专利名称：物体表面凸凹程度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种物体表面凸凹程度的测量仪器，能够测量不同弧度(包括0弧度平面)的物体表面上某一部位偏离该物体表面正常弧度的凸凹程度，可以通过测量仪上的电子数字显示屏读取具体的偏离凸凹值，测量精度为0.01mm。
背景技术：
目前，测量物体表面凸凹程度的方法有很多，仪器也有很多种，但是大多都是要想测量准确方法就比较复杂，要想测量方法简单误差就较大，并且大多精准的仪器价格都较高，不易应用到日常工作中。因此，缺少一个方法简单、价格便宜、数据准确的测量仪器。
发明内容
为了解决测量方法、仪器价格和准确程度三者的矛盾，本实用新型提供了一种测量仪，该测量仪不仅造价低，重要的是简单易用，便于携带，而且测量结果准确。使用该测量仪可以测量不同弧度物体表面(球面、凹面、平面)上某个部位相对于该物体表面正常参考弧度的凸凹值，直接通过显示屏读取数据。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是在固定支架上设两个触点，在滑动支架上设一个触点，加上测量探针针尖，共设置了四个距离均等的测量触点。测量时，在固定支架和滑动支架上三个触点确定了一个参考面(弧面或平面)后，推动测量探针紧贴被测部位，若电子位移检测仪的读书为0，说明被测部位与参考面处于同一个弧面或平面上，若电电子位移检测仪的读数有正负之分，正数表示被测点比参照弧度凸出的程度，负数表示被测点比参照弧度凹进的程度。该物体表面凸凹程度测量仪的测量精度与所采用的电子位移检测仪的精度有关，可以精确到0.01mm。
本实用新型的有益效果是在测量物体表面某点凸凹程度的时候，简单、快捷，准确。
以下结合附图
和实施例对本实用新型进一步说明。
附图是本实用新型的整体构造主视图。
图中1.固定支架，2.滑动支架，3.测量探针，4.电子位移检测仪，5.测量触点，6.测量触点，7.测量触点，8.测量触点。
具体实施方式
在附图中，滑动支架(2)装设在固定支架(1)上，并可以相对固定支架(1)上下滑动；电子位移检测仪(4)固定在滑动支架(2)上，不能移动；测量探针(3)装设在电子位移检测仪(4)上，并可以相对电子位移检测仪(4)上下滑动，其滑动量可以在电子位移检测仪的屏幕上显示出来。该物体表面凸凹程度测量仪的四个测量触点(5)(6)(7)(8)在初始状态时处于同一直线，且距离均等，利用四点的相互移动可以测量物体的凸面、凹面以及平面上某一部分相对于正常表面凸出或凹下的程度。测量仪的大小尺寸和测量范围可以根据实际应用领域的需要而定。
权利要求1.一种物体表面凸凹程度测量仪，由固定支架、滑动支架、测量探针和电子位移检测仪四部分组成，在固定支架上设置了两个触点，在滑动支架上设置一个触点，加上测量探针共设置了四个距离均等的测量触点，其特征是在固定支架和滑动支架上三个触点确定了一个参考弧面或平面后，用测量探针接触被测部位，在电子位移检测仪上读出测量结果。
专利摘要一种能够测量不同弧度(包括0弧度平面)的物体表面上某一点与该物体表面正常弧度偏离程度的电子数显测量仪。它由固定支架、滑动支架、测量探针和电子位移检测仪四部分组成。它是在由固定支架上的两个触点、滑动支架上一个触点共三点确定了被测物体的正常表面参照弧度后，通过移动测量探针接触被测部位，从而在电子位移检测仪上读出该测量点偏离正常参考弧度的凸凹值。
文档编号G01B7/02GK2754059SQ200420091418
公开日2006年1月25日 申请日期2004年9月10日 优先权日2004年9月10日
发明者邵新喜 申请人:邵勇