技术总结
本实用新型涉及一种利用光强分布信息测量高斯型涡旋光拓扑荷的装置，属于光测量领域。该装置利用He‑Ne激光器产生强度稳定的高斯光束，所述高斯光束在空间光调制器的作用下附着上涡旋相位，成为高斯型涡旋光。所述高斯型涡旋光经过圆孔和中性密度滤光片后被移除杂光，然后被CCD检测器接收。所述CCD检测器接收的光强信息将被传输至计算机。计算机对所述光强信息进行傅里叶变换，得到涡旋光光强在频域空间的分布图样。该图样的暗环数量即是高斯型涡旋光的拓扑荷值。本实用新型的优点：不需要大量的光学元件，不需要严格校准，运行速度快，可以实现较大拓扑荷值的测量。
技术研发人员：王浩;陈君
受保护的技术使用者：中国计量大学
文档号码：201720105536
技术研发日：2017.01.20
技术公布日：2017.10.24