一种检验灯组件的制作方法

本发明涉及检验检测技术领域，尤其涉及一种检验灯组件。

背景技术

当前，在利用检验灯组件检验待检测物体时，通常将待检测物体放置于治具上，将治具固定在检验灯组件的载板上，且一种检验灯组件的载板上仅能固定一种大小(尺寸)的治具。

但是目前的待检测物体有大有小，对应的治具也有大有小，因此现有的检验灯组件的通用性较差，无法满足可放置不同大小的治具的需求。

技术实现要素：

本发明实施例提供一种检验灯组件，以解决现有的检验灯组件的通用性较差的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例提供了一种检验灯组件，包括：

用于放置待检验物体的治具；

用于支撑所述治具的至少两个载板，所述至少两个载板中的每一个载板设有通孔，所述通孔处设置有直线轴承；

载板支撑单元，包括滑杆和调节轴承，所述滑杆通过所述调节轴承固定在所述检验灯组件的支撑架上，所述滑杆穿过所述每一个载板的通孔，通过所述每一个载板的通孔处的直线轴承能够使得所述每一个载板沿着所述滑杆的延伸方向滑动，以改变所述至少两个载板之间的间距；

第一发光单元，所述第一发光单元所发出的光用于检验所述待检验物体上的异物；

用于固定所述载板支撑单元和所述第一发光单元的所述支撑架。

可选的，所述调节轴承能够绕所述滑杆转动，通过所述调节轴承的转动能够改变所述每一个载板的抬升角度。

可选的，所述载板支撑单元还包括至少两个限位环和至少两个销钉，所述限位环与所述载板一一对应，所述销钉与所述限位环一一对应，所述限位环和所述销钉用于将对应的载板固定在所述滑杆上。

可选的，所述每一个载板上设置有至少两个第一磁铁，所述治具上设置有第二磁铁，所述第一磁铁和所述第二磁铁的极性相反，通过所述第一磁铁和所述第二磁铁的相吸能够使得所述至少两个载板中的至少一个载板支撑所述治具，通过选择不同的第一磁铁与所述第二磁铁相吸能够使得所述至少一个载板支撑所述治具的位置改变。

可选的，所述检验灯组件还包括固定在所述支撑架上的调节轴，所述第一发光单元固定在所述调节轴上，随着所述调节轴的转动能够使得所述第一发光单元的照射角度改变。

可选的，所述支撑架上设置有多个不同高度的调节孔，所述调节轴固定在所述调节孔上，通过选择不同高度的调节孔固定所述调节轴能够使得所述第一发光单元的照射高度改变。

可选的，所述检验灯组件还包括用于为所述第一发光单元提供电压的电控盒，所述电控盒包括磁感应开关，所述治具上设置有磁条，当所述磁条与所述磁感应开关接触时，熄灭所述第一发光单元，当所述磁条与所述磁感应开关分离时，点亮所述第一发光单元。

可选的，所述电控盒还包括避位区，所述磁感应开关设置于所述避位区处，用于当所述磁条与所述磁感应开关接触时，悬空所述磁条，使得所述治具平整放置在所述电控盒上。

可选的，所述治具包括压板，所述压板分别与设置在所述待检验物体上的第二发光单元和所述电控盒上的电源输出口连接，用于使得所述电控盒为所述第二发光单元供电，所述第二发光单元所发出的光用于照亮所述待检验物体，当所述磁条与所述磁感应开关接触时，点亮所述第二发光单元，当所述磁条与所述磁感应开关分离时，熄灭所述第一发光单元。

可选的，所述第一发光单元包括多个阵列排布的黄光led。

本发明实施例的检验灯组件，利用包括的至少两个载板和载板支撑单元，该至少两个载板用于放置治具，能够使得载板沿着滑杆的延伸方向滑动，改变该至少两个载板之间的间距，从而实现对不同大小的治具的放置，满足放置不同大小的治具的需求，增强通用性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的检验灯组件的整体结构示意图；

图2为本发明实施例提供的载板支撑单元的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的电控盒的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的治具的前面和反面的示意图；

图5为本发明实施例提供的治具的连接示意图；

图6为本发明实施例提供的待检验物体的组装示意图；

图7为本发明实施例提供的待检验物体的检验示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1至图7所示，本发明实施例提供了一种检验灯组件，包括用于放置待检验物体的治具11、用于支撑治具11的至少两个载板12(其中图1以包括两个载板12为例，但不以此为限)、载板支撑单元13、第一发光单元14和支撑架15。

其中，该至少两个载板12中的每一个载板12设有通孔121，该通孔121处设置有直线轴承122。

该载板支撑单元13包括滑杆131和调节轴承132，该滑杆131通过调节轴承132固定在支撑架15上，该滑杆131穿过每一个载板12的通孔121，通过每一个载板12的通孔121处的直线轴承122能够使得每一个载板12沿着滑杆131的延伸方向滑动，以改变该至少两个载板12之间的间距。这样，通过改变载板之间的间距，能够改变治具的放置位置，从而实现对不同大小(尺寸)的治具的放置，实现对不同大小的治具的通用。

