技术特征：
技术总结
本发明公开了一种集成运放开环幅频特性测试系统。待测集成运放的负输入端A、电阻R1的一端、电阻R2的一端、低噪声前置放大器的负输入端C连接在一起，电阻R1的另一端连接数据采集卡的通道0，电阻R2的另一端、待测集成运放的放大输出信号Vo1、数据采集卡的通道1连接在一起，待测集成运放的正输入端B接地，低噪声前置放大器的正输入端D接地，低噪声前置放大器的输出端Vo2连接数据采集卡的通道2，数据采集卡连接计算机，数据采集卡采集的数据提供给计算机，由计算机中的信号互相关分析处理软件进行分析得到得待测集成运放的开环幅频特性曲线。本发明的有益效果是测试装置结构简单，精度高，测试范围广，读数直观。
技术研发人员：田恬;肖仕武
受保护的技术使用者：华北电力大学
技术研发日：2017.12.05
技术公布日：2018.04.27