技术总结
本申请提供一种测量装置，该测量装置包括：夹持机构，用于可释放地将待检测参数所涉及的至少一个基础件夹持于测量位置；中心轴的一端用于同轴地顶接作为所述基础件的装配轴；测量机构独立于所述夹持机构并用于对位于所述测量位置的基础件测量所述待检测参数，所述测量机构包括机架和感测装置，机架的下端设置有测量基准块。在本申请的技术方案中，夹持机构和测量机构相互独立，因此测量机构进行测量时不会受到非必要的承载载荷的影响，从而获得较高的精准度。
技术研发人员：刘树林
受保护的技术使用者：南京泰普森自动化设备有限公司
文档号码：201721267263
技术研发日：2017.09.28
技术公布日：2018.05.11