可沿自身轴线周向转动，花键轴上套设有呈筒状的辅套，辅套的内部周向均布有沿辅套轴向延伸的内齿，两相邻的内齿之间形成齿槽，内齿的齿数等于花键轴的花键数，且内齿的齿顶与花键轴的齿底贴合，花键轴的花键伸入至辅套的齿槽内且花键轴的齿顶与齿槽的齿底间具有间隙，工作台上设有用于测量辅套外表面径向跳动的测量单元。本发明具有结构简单，检测方便、快速和准确等优点。

技术研发人员：莫岳斌
受保护的技术使用者：台州市玖鼎光电科技有限公司
技术研发日：2017.12.04
技术公布日：2019.06.11