本发明涉及红外探测器领域，尤其是涉及一种非均匀性校正装置及使用其校正红外探测器的非均匀性的方法。
背景技术：
当下由于红外探测器制作工艺的限制，在具体制作中，各像元间很难保证响应性能完全一致，由此将导致在实际成像中出现图像的各种不均匀现象。而现今普遍的处理方法是采用一点，两点甚至多点校正的方式，人为将探测器的各像素响应在均匀黑体辐射下校正均匀。理论上来说，采用校正的点数目越大，校正结果越准确。但考虑到实际软硬件情况，校正时大多采用两点校正法，且现有的校正装置都只能对一颗红外探测器进行校正。这样即使得校正准确性难以达到高精度应用要求，又存在校正效率低和人力物力资源浪费的现象。
技术实现要素：
本发明的目的之一是提供一种非均匀性校正装置及使用其校正红外探测器的非均匀性的方法，通过该装置及方法，能够更高效地、批量地校正红外探测器的非均匀性，并且能够实现高精度、高准确性的校正。
一个实施例中，提供了一种使用非均匀性校正装置校正红外探测器的非均匀性的方法，其特征在于：
所述校正装置包括：
多个恒温箱，所述多个恒温箱沿第一方向排列，其中每个恒温箱中设有多个红外探测器测试装置，所述多个红外探测器测试装置在其所属的恒温箱中沿第二方向排列，所述多个红外探测器测试装置中的每个红外探测器测试装置能够对一个或者多个红外探测器进行非均匀性校正；
位移电机平台，所述位移电机平台上设有多个黑体和至少一个位移电机，所述多个黑体具有不同的温度，并且在所述位移电机平台上沿所述第一方向排列，所述至少一个位移电机能够驱动所述多个黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向和所述第一方向的反方向以及沿所述第二方向和所述第二方向的反方向运动，并且所述多个黑体的运动路径经过所述多个红外探测器测试装置的探测范围；
所述方法包括：
用所述至少一个位移电机驱动所述多个黑体中的第一黑体和第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向运动，使得所述第一黑体进入所述多个恒温箱中的第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围；
所述一个红外探测器测试装置用所述第一黑体对所述一个红外探测器测试装置内的红外探测器进行非均匀性校正；
用所述至少一个位移电机驱动所述第一黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第一黑体依次进入所述第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；
用所述至少一个位移电机驱动所述多个黑体中的第一黑体和第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向继续运动，使得所述第一黑体进入所述多个恒温箱中的第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围并且所述第二黑体进入所述第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围；
所述第二恒温箱中的所述一个红外探测器测试装置用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；
所述第一恒温箱中的所述一个红外探测器测试装置用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；
用所述至少一个位移电机驱动所述第一黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第一黑体依次进入所述第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述第二恒温箱中的所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；
用所述至少一个位移电机驱动所述第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第二黑体依次进入所述第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述第一恒温箱中的所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
一个实施例中，所述第一方向与所述第二方向相互垂直。
一个实施例中，所述第一黑体的温度小于所述第二黑体的温度。
一个实施例中，所述位移电机平台包括第一导轨和第二导轨，所述第一导轨沿所述第一方向延伸，所述第二导轨沿所述第二方向延伸，所述第二导轨设置在所述第一导轨上并能够相对于所述第一导轨在所述第一方向和所述第一方向的反方向上运动，所述多个黑体中的至少一部分设置在所述第二导轨上并且能够相对于所述第二导轨在所述第二方向和所述第二方向的反方向上运动。
一个实施例中，所述第一黑体具有第一温度，所述第二黑体具有第二温度，所述方法还包括：
将所述第一黑体的温度调节为所述第二温度，并将所述第二黑体的温度调节为所述第一温度；
用所述至少一个位移电机驱动所述多个黑体中的第一黑体和第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向的反方向运动，使得所述第二黑体进入所述多个恒温箱中的第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围；
