用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘的制作方法

本实用新型涉及一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘。

背景技术：
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用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘。对于研究形状记忆高聚物的形状回复性质有很大的实际意义。一方面，形状记忆高分子聚合物作为一类重要的功能材料，在航空航天、智能控制系统、电力电子、医疗、包装等领域具有广泛的应用。应用上需要选择及合成合适的高分子材料。另一方面，针对形状记忆高分子材料，需要进行控温箱内形状冻结和回复实验，通过测定不同样品回复过程中的曲率角度变化，形状回复率是衡量形状记忆材料性能好坏的一个最为重要的指标，它的大小直接反映了材料在二次成型后，记忆其初始形状的能力。形变固定率是决定形状记忆材料使用的另一重要指标，反映形状记忆材料在二次成型后保持其形状的能力，它的大小直接影响二次成型制品在使用中的存放与保管。因而是研究形状记忆高分子材料的一种有力手段。

技术实现要素：
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本实用新型的目的是提供一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘，利用现有仪器的条件，在相关加热干燥箱的可用空间内，完成当材料在不同的温度下进行形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试的装置，即用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘。

上述的目的通过以下的技术方案实现：

一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘，其组成包括：试样形变度量标尺和试样度量支撑底盘，所述的试样形变度量标尺与试样贴紧，试样形变度量标尺与试样度量支撑底盘靠两个平行凹凸槽联结固定，所述的试样度量支撑底盘内嵌入有形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率被测试样，所述的试样形变度量标尺的尺寸与相关试样相对应，所述的试样形变度量标尺的刻度与相关加热干燥箱试样相对应。

所述的用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘，所述的试样形变度量标尺由透明的高分子材料加工而成，所述的试样形变度量标尺的刻度是对称的，0度在中轴，从中心线往两侧刻成均匀对称的度盘，左边和右边最大刻度值均为90度。

有益效果：

1.本实用新型为创新型附件，能够实现研究用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘的制作。

本实用新型的试样形变度量标尺。试样形变度量标尺的刻度与相关加热干燥箱试样相对应，测量形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率时可直接将试样图片放在本实用新型内即可，方便实用。

本实用新型的试样形变度量标尺和试样度量支撑底盘靠两个平行凹凸槽联结固定，试样度量支撑底盘对被测试样和试样形变度量标尺起到支撑作用，目的是为了避免试样测试过程中试样形变度量标尺倾斜造成测量数据不准确。因为测试过程中，试样需要保持水平，试样度量支撑底盘起到了机械支撑的作用。试样度量支撑底盘由高分子合金厚板加工制成，所述的试样度量支撑底盘与试样形变度量标尺靠两个平行凹凸槽联结，高分子合金具有优异的机械性能，能够完全满足制样平衡定位和机械支撑要求。

本实用新型试样形变度量标尺由试样度量支撑底盘支撑，试样形变度量标尺的凸出部分能够在度量支撑底板的凹槽内上下移动，试样形变度量标尺中心线与试样度量支撑底盘的中心线重合，保证准确测量形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率。试样形变度量标尺由透明的高分子材料加工而成。试样形变度量标尺的刻度是对称的，0度在中轴，从中心线往两侧刻成均匀对称的度盘，左边和右边最大刻度值均为90度。测试时试样的中心线与试样形变度量标尺的0刻度线高度重合。

附图说明：

附图1是本实用新型的试样形变度量标尺的结构示意图。

附图2是附图1的俯视图。

附图3是本实用新型的试样度量支撑底座的结构示意图。

具体实施方式：

实施例1：

一种用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘，其组成包括：试样形变度量标尺1和试样度量支撑底盘2，所述的试样形变度量标尺与试样贴紧，试样形变度量标尺与试样度量支撑底盘靠两个平行凹凸槽联结固定，所述的试样度量支撑底盘内嵌入有形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率被测试样，所述的试样形变度量标尺的尺寸与相关试样相对应，所述的试样形变度量标尺的刻度与相关加热干燥箱试样相对应。

实施例2：

根据实施例1所述的用于测量高分子材料形状回复率和固定率的度盘，所述的试样形变度量标尺由透明的高分子材料加工而成，所述的试样形变度量标尺的刻度是对称的，0度在中轴，从中心线往两侧刻成均匀对称的度盘，左边和右边最大刻度值均为90度。