粉末电导率测试装置的制作方法

本申请涉及一种电导率测试装置，具体地涉及一种粉末电导率测试装置。

背景技术：

一般块状固体测试电导率只需要将样品两端接到电子电导率测试仪上即可进行测试，但粉末类型样品则需要将其压成块状，再与电子电导率测试仪进行连接才能进行测试。

在现有的粉末电导率测试方法中，最大可施加压力低，普遍在2吨以下，一般通过减小受力面积以增加粉末实际承受的压强，但是这样会导致粉末加入夹具，使得清洁难度增加。另外，现有方法的测试重复性差，一般通过多次测试取平均值以提高其重复性，但是会增加测试时间，且效果并不理想。

技术实现要素：

针对相关技术中的问题，本申请提出一种电导率测试装置，至少能够减小受力面积增加了粉末样品实际承受的压强，同时避免了粉末进入夹具的问题，易于清洁。

本申请的技术方案是这样实现的：

根据本申请的一个方面，提供了一种粉末电导率测试装置，包括：第一绝缘部件，具有由上至下贯通的腔体；压块，位于腔体的内部；第一测试部件，第一测试部件的一部分与压块接触并且可在腔体内上下移动；第二测试部件，位于第一绝缘部件和压块的下方；其中，第一测试部件与压块导电连接，第二测试部件与压块导电连接，第一测试部件具有第一测试接口，第二测试部件具有第二测试接口。

根据本申请的实施例，第一绝缘部件构造为聚醚醚酮形成的部件。

根据本申请的实施例，压块包括位于第二测试部件上方的第一压块和位于第一压块上方的第二压块，其中第一测试部件的一部分与第二压块的上表面接触。

根据本申请的实施例，第一测试部件包括可在腔体内上下移动的第一接触部件；第一测试部件还包括第二接触部件，第二接触部件的下表面与第一接触部件的上表面连接，并且第二接触部件的下表面大于第一接触部件的上表面；其中，第一测试接口由第二接触部件的侧壁向其内部水平延伸。

其中，粉末电导率测试装置还包括位于第一测试部件上方的上绝缘盖，上绝缘盖的下表面具有凹槽，第二接触部件的上部位于凹槽内部；其中，第一测试接口位于上绝缘盖的下方。

根据本申请的实施例，粉末电导率测试装置还包括下绝缘部件，下绝缘部件的上表面具有凹槽，下绝缘部件的侧面具有与凹槽连通的开口，第二测试部件的下部位于凹槽内，第二测试接口位于第二测试部件的侧面并与开口相对。

其中，第二测试部件的顶面高于下绝缘部件的顶面，并且第二测试部件向上延伸进第一绝缘部件。

根据本申请的实施例，还包括样品取出器，样品取出器包括柱状的第一取出部件，第一取出部件可在腔体内上下移动，第一取出部件的高度大于腔体的高度。

其中，取出器还包括第二取出部件，并且第二取出部件具有由上至下延伸的第二腔体，第二腔体的截面形状与腔体的截面形状相同，且第二腔体的截面尺寸与腔体的截面尺寸相同。

根据本申请的实施例，第一测试部件、压块以及第二测试部件都构造为镀铬钢形成的部件。

本申请提供了一种粉末电导率测试装置，通过减小受力面积增加了粉末样品实际承受的压强，同时避免了粉末进入夹具的问题，易于清洁。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本申请实施例的粉末电导率测试装置的透视图；

图2是图1中第一测试部件的剖视图；

图3是图1中上绝缘盖的立体图；

图4是图1中下绝缘部件立体图；

图5是根据本申请实施例的粉末电导率测试装置的取出器的立体图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

根据本申请的实施例，提供了一种粉末电导率测试装置。

如图1所示，根据本申请实施例的粉末电导率测试装置100包括：第一绝缘部件10，具有由上至下贯通的腔体12；压块20，位于腔体12的内部；第一测试部件30，第一测试部件30的一部分与压块20接触并且可在腔体12内上下移动；第二测试部件40，位于第一绝缘部件10和压块20的下方；其中，第一测试部件30与压块20导电连接，第二测试部件40与压块20导电连接，第一测试部件30具有第一测试接口32，第二测试部件40具有第二测试接口42。其中，第一绝缘部件10腔体12用于装载粉末样品；第一测试部件30的第一测试接口32和第二测试部件40的第二测试接口42是进行电阻率测试的电压与电流连接端口。