所述一个红外探测器测试装置用所述第二黑体对所述一个红外探测器测试装置内的红外探测器进行非均匀性校正；
用所述至少一个位移电机驱动所述第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第二黑体依次进入所述第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；
用所述至少一个位移电机驱动所述第一黑体和第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向的反方向继续运动，使得所述第二黑体进入所述多个恒温箱中的第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围并且所述第一黑体进入所述第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围；
所述第一恒温箱中的所述一个红外探测器测试装置用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；
所述第二恒温箱中的所述一个红外探测器测试装置用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；
用所述至少一个位移电机驱动所述第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第二黑体依次进入所述第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述第一恒温箱中的所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；
用所述至少一个位移电机驱动所述第一黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第一黑体依次进入所述第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述第二恒温箱中的所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
一个实施例中，提供了一种非均匀性校正装置，其特征在于，包括：
多个恒温箱，所述多个恒温箱沿第一方向排列，其中每个恒温箱中设有多个红外探测器测试装置，所述多个红外探测器测试装置在其所属的恒温箱中沿第二方向排列，所述多个红外探测器测试装置中的每个红外探测器测试装置能够对一个或者多个红外探测器进行非均匀性校正；
位移电机平台，所述位移电机平台上设有多个黑体和至少一个位移电机，所述多个黑体具有不同的温度，并且在所述位移电机平台上沿所述第一方向排列，所述至少一个位移电机能够驱动所述多个黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向和所述第一方向的反方向以及沿所述第二方向和所述第二方向的反方向运动，并且所述多个黑体的运动路径经过所述多个红外探测器测试装置的探测范围。
一个实施例中，所述第一方向与所述第二方向相互垂直。
一个实施例中，所述第一黑体的温度小于所述第二黑体的温度。
一个实施例中，所述位移电机平台包括第一导轨和第二导轨，所述第一导轨沿所述第一方向延伸，所述第二导轨沿所述第二方向延伸，所述第二导轨设置在所述第一导轨上并能够相对于所述第一导轨在所述第一方向和所述第一方向的反方向上运动，所述多个黑体中的至少一部分设置在所述第二导轨上并且能够相对于所述第二导轨在所述第二方向和所述第二方向的反方向上运动。
本发明的实施例中，设有多个恒温箱以及多个不同温度的黑体，通过位移电机可以控制该多个黑体依次移动到每个恒温箱中的红外探测器测试装置的探测范围内，使得这些红外探测器测试装置能够依次使用多个黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正。这样，可以方便地实现每个红外探测器测试装置中的红外探测器的多点校正。而且，位移电机驱动多个黑体运动，多个黑体能够分别进入不同恒温箱的红外探测器测试装置或者同一个恒温箱中位于不同行的红外探测器测试装置的探测范围，这样在同一时刻，与黑体数量相应的数量的红外探测器测试装置能够同时工作，从而同一时刻能够对多个红外探测器进行非均匀性校正，而且无需手工调整每个黑体的位置。因此，可以极大地提高红外探测器非均匀性校正的效率，减少人力资源浪费。
附图说明
图1是本发明一个实施例的非均匀性校正装置的立体示意图。
图2是本发明一个实施例的非均匀性校正装置的俯视示意图。
具体实施方式
下面将结合附图详细说明本发明的实施例的非均匀性校正装置及使用该装置校正红外探测器的非均匀性的方法。
参考图1和图2，本发明的一个实施例中，一种用来校正红外探测器的非均匀性的装置可以包括多个恒温箱（例如，图1和图2中的101、102和103）、位移电机平台（例如，图1和图2中的2）和多个黑体（例如，图1和图2中的301、302和303）。
该多个恒温箱可以沿第一方向（例如，图1和图2中的箭头a所示的方向）排列。每个恒温箱中设有多个红外探测器测试装置（例如，图1和图2中的104）。该多个红外探测器测试装置在其所属的恒温箱中沿第二方向（例如，图1和图2中的箭头b所示的方向）排列。该多个红外探测器测试装置中的每个红外探测器测试装置能够对一个或者多个红外探测器进行非均匀性校正。恒温箱的数量可以根据实际情况需要设置，例如，可以设置为2个、3个、4个、5个、6个或者更多。在每个恒温箱中，可以包含沿该第二方向排列的一行红外探测器测试装置，也可以包含多行红外探测器测试装置。每行红外探测器测试装置的数量也可以根据需要设置。
