技术特征：
技术总结
本发明是一种考虑激励测试的诊断关系矩阵生成方法，用于产品有激励测试的故障诊断。本方法获取描述测试与激励关联关系的矩阵ET、获得描述激励源与故障可达关系的矩阵FE，根据矩阵ET和FE，获得描述激励测试与故障关联关系的矩阵FT1；根据故障和激励测试的信号流关系，建立描述故障与激励测试可达关系的矩阵FT2；通过矩阵FT1与FT2，得到描述故障与激励测试一阶相关性关系的矩阵De；建立描述故障与非激励测试一阶相关性关系的矩阵FT3；将De、FT3、ET通过合成计算，得到最后描述故障、测试、激励复合关系的矩阵D，根据D进行故障诊断。本发明方法降低了模型的复杂性和分析难度，有效支持包含激励测试的系统诊断。
技术研发人员：石君友;刘衎
受保护的技术使用者：北京航空航天大学
技术研发日：2018.06.11
技术公布日：2018.12.18