本申请的上述技术方案，提供了一种粉末电导率测试装置，在腔体12的内部装载粉末样品并通过第一测试部件30给粉末样品施加压力，从而通过减小受力面积增加了粉末样品实际承受的压强，同时避免了粉末进入夹具的问题，易于清洁。

其中，第一绝缘部件构造为聚醚醚酮(PEEK)形成的部件。在现有技术中，最大可施压压力低的主要原因所采用材料的抗压强度低，通过采用高强度工程塑料PEEK形成绝缘部件，可在满足绝缘性的同时承受较大的施加压力。

其中，压块20可以包括位于第二测试部件40上方的第一压块和位于第一压块上方的第二压块，其中第一测试部件30的一部分与第二压块的上表面接触。也就是说，压块的数量可以是两个，两个压块叠置在第一测试部件30和第二测试部件40之间，粉末样品装置在两个压块之间。在现有技术中，测试重复性差的主要原因是夹具组件之间的契合度差，测试过程中容易掉粉，通过使用两个压块，直接作用于粉末样品表面给样品施加压力，能够将压块与粉末样品的契合度控制在0.02mm以内。

如图2所示，根据本申请的实施例，第一测试部件30可以包括可在腔体12内上下移动的第一接触部件34；第一测试部件30还包括第二接触部件36，第二接触部件36的下表面与第一接触部件34的上表面连接，并且第二接触部件36的下表面大于第一接触部件34的上表面；其中，第一测试接口32由第二接触部件36的侧壁向其内部水平延伸。

继续参考图1所示，粉末电导率测试装置100还可以包括位于第一测试部件30上方的上绝缘盖50。结合图3所示，上绝缘盖50的下表面具有凹槽52，第二接触部件36的上部位于凹槽52内部；其中，第一测试接口32位于上绝缘盖50的下方。上绝缘盖50也可以构造为PEEK形成的部件，在满足绝缘性的同时承受较大的施加压力。通过在第一测试部件30的上方安装上绝缘盖50，能够隔绝第一测试部件30与其他设备之间的导电性，例如隔绝与用于施加压力的压力试验机之间的导电性。

如图1所示，根据本申请的实施例，粉末电导率测试装置100还可以包括下绝缘部件60。结合图4所示，下绝缘部件60的上表面具有凹槽64，下绝缘部件60的侧面具有与凹槽64连通的开口62，第二测试部件40的下部位于凹槽64内，第二测试接口42位于第二测试部件40的侧面并与开口62相对。下绝缘部件60也可以构造为PEEK形成的部件，在满足绝缘性的同时承受较大的施加压力。通过在第二测试部件40下方安装下绝缘部件60，能够隔绝第二测试部件40与其他设备之间的导电性，例如隔绝与用于施加压力的压力试验机之间的导电性。

其中，第二测试部件40的顶面可高于下绝缘部件60的顶面，并且第二测试部件40向上延伸进第一绝缘部件10。

参考图5所示，根据本申请的实施例，粉末电导率测试装置100还可以包括样品取出器70，用于取出压实后的粉末样品，样品取出器70包括柱状的第一取出部件72，第一取出部件72可在腔体12内上下移动，第一取出部件72的高度大于腔体12的高度。

其中，取出器70还可以包括第二取出部件74，并且第二取出部件74具有由上至下延伸的第二腔体76，第二腔体76的截面形状与腔体12的截面形状相同，且第二腔体66的截面尺寸与腔体12的截面尺寸相同。

根据本申请的实施例，第一测试部件30、压块20以及第二测试部件40都可以构造为镀铬钢形成的部件。通过采用导电性能良好的镀铬钢可以增强各个部件的导电性。

下面结合如图1所示的实施例，对本申请的粉末电导率测试装置的测试方法进行说明。在粉末电导率测试装置100的两个压块20之间装载粉末样品，再通过4个螺丝孔将第一测试接口32和第二测试接口42分别与电阻测试仪器上的电压与电流输出端口连接，保证电阻测试仪器的电流经第一测试部件30、压块20和第二测试部件40流经样品。然后用压力试验机在粉末电导率测试装置100上施加相应的压力后粉末样品被压实，读出压实后的样品电阻与样品高度，即可计算出样品的电导率。例如，称取5g样品装入两个压块20之间，在5t(吨)压力下测得压实后样品的电阻R为4.49kΩ，压实后样品的高度h为0.362cm，样品底面积S为3.14cm²，则计算5t下的样品电导率σ为：

以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。