该第一发光单元14所发出的光可用于检验待检验物体上的异物。可选的，该第一发光单元14包括多个阵列排布的黄光led，相比于其他颜色led，黄光led最有利于异物的检出。该支撑架15可用于固定载板支撑单元13和第一发光单元14。

本发明实施例的检验灯组件，利用包括的至少两个载板和载板支撑单元，该至少两个载板用于放置治具，能够使得载板沿着滑杆的延伸方向滑动，改变该至少两个载板之间的间距，从而实现对不同大小的治具的放置，满足放置不同大小的治具的需求，增强通用性。

本发明实施例中，可选的，该调节轴承132能够带动滑杆131转动，通过调节轴承132的转动能够改变每一个载板12的抬升角度，从而改变治具11的抬升角度，改变对应待检验物体的检验角度，有利于检验出异物。

进一步的参见图2所示，该载板支撑单元13还可包括至少两个限位环133和至少两个销钉134，该限位环133与该载板12一一对应，该销钉134与该限位环133一一对应，该限位环133和该销钉134用于将对应的载板12固定在滑杆131上，以限制载板12所在位置，防止载板12自由滑动。

本发明实施例中，参见图5所示，每一个载板12上可设置有至少两个第一磁铁123(其中图5以包括两个第一磁铁123为例，但不以此为限)，该治具11上可设置有第二磁铁111，比如参见图4所示，该第二磁铁111可设置在治具11的反面。其中，该第一磁铁123和该第二磁铁111的极性相反，通过该第一磁铁123和该第二磁铁111的相吸能够使得该至少两个载板12中的至少一个载板12支撑治具11，而通过选择不同的第一磁铁123与第二磁铁111相吸能够使得该至少一个载板12支撑治具11的位置改变。比如，在图5中，两个第一磁铁123可在对应载板12上前后设置，通过选择不同的第一磁铁123与第二磁铁111相吸能够改变治具的前后放置位置。

进一步的参见图1所示，该检验灯组件还可包括固定在支撑架15上的调节轴16，该第一发光单元14固定在该调节轴16上，随着调节轴16的转动能够使得第一发光单元14的照射角度改变，有利于从不同角度检验待检验物体中的异物。

进一步的参见图3所示，该支撑架15上可设置有多组不同高度的调节孔151，该调节轴16固定在该调节孔151上，通过选择不同高度的调节孔151固定调节轴16能够使得第一发光单元14的照射高度改变。

本发明实施例中，参见图1和图3所示，该检验灯组件还可包括用于为第一发光单元14提供电压的电控盒17，该第一发光单元14可通过电源线10与电控盒17相连。该电控盒17可包括磁感应开关171，该治具11上可设置有磁条112，比如参见图4所示，该磁条112可设置在治具11的反面，用于触发磁感应开关171。具体的，当磁条112与磁感应开关171接触时，可熄灭第一发光单元14，如图6所示，此时可对放置在治具11上的待检验物体进行组装，避免待检验物体受到第一发光单元14的干扰，有利于对待检验物体进行处理；而当磁条112与磁感应开关171分离时，可点亮第一发光单元14，如图7所示，此时可借助第一发光单元14所发出的光对待检验物体进行检验。可以理解的，这样借助磁条112与磁感应开关171是否接触来控制第一发光单元14的亮灭，能够简化关闭和开启第一发光单元14的过程，提升检验效率。

可以理解的，参见图3所示，该电控盒17还可包括开关组合单元172，该开关组合单元172可包括电源输入接口和电压处理单元，该电源输入接口可接入220v电源，配置开关控制单元，该电压处理单元可在电控盒17内对接入的电压进行低压处理，使得该电控盒17为第一发光单元14输出匹配电压。

进一步的参见图3所示，该电控盒17还可包括避位区173，该磁感应开关171设置于避位区173处，用于当磁条112与磁感应开关171接触时，悬空磁条112，使得治具11平整放置在电控盒17上，使得设置在治具11上的待检验物体更稳定，有利于对待检验物体的处理过程。

进一步的参见图4所示，该治具11可包括压板113，该压板113分别与设置在待检验物体上的第二发光单元(图未示)和电控盒17上的电源输出口174连接，用于使得该电控盒17为该第二发光单元供电，该第二发光单元所发出的光用于照亮待检验物体，以方便查看待检验物体是否组装到位及待检验物体中的异物，比如待检验物体为膜材时，查看膜材内的亮白点等。具体的，当磁条112与磁感应开关171接触时，可点亮第二发光单元，如图6所示，此时可借助第二发光单元所发出的光对放置在治具11上的待检验物体进行组装；而当磁条112与磁感应开关171分离时，可熄灭第二发光单元，如图7所示，此时点亮第一发光单元14和熄灭第二发光单元，有利于从不同角度检验待检验物体中的异物。

可以理解的，除了上述借助磁条112与磁感应开关171是否接触，来控制点亮第一发光单元14和熄灭第二发光单元，及熄灭第一发光单元14和点亮第二发光单元，实际应用中，根据实际需求，还可同时点亮第一发光单元14和第二发光单元，或者同时熄灭第一发光单元14和第二发光单元。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。