技术特征：
技术总结
一种用于分析样本的方法可包含获得对应于样本内的高丰度化合物的滞留时间和质荷比范围的排除列表；使用色谱柱分离所述样本的组分；使用质量分析器获得第一质量数据集，同时排除在所述排除列表的滞留时间和质荷比范围内的离子；产生所述第一质量数据集的特征的包含列表；将对应于所述包含列表的特征的离子碎片化；从所述碎片化的离子获得第二质量数据集；以及基于所述第二质量数据集识别和/或量化低丰度化合物。
技术研发人员：I·莫塔什米;T·斯特拉顿;M·A·布兰克
受保护的技术使用者：萨默费尼根有限公司
技术研发日：2018.01.30
技术公布日：2018.08.07