用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘的制作方法

文档序号:13104380阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘,其组成包括:试样形变度量标尺和试样度量支撑底盘,其特征是:所述的试样形变度量标尺与试样贴紧,试样形变度量标尺与试样度量支撑底盘靠两个平行凹凸槽联结固定,所述的试样度量支撑底盘内嵌入有形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率被测试样,所述的试样形变度量标尺的尺寸与相关试样相对应,所述的试样形变度量标尺的刻度与相关加热干燥箱试样相对应。

2.根据权利要求1所述的用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘,其特征是:所述的试样形变度量标尺由透明的高分子材料加工而成,所述的试样形变度量标尺的刻度是对称的,0度在中轴,从中心线往两侧刻成均匀对称的度盘,左边和右边最大刻度值均为90度。

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