位移电机平台2上可以设有多个黑体（例如，图1和图2中的301、302和303）和至少一个位移电机（图中未示出）。该多个黑体可以具有不同的温度，并且在位移电机平台2上沿前述的第一方向排列。该至少一个位移电机能够驱动该多个黑体在该位移电机平台2上沿前述的第一方向和该第一方向的反方向以及沿前述的第二方向和该第二方向的反方向运动，并且这些黑体的运动路径经过前述的多个红外探测器测试装置的探测范围。
位移电机平台2上的黑体的具体数量可以根据实际情况的需要（例如，需要的非均匀性校正的精确度或者采用的非均匀性校正方法，等等）设置，例如，可以设置2个、3个、4个、5个或者更多黑体。每个黑体的温度可以不相同。
位移电机平台2上设置的位移电机可以是常规的电机，比如步进电机或其他适合类型的电机。位移电机的数量可以根据实际情况设置。例如，可以设置一个位移电机，通过该一个电机驱动位移电机平台2上设置的所有黑体运动。或者，也可以为每个黑体分别单独设置一个位移电机。或者，也可以是位移电机平台2上设置的多个黑体中的一部分共用一个位移电机，而另一部分共用另一个位移电机。位移电机也可以根据实际情况的需要按照其他适合的方式设置。
一个实施例中，位移电机平台2可以包括第一导轨201和第二导轨202。第一导轨201沿前述的第一方向延伸。第二导轨202沿前述的第二方向延伸。第二导轨202设置在第一导轨201上并能够相对于该第一导轨201在第一方向和该第一方向的反方向上运动。前述的多个黑体设置在第二导轨202上并且能够相对于该第二导轨202在第二方向和该第二方向的反方向上运动。
第二导轨202与第一导轨201之间可以通过常用的运动副连接结构连接，例如滑轨-滑槽结构、齿轮-齿条结构、蜗轮-蜗杆结构或其他能够通过电机驱动第二导轨202相对于第一导轨201在第一导轨201的延伸方向上运动的结构。
每个黑体与第二导轨202之间可以通过常用的运动副连接结构连接，例如滑轨-滑槽结构、齿轮-齿条结构、蜗轮-蜗杆结构或其他能够通过电机驱动黑体相对于第二导轨202在第二导轨202的延伸方向上运动的结构。
第一导轨201可以是单个导轨，也可以是多个导轨。例如图1和图2的实施例中第一导轨201即包括两个导轨。
第二导轨202的数量也可以根据实际情况需要设置。例如，可以每个黑体分别单独设置一个第二导轨。或者，也可以多个黑体设置于同一个第二导轨上。
驱动第二导轨202相对于第一导轨201运动的位移电机和驱动黑体相对于第二导轨202运动的位移电机可以是相同的位移电机，也可以分别是不同的电机。
这里，所说的红外探测器测试装置的探测范围，是指红外探测器测试装置能够接收到黑体的辐照从而能够使用该黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正的空间范围。
本发明的实施例中，使用该非均匀性校正装置校正红外探测器的非均匀性的方法包括下述的各个步骤。
首先，可以用前述的至少一个位移电机驱动多个黑体中的第一黑体（例如，图1和图2中的301）和第二黑体（例如，图1和图2中的302）在位移电机平台2上沿前述的第一方向a运动，使得第一黑体301进入多个恒温箱中的第一恒温箱（例如，图1和图2中的101）中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围。然后，这个红外探测器测试装置用第一黑体301对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
然后，用前述的至少一个位移电机驱动第一黑体301在位移电机平台2上沿第二方向b和/或第二方向b的反方向运动，使得第一黑体301依次进入第一恒温箱101中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且该其余红外探测器测试装置依次使用第一黑体301对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
在第一恒温箱中设有多行红外探测器测试装置的情况下，位移电机可以驱动第一黑体和第二黑体沿第一方向继续运动，使得第一黑体进入第一恒温箱中的第二行红外探测器测试装置的探测范围，使该红外探测器测试装置使用第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正，然后驱动第一黑体在第二方向上运动，使第一黑体进入第二行红外探测器测试装置的其余红外探测器测试装置的探测范围，以供第二行的其余红外探测器测试装置使用第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
然后，用前述的至少一个位移电机驱动该第一黑体301和第二黑体302在位移电机平台2上沿第一方向a继续运动，使得第一黑体301进入前述多个恒温箱中的第二恒温箱（例如，图1和图2中的102）中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围并且第二黑体302进入第一恒温箱101中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围。此时，第二恒温箱102中的这一个红外探测器测试装置用第一黑体301对其内的红外探测器进行非均匀性校正，而同时第一恒温箱101中的这一个红外探测器测试装置用第二黑体302对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
