本实用新型涉及手机玻璃基板测试技术领域，具体为一种用于手机玻璃基板的平面度和电性能测试装置。
背景技术：
TFT是薄膜晶体管的缩写，手机玻璃也属于TFT的一种应用。TFT式显示屏是各类笔记本电脑和台式机上的主流显示设备，该类显示屏上的每个液晶像素点都是由集成在像素点后面的薄膜晶体管来驱动，因此TFT式显示屏也是一类有源矩阵液晶显示设备。是最好的LCD彩色显示器之一，TFT式显示器具有高响应度、高亮度、高对比度等优点，其显示效果接近CRT式显示器，同时，TFT式屏幕也普遍应用于中高端彩屏手机中，分65536色、16万色，1600万色三种，其显示效果非常出色，TFT是指液晶显示器上的每一液晶像素点都是由集成在其后的薄膜晶体管来驱动。从而可以做到高速度高亮度高对比度显示屏幕信息，TFT-LCD(薄膜晶体管液晶显示器)是多数液晶显示器的一种用于手机玻璃基板的平面度和电性能测试装置。
随着社会的发展，越来越多的电子设备都使用TFT作为显示设备，TFT上的液晶点很多时候会出现损坏的情况，如果不能很好的检查，会导致出现质量问题，影响显示，因此市场上出现了很多TFT测试装置。
现有的存在以下不足之处和问题：
(1)传统的TFT测试装置一般只能检测TFT的电性能或平面度，功能单一，一般TFT的测试需要两个工序、两个设备才能完成对TFT电性能和平面度的检测，耗时较长，且设备多，成本高。
(2)现有的测试装置探针的位移轨迹较复杂，需要复杂的程序控制，且探针不容易准确地插进TFT上的探测点，增加了测试时间，这对大批量的TFT的测试工程极为不利，检测效率低。
技术实现要素：
为了克服现有技术方案的不足,本实用新型提供一种用于手机玻璃基板的平面度和电性能测试装置，能同时对TFT的平面度和电性能进行测试，大大缩减了整个测试流程时间，且设备结构简单，成本低，探针位移轨迹简单，红外线的发射与接收可使探针精准快捷地插进TFT检测点，点对点连接，测试准确，测试效率高，适合大批量TFT的检测，能有效的解决背景技术提出的问题。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种用于手机玻璃基板的平面度和电性能测试装置，包括机壳，所述机壳内部底部和顶部分别安装有支撑台和横轨，所述支撑台顶面上安装有夹具和若干个红外线激光发射器；
所述横轨一端固定连接有第一伸缩杆，所述第一伸缩杆连接有第一滑块，所述第一滑块底部连接有纵轨，所述纵轨一端通过固定板连接有第二伸缩杆，所述第二伸缩杆连接有第二滑块，所述第二滑块底端通过竖直升降杆连接有悬吊台；
所述悬吊台底部从左到右依次安装有激光平面度检测器、探针座和红外线接收器，所述探针座底部安装有若干探针，若干所述的探针顶端通过排线接头连接有排线。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述支撑台顶面贴有绝缘缓冲垫。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述夹具端剖面形状为倒“L”形，所述夹具内侧连接有橡胶缓冲块。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述横轨与纵轨相互垂直，所述横轨和纵轨内均设有“T”形槽，所述第一滑块、第二滑块均在“T”形槽内滑动，所述第一滑块和第二滑块均为T形滑块。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述激光平面度检测器连接有显示屏，所述排线一端连接有分析仪。
作为本实用新型一种优选的技术方案，所述红外线激光发射器发射的红外线激光竖直向上，所述红外线接收器底侧设有竖直圆柱孔。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
(1)本实用新型激光平面度检测器和探针座均安装在悬吊台底部，在悬吊台在三维空间内移动、探针插进TFT的测试点进行电测试的过程中，激光平面度检测器也在检测TFT的平面度，同时对TFT的平面度和电性能进行测试，大大缩减了整个测试流程时间，且设备结构简单，成本低。
(2)本实用新型的TFT放在支撑台上由夹具夹紧固定位置后，红外线激光发射器发出红外线激光，而红外线接收器在水平面内不停移动寻找红外线激光，红外线激光射到红外线接收器上时，探针正好位于TFT检测点的正上方，这时探针下降接触TFT的检测点，即可完成点对点连接，测试准确，寻找方便快捷，加快了测试速度，适合大批量TFT的检测。
(3)本实用新型的探针的位移轨迹简单，不需复杂的程序控制，探针和激光平面度检测器通过两个伸缩杆和一个竖直升降杆在三维空间内移动，位移结构简单，成本低。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图；
图2为本实用新型的夹具的夹臂端面示意图；
图3为本实用新型的横轨和纵轨结构示意图；
图4为本实用新型的探针与排线连接示意图。
图中：1-机壳；2-支撑台；201-夹具；202-红外线激光发射器；203-橡胶缓冲垫；204-橡胶缓冲垫；3-横轨；301-第一伸缩杆；302-第一滑块；4-纵轨；401-第二伸缩杆；402-第二滑块；5-竖直升降杆；6-悬吊台；7-激光平面度检测器；701-显示屏；8-探针座；801-探针；802-排线接头；803-排线；804-分析仪；9-红外线接收器；901-竖直圆柱孔；10-“T”形槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
