技术特征：
技术总结
本发明提供了一种基于改进R矩阵方法的光谱反射率重建方法，包括步骤1，采集多光谱图像作为待测样本，并将待测样本转换为光谱反射率曲线L；步骤2，通过改进R矩阵方法得到待测样本的光谱反射率；本发明使用Tikhonov正则化方法对求基本刺激光谱和同色异谱黑的过程中的病态情况进行限制，分别提高其求解精度，然后结合两部分计算结果得到更为精确的光谱重建结果。
技术研发人员：王慧琴;王可;殷颖;王展;赵丽娟;杨蕾
受保护的技术使用者：西安建筑科技大学
技术研发日：2018.04.02
技术公布日：2018.10.19