然后，用前述的至少一个位移电机驱动第一黑体301在位移电机平台2上沿第二方向b和/或第二方向b的反方向运动，使得第一黑体301依次进入第二恒温箱102中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且第二恒温箱102中的其余红外探测器测试装置依次使用第一黑体301对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
同时，用前述的至少一个位移电机驱动第二黑体302在位移电机平台2上沿第二方向b和/或第二方向b的反方向运动，使得第二黑体302依次进入第一恒温箱101中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且第一恒温箱101中的其余红外探测器测试装置依次使用第二黑体302对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
前述的实施例中，所说的第一方向与第二方向可以相互垂直。一些实施例中，所说的第一方向与第二方向也可以是相交但不相互垂直。
一个实施例中，第一黑体的温度小于第二黑体的温度。例如，第一黑体可以具有第一温度，第二黑体可以具有第二温度，并且第一温度小于第二温度。
一个实施例中，在沿a方向的运动及校正过程完成之后，可以在相反的方向（即方向a的反方向）上进行类似的过程，如下文所述。
例如，一个实施例中，可以将第一黑体的温度调节为第二温度（即调节为原第二黑体的温度），并将第二黑体的温度调节为第一温度（即调节为原第一黑体的温度）。然后，用前述的至少一个位移电机驱动第一黑体301和第二黑体302在位移电机平台2上沿第一方向a的反方向运动，使得第二黑体302进入多个恒温箱中的第二恒温箱102中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围。此时，这一个红外探测器测试装置用第二黑体302对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
然后，用前述的至少一个位移电机驱动第二黑体302在位移电机平台2上沿第二方向b和/或第二方向b的反方向运动，使得第二黑体302依次进入第二恒温箱102中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且该其余红外探测器测试装置依次使用第二黑体302对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
然后，用前述的至少一个位移电机驱动第一黑体301和第二黑体302在位移电机平台2上沿第一方向a的反方向继续运动，使得第二黑体302进入多个恒温箱中的第一恒温箱101中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围并且第一黑体301进入第二恒温箱102中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围。此时，第一恒温箱101中的这一个红外探测器测试装置用第二黑体302对其内的红外探测器进行非均匀性校正，而第二恒温箱102中的这一个红外探测器测试装置用第一黑体301对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
然后，用前述的至少一个位移电机驱动第二黑体302在位移电机平台2上沿第二方向b和/或第二方向b的反方向运动，使得第二黑体302依次进入第一恒温箱101中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且第一恒温箱101中的其余红外探测器测试装置依次使用第二黑体302对其内的红外探测器进行非均匀性校正。同时，用至少一个位移电机驱动第一黑体301在位移电机平台2上沿第二方向b和/或第二方向b的反方向运动，使得第一黑体301依次进入第二恒温箱102中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且第二恒温箱102中的其余红外探测器测试装置依次使用第一黑体301对其内的红外探测器进行非均匀性校正。
前述的实施例中，红外探测器测试装置使用黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正的具体步骤可以是常用的非均匀性校正步骤，在此不再详述。
本发明的实施例中，设有多个恒温箱以及多个不同温度的黑体，通过位移电机可以控制该多个黑体依次移动到每个恒温箱中的红外探测器测试装置的探测范围内，使得这些红外探测器测试装置能够依次使用多个黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正。这样，可以方便地实现每个红外探测器测试装置中的红外探测器的多点校正。而且，位移电机驱动多个黑体运动，多个黑体能够分别进入不同恒温箱的红外探测器测试装置或者同一个恒温箱中位于不同行的红外探测器测试装置的探测范围，这样在同一时刻，与黑体数量相应的数量的红外探测器测试装置能够同时工作，从而同一时刻能够对多个红外探测器进行非均匀性校正，而且无需手工调整每个黑体的位置。因此，可以极大地提高红外探测器非均匀性校正的效率，减少人力资源浪费。
以上通过具体的实施例对本发明进行了说明，但本发明并不限于这些具体的实施例。本领域技术人员应该明白，还可以对本发明做各种修改、等同替换、变化等等，这些变换只要未背离本发明的精神，都应在本发明的保护范围之内。此外，以上多处所述的“一个实施例”表示不同的实施例，当然也可以将其全部或部分结合在一个实施例中。