技术特征：
技术总结
本发明公开一种基于JTAG链路的电路板测试系统及测试方法，该系统包括：主控器、通用仪器设备、JTAG链路控制器、第一JTAG链路芯片及JTAG陪试工装；主控器向通用仪器设备、JTAG链路控制器发送测试指令，后两者根据测试指令生成激励信号并发送给被测电路板；JTAG链路控制器可直接将激励信号通过第一JTAG链路芯片发给被测电路板以激励其产生响应信号；或者，间接地将激励信号通过JTAG陪试工装发送给被测电路板以激励其产生响应信号；JTAG链路控制器将比对数字量激励信号及数字量响应信号后的结果发给主控器；通用仪器设备将被测电路板产生的模拟量响应信号发送给主控器；主控器根据比对结果、测试指令及模拟量响应信号判断被测电路板是否正常。
技术研发人员：杨光威;王霖;李水昌;马颖涛;徐晗;陶元之;赵雷廷
受保护的技术使用者：中国铁道科学研究院集团有限公司;北京纵横机电技术开发公司;中国铁道科学研究院机车车辆研究所
技术研发日：2018.05.30
技术公布日：2018.12.11