技术总结
本实用新型涉及核辐射污染检测装置领域，旨在提供一种能够提高测量精度的多功能α、β表面污染测量装置，其技术方案要点是包括仪表和探头，还包括测量台，所述测量台上设有支架，所述支架上设有探头孔，所述探头设置在探头孔内，所述仪表设置在测量台上。通过采用上述技术方案，在检测物体表面的放射性污染程度时，将被检测物体和仪表放置在测量台上，将探头放置在支架上的探头孔内，使探头朝向被检测物体，在检测过程中，由于探头被固定在支架上，使探头与被检测物体表面之间的距离固定不变，从而提高测量精度。
技术研发人员：潘天翔;胡建伟;史春阳
受保护的技术使用者：江苏省苏核辐射科技有限责任公司
技术研发日：2017.12.08
技术公布日：2018.06.26