以下各实施例的说明是参考附图，用以示例本实用新型可以用以实施的特定实施例。本实用新型所提到的方向和位置用语，例如「上」、「中」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向和位置。因此，使用的方向和位置用语是用以说明及理解本实用新型，而非用以限制本实用新型。
实施例：
如图1所示，本实用新型提供了一种用于手机玻璃基板的平面度和电性能测试装置，包括机壳1，所述机壳1内部底部和顶部分别安装有支撑台2和横轨3，所述支撑台2顶面贴有绝缘缓冲垫203，支撑台2支撑TFT，防止TFT的质量全在夹具上，探针801与检测点连接的时候会对TFT产生压力，绝缘缓冲垫203保护TFT，使TFT不会因受压而损坏。
如图1和图2所示，所述支撑台2顶面上安装有夹具201和若干个红外线激光发射器202，所述夹具201端剖面形状为倒“L”形，所述夹具201内侧连接有橡胶缓冲块204，夹具201夹住TFT的侧面，“L形”的夹具201边使TFT被夹住的时候不会旋转，保证了TFT的稳定性。橡胶缓冲块204保护了TFT，防止夹具201夹裂TFT或磨损TFT的边角。多个激光发射器202的设计使探针801可以检测TFT上更多的检测点，方便了检测，不需移动TFT即可使测试装置检测TFT一个面上的所有检测点，测试效率更高。
如图1和图3所示，所述横轨3一端固定连接有第一伸缩杆301，所述第一伸缩杆301连接有第一滑块302，所述第一滑块302底部连接有纵轨4，所述纵轨4一端通过固定板连接有第二伸缩杆401，固定板使第二伸缩杆401尾部具有支撑力，所述第二伸缩杆401连接有第二滑块402，所述第二滑块402底端通过竖直升降杆5连接有悬吊台6，所述横轨3与纵轨4相互垂直，所述横轨3和纵轨4内均设有”T”形槽10，所述第一滑块302、第二滑块402均在”T”形槽10内滑动，”T”形槽10对其内部的滑块既起支撑轨道底部检测仪器重力的作用，同时防止了探针801接触检测点的时候滑块的上移，保证了测试过程的稳定性。所述第一滑块302和第二滑块402均为T形滑块，便于滑块底部部件的安装，T形滑块与”T”形槽10配合，使滑块在“T”形槽内滑动更稳定，一般滑块在各自轨道上滑动的时候，移动轨迹可以认定为是一条直线。
如图4所示，所述悬吊台6底部从左到右依次安装有激光平面度检测器7、探针座8和红外线接收器9，所述激光平面度检测器7连接有显示屏701，激光平面度检测器7在两个伸缩杆的带动下在平面内位移，激光平面度检测器7发出的激光不停在TFT表面上扫描，然后将检测信号传递给显示屏701，即可分析出TFT的平面度合格与否。两个伸缩杆的伸缩带动悬吊台6移动可完成激光平面度检测器7对TFT表面的扫描检测，能完成TFT的平面度检测，TFT的平面度检测过程方便快捷。
如图4所示，所述探针座8底部安装有若干探针801，伸缩杆和升降杆的位移使探针801能在三维空间内移动，探针801的位移轨迹简单，不需复杂的程序控制，探针801找到TFT的检测点并连接花费的时间短，大大节约了检测时间。若干所述的探针801顶端通过排线接头802连接有排线803。所述排线803一端连接有分析仪804，两个伸缩杆带动红外线接收器9不停的在平面内移动而寻找红外线激光，红外线接收器9接收到红外线后，探针801下降与TFT检测点连接，检测出的信号从带线传递给分析仪804，即可测试出TFT的电性连接是否牢固、电性能是否完整。
如图1所示，悬吊台6在三维空间内移动时带动激光平面度检测器7和探针801位移，探针801在寻找到连接TFT的测试点进行电测试的过程中，激光7平面度检测器7在不停地检测TFT的平面度，TFT的平面度的检测和TFT的电性能测试同时进行，大大缩减了整个测试流程时间，且设备结构简单，成本低。
如图1所示，所述红外线激光发射器202发射的红外线激光竖直向上，所述红外线接收器9底侧设有竖直圆柱孔901，防止红外线激光发射器202发射出的激光不能传递到红外线接收器9上，使红外线激光只能被接收器上的一块很小的面积接收，使点对点更准确，探针801与TFT检测点连接更精确，测试结果更真实可靠。
如图1所示，TFT被夹具201稳定位置后，红外线激光发射器202发出红外线激光垂直射向正上方，而红外线接收器9在水平面内不停移动寻找红外线激光，红外线激光射到红外线接收器7上时，探针801正好位于TFT检测点的正上方，这时探针下801降接触TFT的检测点，即可完成点对点连接，测试准确，探801寻找测试点位置方便快捷，加快了测试速度，适合大批量TFT的检测。
综上所述，本实用新型的主要特点在于：
(1)悬吊台在三维空间内移动时带动激光平面度检测器和探针位移，探针在寻找到连接TFT的测试点进行电测试的过程中，激光平面度检测器在不停地检测TFT的平面度，TFT的平面度的检测和TFT的电性能测试同时进行，大大缩减了整个测试流程时间，且设备结构简单，成本低。
(2)两个伸缩杆的伸缩带动悬吊台移动可完成激光平面度检测器对TFT表面的扫描检测，能完成TFT的平面度检测，TFT的平面度检测过程方便快捷。
(3)伸缩杆和升降杆的位移使探针能在三维空间内移动，探针的位移轨迹简单，不需复杂的程序控制，探针找到TFT的检测点并连接花费的时间短，大大节约了检测时间。
(4)TFT被夹具稳定位置后，红外线激光发射器发出红外线激光垂直射向正上方，而红外线接收器在水平面内不停移动寻找红外线激光，红外线激光射到红外线接收器上时，探针正好位于TFT检测点的正上方，这时探针下降接触TFT的检测点，即可完成点对点连接，测试准确，探针寻找测试点位置方便快捷，加快了测试速度，适合大批量TFT的检测。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。